[發明專利]電路板智能檢測方法、裝置、系統及存儲介質

在審

• 申請號: 201911316256.2
• 申請日: 2019-12-19
• 公開（公告）號: CN113009311A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 張孟筑;邱奕華;李駿宏
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密電子（天津）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 饒婕;薛曉偉

1.一種電路板智能檢測方法，包括：

在偵測到設定指令時，根據歷史檢測數據和決策指標設定檢測參數；其中，所述檢測參數包括目標物體總數、第一良率閾值及第二良率閾值；

在偵測到第一檢測指令時，獲取第一數量的目標物體并執行全面檢測，并根據所述第一數量的目標物體對應的檢測結果統計第一良率；其中，所述第一數量小于所述目標物體總數；

在偵測到第一比較指令時，判斷所述第一良率是否小于所述第一良率閾值；

在所述第一良率大于等于所述第一良率閾值時，獲取第二數量的目標物體并執行全面檢測，并根據所述第二數量的目標物體對應的檢測結果統計第二良率；其中，所述第二數量小于所述目標物體總數；

在偵測到第二比較指令時判斷所述第二良率是否小于所述第二良率閾值；

在所述第二良率大于等于所述第二良率閾值時，將剩余的目標物體執行抽樣檢測。

2.如權利要求1所述的電路板智能檢測方法，其特征在于，所述檢測參數還包括第三良率閾值；所述電路板智能檢測方法還包括：

根據所述剩余的目標物體的檢測結果統計第三良率；

判斷所述第三良率是否小于所述第三良率閾值；

在所述第三良率小于所述第三良率閾值時，對執行抽樣檢測的所述目標物體執行全面檢測。

3.如權利要求1所述的電路板智能檢測方法，其特征在于，所述第二數量為通過基于所述第一良率建立指定函數得出。

4.如權利要求1所述的電路板智能檢測方法，其特征在于，所述全面檢測包括多個測試項目；其中，所述多個測試項目包括至少一個必檢項目和多個可刪減項目；所述抽樣檢測為從剩余的所述目標物體中的抽取部分并執行所述至少一個必檢項目并選擇性地執行部分所述可刪減項目。

5.如權利要求1所述的電路板智能檢測方法，其特征在于，所述電路板智能檢測方法還包括：

在所述第一良率小于所述第一良率閾值或在所述第二良率小于所述第二良率閾值時，對所述剩余的目標物體執行全面檢測。

6.如權利要求1所述的電路板智能檢測方法，其特征在于，所述電路板智能檢測方法包括多個決策指標和多組歷史檢測數據；每個所述決策指標對應多組所述歷史檢測數據；其中，每個所述決策指標中的最小數值對應的所述歷史檢測數據為優選檢測數據；所述歷史檢測數據包括歷史目標物體總數、基準全面檢測數量以及剩余檢測數量；所述電路板智能檢測方法還包括：

根據用戶的輸入從多個決策指標中選擇一個作為目標決策指標；

獲取目標決策指標對應的歷史目標物體總數作為目標物體總數，并獲取目標決策指標對應的歷史基準全面檢測數量作為基準全面檢測數量；

設定第一良率閾值、第二良率閾值以及第三良率閾值。

7.一種電路板智能檢測裝置，包括：

設定模塊，用于在偵測到設定指令時根據歷史檢測數據和決策指標設定檢測參數；其中，所述檢測參數包括目標物體總數、第一良率閾值及第二良率閾值；

第一檢測模塊，用于在偵測到第一檢測指令時獲取第一數量的目標物體并執行全面檢測，并根據所述第一數量的目標物體對應的檢測結果統計第一良率；其中，所述第一數量小于所述目標物體總數；

第一比較模塊，用于在偵測到第一比較指令時判斷所述第一良率是否小于所述第一良率閾值；

第二檢測模塊，用于在所述第一良率大于等于所述第一良率閾值時獲取第二數量的目標物體并執行全面檢測，并根據所述第二數量的目標物體對應的檢測結果統計第二良率；其中，所述第二數量小于所述目標物體總數；

第二比較模塊，在偵測到第二比較指令時判斷所述第二良率是否小于所述第二良率閾值；以及

第三檢測模塊，用于在所述第二良率大于等于所述第二良率閾值時，將剩余的目標物體執行抽樣檢測。