[發(fā)明專利]儲氫設(shè)備中氫氣溫度的獲取、裝置及電子設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911315072.4
• 申請日: 2019-12-19
• 公開（公告）號: CN113013448B
• 公開（公告）日: 2022-08-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 仁爵·扎卡里亞;劉冬明
• 申請（專利權(quán)）人: 未勢能源科技有限公司
• 主分類號: H01M8/0432
• 分類號: H01M8/0432;G01K7/22
• 代理公司: 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 付文虹

1.一種儲氫設(shè)備中氫氣溫度的獲取方法，其特征在于，包括：

獲取儲氫設(shè)備中熱敏電阻的溫度變化曲線；

獲取預(yù)設(shè)時間間隔內(nèi)所述溫度變化曲線的第一截距；

其中，對該部分的溫度變化曲線進(jìn)行線性擬合，獲取擬合直線的截距，并標(biāo)記為所述第一截距；

根據(jù)所述第一截距，獲取所述儲氫設(shè)備中氫氣的目標(biāo)溫度；

所述根據(jù)所述第一截距，獲取所述儲氫設(shè)備中氫氣的目標(biāo)溫度，包括：

以所述第一截距為查詢條件，查詢截距與溫度之間的映射關(guān)系，得到與所述第一截距對應(yīng)的溫度作為所述目標(biāo)溫度；

所述第一截距為溫度截距。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取儲氫設(shè)備中熱敏電阻的溫度變化曲線，包括：

持續(xù)獲取所述熱敏電阻的檢測溫度，根據(jù)所述檢測溫度和檢測時刻，形成所述熱敏電阻的溫度變化曲線。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取儲氫設(shè)備中熱敏電阻的溫度變化曲線之前，還包括：

同步采集所述熱敏電阻的溫度和溫度傳感器的溫度，基于所述熱敏電阻的溫度形成所述熱敏電阻的溫度變化曲線，以及基于所述溫度傳感器的溫度，形成所述溫度傳感器的溫度變化曲線；

基于所述熱敏電阻的溫度變化曲線和所述溫度傳感器的溫度變化曲線，構(gòu)建截距與溫度之間的映射關(guān)系。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述獲取所述儲氫設(shè)備中氫氣的目標(biāo)溫度之后，還包括：

識別所述目標(biāo)溫度是否達(dá)到預(yù)設(shè)溫度，如果所述目標(biāo)溫度達(dá)到所述預(yù)設(shè)溫度，則停止向所述儲氫設(shè)備中繼續(xù)加氫；

如果所述目標(biāo)溫度未達(dá)到所述預(yù)設(shè)溫度，則向所述儲氫設(shè)備中繼續(xù)加氫。

5.一種儲氫設(shè)備中氫氣溫度的獲取裝置，其特征在于，包括：

第一獲取模塊，用于獲取儲氫設(shè)備中熱敏電阻的溫度變化曲線；

第二獲取模塊，用于獲取預(yù)設(shè)時間間隔內(nèi)所述溫度變化曲線的第一截距；

第三獲取模塊，用于根據(jù)所述第一截距，獲取所述儲氫設(shè)備中氫氣的目標(biāo)溫度；

其中，對該部分的溫度變化曲線進(jìn)行線性擬合，獲取擬合直線的截距，并標(biāo)記為所述第一截距；

根據(jù)所述第一截距，獲取所述儲氫設(shè)備中氫氣的目標(biāo)溫度，包括：

以所述第一截距為查詢條件，查詢截距與溫度之間的映射關(guān)系，得到與所述第一截距對應(yīng)的溫度作為所述目標(biāo)溫度；

所述第一截距為溫度截距。

6.一種儲氫設(shè)備，其特征在于，包括本體、氫氣容納腔和如權(quán)利要求5所述的儲氫設(shè)備中氫氣溫度的獲取裝置。

7.一種車輛，其特征在于，包括如權(quán)利要求6所述的儲氫設(shè)備。

8.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括存儲器和處理器；

其中，所述處理器通過讀取所述存儲器中存儲的可執(zhí)行程序代碼來運(yùn)行與所述可執(zhí)行程序代碼對應(yīng)的程序，以用于實現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一項所述的儲氫設(shè)備中氫氣溫度的獲取方法。

9.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一項所述的儲氫設(shè)備中氫氣溫度的獲取方法。