[發(fā)明專利]一種光電檢測(cè)用輔助校準(zhǔn)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911322132.5 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113008523A | 公開(公告)日: | 2021-06-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張向陽(yáng);李曉博;王軍科 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安谷德電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01M11/02 | 分類號(hào): | G01M11/02 |
| 代理公司: | 西安吉盛專利代理有限責(zé)任公司 61108 | 代理人: | 趙嬌 |
| 地址: | 710077 陜西省西安市雁塔區(qū)高*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光電 檢測(cè) 輔助 校準(zhǔn) 裝置 | ||
1.一種光電檢測(cè)用輔助校準(zhǔn)裝置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)頂部設(shè)有校準(zhǔn)座(2),所述校準(zhǔn)座(2)頂部設(shè)有支撐桿(3),所述支撐桿(3)與校準(zhǔn)座(2)固定連接,所述支撐桿(3)頂部設(shè)有第一積分球體(4),所述第一積分球體(4)一側(cè)設(shè)有第二積分球體(5),所述第二積分球體(5)一側(cè)開設(shè)有檢測(cè)窗(6),所述底座(1)與校準(zhǔn)座(2)之間設(shè)有調(diào)節(jié)組件,所述第一積分球體(4)外部設(shè)有卡接機(jī)構(gòu);
所述調(diào)節(jié)組件包括調(diào)節(jié)螺栓(7)和回位彈簧(8),所述調(diào)節(jié)螺栓(7)設(shè)在校準(zhǔn)座(2)頂部,所述調(diào)節(jié)螺栓(7)底端貫穿校準(zhǔn)座(2),所述調(diào)節(jié)螺栓(7)底端與底座(1)設(shè)置為螺紋連接,所述回位彈簧(8)套設(shè)在調(diào)節(jié)螺栓(7)外部,所述回位彈簧(8)頂部與校準(zhǔn)座(2)底部相接觸,所述回位彈簧(8)底部與底座(1)頂部接觸;
所述卡接機(jī)構(gòu)包括卡環(huán)(9),所述卡環(huán)(9)一側(cè)設(shè)有拉頭(10),所述卡環(huán)(9)上嵌設(shè)有圓筒(11),所述圓筒(11)內(nèi)部設(shè)有拉桿(12),所述圓筒(11)內(nèi)部設(shè)有擋板(13),所述 擋板(13)與拉桿(12)固定套接,所述擋板(13)一側(cè)設(shè)有復(fù)位彈簧(14),所述復(fù)位彈簧(14)與拉桿(12)活動(dòng)套接,所述復(fù)位彈簧(14)一端與擋板(13)相接觸,所述復(fù)位彈簧(14)另一端與圓筒(11)一側(cè)壁相接觸,所述拉桿(12)另一端開設(shè)有擋板(13),所述擋板(13)為長(zhǎng)方形。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電檢測(cè)用輔助校準(zhǔn)裝置,其特征在于:所述支撐桿(3)設(shè)置為三個(gè),三個(gè)所述支撐桿(3)頂部形成支撐結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電檢測(cè)用輔助校準(zhǔn)裝置,其特征在于:所述第一積分球體(4)與第二積分球體(5)形成球形,所述支撐桿(3)頂部與第一積分球體(4)和第二積分球體(5)相接觸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電檢測(cè)用輔助校準(zhǔn)裝置,其特征在于:所述調(diào)節(jié)組件的數(shù)量設(shè)置為不少于三組,多組所述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)相對(duì)于校準(zhǔn)座(2)呈環(huán)形陣列分布。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電檢測(cè)用輔助校準(zhǔn)裝置,其特征在于:所述拉桿(12)一端穿過(guò)圓筒(11)延伸至卡環(huán)(9)一側(cè),所述拉桿(12)另一端穿過(guò)圓筒(11)延伸至卡環(huán)(9)另一側(cè),所述拉桿(12)與拉頭(10)固定連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電檢測(cè)用輔助校準(zhǔn)裝置,其特征在于:所述卡槽(15)內(nèi)部設(shè)有墊塊,所述墊塊與拉桿(12)固定連接,所述墊塊的數(shù)量設(shè)置為多個(gè),多個(gè)所述墊塊相對(duì)于拉桿(12)的水平中心線對(duì)稱分布,所述墊塊與第一積分球體(4)和第二積分球體(5)相接觸。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電檢測(cè)用輔助校準(zhǔn)裝置,其特征在于:所述卡接機(jī)構(gòu)的數(shù)量設(shè)置為不少于兩組,多組所述卡接機(jī)構(gòu)相對(duì)于卡環(huán)(9)呈環(huán)形陣列分布。
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