[發明專利]一種相位噪聲測量探頭電路有效
| 申請號: | 201911295339.8 | 申請日: | 2019-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN111130660B | 公開(公告)日: | 2022-04-19 |
| 發明(設計)人: | 楊作軍;張濤 | 申請(專利權)人: | 天津津航計算技術研究所 |
| 主分類號: | H04B17/20 | 分類號: | H04B17/20 |
| 代理公司: | 中國兵器工業集團公司專利中心 11011 | 代理人: | 劉二格 |
| 地址: | 300308 天津*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 相位 噪聲 測量 探頭 電路 | ||
1.一種相位噪聲測量探頭電路,其特征在于,包括:兩個等幅等相功分模塊、兩個ADC-Pre量化采集預處理模塊、兩個差模相位參量DFT處理模塊和互相關運算模塊;被測信號S(t)和參考信號R(t)分別輸入一個等幅等相功分模塊,進行等幅等相功分處理后得到被測信號S(t)、S’(t)和參考信號R(t)、R’(t),被測信號S(t)和參考信號R(t)進入一個ADC-Pre量化采集預處理模塊得到相位參量φS和φR,被測信號S’(t)和參考信號R’(t)進入一個ADC-Pre量化采集預處理模塊相位參量φ’S和φ’R,兩組相位參量分別送入一個差模相位參量DFT處理模塊得到φS-φR和φ’S-φ’R的DFT信號,進一步經互相關運算模塊對其進行互相關運算后得噪聲譜估計,由此得被測信號的相位噪聲譜;
所述被測信號S(t)、參考信號R(t)輸入至ADC-Pre量化采集預處理模塊,由ADC-Pre量化采樣完成模擬信號數字量化,被測信號S(t)經正交數字下變頻以及低通濾波器處理后輸出信號QS(t)和IS(t),參考信號R(t)經正交數字下變頻以及低通濾波器處理后輸出信號QR(t)和IR(t),對信號QS(t)和IS(t)以及QR(t)和IR(t)分別取反正切arctan和最小二乘LSE計算處理后得到相位參量ΦS和φR。
2.如權利要求1所述的相位噪聲測量探頭電路,其特征在于,所述被測信號為:
S(t)=sin(ωt+φS+φADCS);
ω:信號S(t)的角頻率;
φS:信號S(t)的相位參數;
φADCS:信號S(t)經ADC量化采樣后引入的相位參數變量;
DDS_S(0)=sin(ω’t+φCLK);
DDS_S(90)=cos(ω’t+φCLK);
ω’:信號DDS_S(0)和DDS_S(90)的角頻率;
φCLK:同源信號DDS_S(0)和DDS_S(90)以及DDS_R(0)和DDS_R(90)的固有相位參數;
QS(t)=cos((ω-ω’)t+φS-φCLK+φADCS);
IS(t)=sin((ω-ω’)t+φS-φCLK+φADCS);
3.如權利要求2所述的相位噪聲測量探頭電路,其特征在于,所述參考信號為:
信號R(t)的角頻率;
φR:信號R(t)的相位參數;
φADCR:信號R(t)經ADC量化采樣后引入的相位參數變量;
信號DDS_R(0)和DDS_R(90)的角頻率;
φCLK:同源信號DDS_S(0)和DDS_S(90)以及DDS_R(0)和DDS_R(90)的固有相位參數;
φR=φR-φCLK+φADCR。
4.如權利要求3所述的相位噪聲測量探頭電路,其特征在于,所述ADC-Pre量化采集預處理模塊輸出的相位參量φS和φR,經減法器得到二者差模信號,對φS-φR進行DFT處理,其中φS-φR如下表述:
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