[發明專利]一種相位噪聲測量探頭電路有效
| 申請號: | 201911295339.8 | 申請日: | 2019-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN111130660B | 公開(公告)日: | 2022-04-19 |
| 發明(設計)人: | 楊作軍;張濤 | 申請(專利權)人: | 天津津航計算技術研究所 |
| 主分類號: | H04B17/20 | 分類號: | H04B17/20 |
| 代理公司: | 中國兵器工業集團公司專利中心 11011 | 代理人: | 劉二格 |
| 地址: | 300308 天津*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 相位 噪聲 測量 探頭 電路 | ||
本發明公開了一種相位噪聲測量探頭電路,被測信號S(t)和參考信號R(t)分別輸入等幅等相功分模塊,等幅等相功分處理后得到被測信號S(t)、S’(t)和參考信號R(t)、R’(t),被測信號S(t)和參考信號R(t)、被測信號S’(t)和參考信號R’(t)各進入一個ADC?Pre量化采集預處理模塊得到相位參量φS和φR,兩組相位參量分別送入一個差模相位參量DFT處理模塊得到φS?φR和φ’S?φ’R的DFT信號,進一步經互相關運算模塊對其進行互相關運算后得噪聲譜估計,由此得被測信號的相位噪聲譜。本發明通過采用ADC?Pre量化采集預處理模塊和差模相位參量DFT處理模塊相結合,獲得被測信號的相位噪聲譜,從而提高測量精度。
技術領域
本發明屬于信號測量技術領域,涉及一種相位噪聲測量探頭電路。
背景技術
相位噪聲指標對于當前的射頻微波系統、移動通信系統、雷達系統等電子系統影響非常明顯,將直接影響系統指標的優劣。該項指標對于系統的研發、設計均具有指導性意義。
相位噪聲好壞對通信系統有很大影響,尤其現代通信系統中狀態很多,頻道又很密集,并且不斷的變換,所以對相位噪聲的要求也愈來愈高。如果本振信號的相位噪聲較差,會增加通信中的誤碼率,影響載頻跟蹤精度。相位噪聲不好,不僅增加誤碼率、影響載頻跟蹤精度,還影響通信接收機信道內、外性能測量,相位噪聲對鄰近頻道選擇性有影響。如何能夠精準的測量信號相位噪聲是射頻微波領域的一項重要任務。
發明內容
(一)發明目的
本發明的目的是:提供一種相位噪聲測量探頭電路,隨著當前接收機相位噪聲指標越來越高,能夠精準的測量信號相位噪聲。
(二)技術方案
為了解決上述技術問題,本發明提供一種相位噪聲測量探頭電路,其包括:兩個等幅等相功分模塊、兩個ADC-Pre量化采集預處理模塊、兩個差模相位參量DFT處理模塊和互相關運算模塊;被測信號S(t)和參考信號R(t)分別輸入一個等幅等相功分模塊,進行等幅等相功分處理后得到被測信號S(t)、S’(t)和參考信號R(t)、R’(t),被測信號S(t)和參考信號R(t)進入一個ADC-Pre量化采集預處理模塊得到相位參量φS和φR,,被測信號S’(t)和參考信號R’(t)進入一個ADC-Pre量化采集預處理模塊相位參量φ’S和φ’R,兩組相位參量分別送入一個差模相位參量DFT處理模塊得到φS-φR和φ’S-φ’R的DFT信號,進一步經互相關運算模塊對其進行互相關運算后得噪聲譜估計,由此得被測信號的相位噪聲譜。
其中,所述被測信號S(t)、參考信號R(t)輸入至ADC-Pre量化采集預處理模塊,由ADC-Pre量化采樣完成模擬信號數字量化,被測信號S(t)經正交數字下變頻以及低通濾波器處理后輸出信號QS(t)和IS(t),參考信號R(t)經正交數字下變頻以及低通濾波器處理后輸出信號QR(t)和IR(t),對信號QS(t)和IS(t)以及QR(t)和IR(t)分別取反正切arctan和最小二乘LSE計算處理后得到相位參量φS和φR。
其中,所述被測信號為:
S(t)=sin(ωt+φS+φADCS);
ω:信號S(t)的角頻率;
φS:信號S(t)的相位參數;
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