[發(fā)明專利]一種光電檢測用輔助校準裝置

在審

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• 申請日: 2019-12-20
• 公開（公告）號: CN113008523A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發(fā)明（設計）人: 張向陽;李曉博;王軍科
• 申請（專利權）人: 西安谷德電子科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 西安吉盛專利代理有限責任公司 61108
• 代理人: 趙嬌

本發(fā)明提供一種光電檢測用輔助校準裝置，涉及光電檢測領域。該光電檢測用輔助校準裝置包括底座，所述底座頂部設有校準座，所述校準座頂部設有支撐桿，所述支撐桿與校準座固定連接，所述支撐桿頂部設有第一積分球體，所述第一積分球體一側設有第二積分球體，所述第二積分球體一側開設有檢測窗，所述底座與校準座之間設有調節(jié)組件，所述第一積分球體外部設有卡接機構。該光電檢測用輔助校準裝置通過多組卡接機構可以穩(wěn)定的卡緊第一積分球體和第二積分球體，通過設置卡接機構，可以使操作人員對第一積分球體和第二積分球體的結合操作十分快捷、方便，有利于節(jié)省操作時間，減小操作工序，提高經(jīng)濟效益，加快檢測的進程。

技術領域

本發(fā)明涉及光電檢測技術領域，具體為一種光電檢測用輔助校準裝置。

背景技術

發(fā)光二極管在生產(chǎn)時，每個生產(chǎn)廠家都需要對生產(chǎn)的LED進行光電測試，光電測試是檢驗LED光電性能的重要而且唯一的手段，在進行檢測時，一般需要對檢測設備進行校準，這是需要用到校準裝置。

傳統(tǒng)的光電檢測用輔助校準裝置在實際使用的過程中，由于測試用的積分球體是由兩個半球體組裝而成，在對半球體組裝時，需要耽誤大量的檢測時間，是檢測實驗的準備工作時間較長，造成檢測人員疲憊，不利于開展檢測工作。

發(fā)明內容

（一）解決的技術問題

針對現(xiàn)有技術的不足，本發(fā)明提供了一種光電檢測用輔助校準裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

（二）技術方案

為實現(xiàn)以上目的，本發(fā)明通過以下技術方案予以實現(xiàn)：一種光電檢測用輔助校準裝置，包括底座，所述底座頂部設有校準座，所述校準座頂部設有支撐桿，所述支撐桿與校準座固定連接，所述支撐桿頂部設有第一積分球體，所述第一積分球體一側設有第二積分球體，所述第二積分球體一側開設有檢測窗，所述底座與校準座之間設有調節(jié)組件，所述第一積分球體外部設有卡接機構；

所述調節(jié)組件包括調節(jié)螺栓和回位彈簧，所述調節(jié)螺栓設在校準座頂部，所述調節(jié)螺栓底端貫穿校準座，所述調節(jié)螺栓底端與底座設置為螺紋連接，所述回位彈簧套設在調節(jié)螺栓外部，所述回位彈簧頂部與校準座底部相接觸，所述回位彈簧底部與底座頂部接觸；

所述卡接機構包括卡環(huán)，所述卡環(huán)一側設有拉頭，所述卡環(huán)上嵌設有圓筒，所述圓筒內部設有拉桿，所述圓筒內部設有擋板，所述 擋板與拉桿固定套接，所述擋板一側設有復位彈簧，所述復位彈簧與拉桿活動套接，所述復位彈簧一端與擋板相接觸，所述復位彈簧另一端與圓筒一側壁相接觸，所述拉桿另一端開設有擋板，所述擋板為長方形。

優(yōu)選的，所述支撐桿設置為三個，三個所述支撐桿頂部形成支撐結構。

優(yōu)選的，所述第一積分球體與第二積分球體形成球形，所述支撐桿頂部與第一積分球體和第二積分球體相接觸。

優(yōu)選的，所述調節(jié)組件的數(shù)量設置為不少于三組，多組所述調節(jié)機構相對于校準座呈環(huán)形陣列分布。

優(yōu)選的，所述拉桿一端穿過圓筒延伸至卡環(huán)一側，所述拉桿另一端穿過圓筒延伸至卡環(huán)另一側，所述拉桿與拉頭固定連接。

優(yōu)選的，所述卡槽內部設有墊塊，所述墊塊與拉桿固定連接，所述墊塊的數(shù)量設置為多個，多個所述墊塊相對于拉桿的水平中心線對稱分布，所述墊塊與第一積分球體和第二積分球體相接觸。

優(yōu)選的，所述卡接機構的數(shù)量設置為不少于兩組，多組所述卡接機構相對于卡環(huán)呈環(huán)形陣列分布。

本發(fā)明提供了一種光電檢測用輔助校準裝置，其具備的有益效果如下：

1、該光電檢測用輔助校準裝置操作人員可以通過多組卡接機構可以穩(wěn)定的卡緊第一積分球體和第二積分球體，通過設置卡接機構，可以使操作人員對第一積分球體和第二積分球體的結合操作十分快捷、方便，有利于節(jié)省操作時間，減小操作工序，提高經(jīng)濟效益，加快檢測的進程。