[發(fā)明專(zhuān)利]一種新型的GPP芯片藍(lán)膜加工方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911303878.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111092045A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周榮;廖智煒;李英男;王林;王毅 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 揚(yáng)州杰利半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/683 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/683;H01L21/78;B23K26/38;B23K26/402 |
| 代理公司: | 揚(yáng)州市蘇為知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32283 | 代理人: | 周全;郭翔 |
| 地址: | 225008 江蘇省揚(yáng)州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 新型 gpp 芯片 加工 方法 | ||
1.一種新型的GPP芯片藍(lán)膜加工方法,其特征在于,包括以下步驟:
1.1)激光半切穿;
將晶圓沿蝕刻道半切穿,切割速度為100-300mm/s,切割頻率為30-90Khz,切割功率為75%±15%,切割深度1/4-2/3,切割痕寬度為20um-60um;
1.2)壓片,將已經(jīng)半切穿的晶圓沿著切割痕裂成一顆顆散粒;
在晶片P/N兩面涂抹IPA保護(hù)溶液,在P/N兩面蓋上裂片保護(hù)膜,使用尼龍滾棒沿著半切穿痕將晶圓裂成一顆顆散粒;
1.3)N面揭裂片保護(hù)膜;
將菲林版的N面揭開(kāi),使晶粒P面整齊排布在菲林版的P面上,并晾干;
1.4)貼藍(lán)膜;
將晶粒N面貼在藍(lán)膜上,揭開(kāi)P面菲林版,得到成品激光切割藍(lán)膜出貨產(chǎn)品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型的GPP芯片藍(lán)膜加工方法,其特征在于,將晶圓沿蝕刻道半切穿,切割速度為100mm/s,切割頻率為30Khz,切割功率為60%,切割深度為晶圓的1/4,切割痕寬度為60um。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型的GPP芯片藍(lán)膜加工方法,其特征在于,將晶圓沿蝕刻道半切穿,切割速度為200mm/s,切割頻率為60Khz,切割功率為75%,切割深度為晶圓的1/2,切割痕寬度為40um。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型的GPP芯片藍(lán)膜加工方法,其特征在于,將晶圓沿蝕刻道半切穿,切割速度為300mm/s,切割頻率為90Khz,切割功率為90%,切割深度為晶圓的2/3,切割痕寬度為20um。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型的GPP芯片藍(lán)膜加工方法,其特征在于,步驟1.3)中的晾干時(shí)間為10min。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





