[發明專利]一種DD6單晶合金中難熔元素的分析方法有效
| 申請號: | 201911262740.1 | 申請日: | 2019-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN110865070B | 公開(公告)日: | 2022-09-02 |
| 發明(設計)人: | 馮典英;朱天一;李穎;李本濤;黃輝;鞏琛;萬曉東;荀其寧;劉霞 | 申請(專利權)人: | 山東非金屬材料研究所 |
| 主分類號: | G01N21/73 | 分類號: | G01N21/73;G01N1/38;G01N1/44 |
| 代理公司: | 濟南舜源專利事務所有限公司 37205 | 代理人: | 苗峻;趙斌 |
| 地址: | 250031 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 dd6 合金 中難熔 元素 分析 方法 | ||
本發明涉及冶金分析技術領域,尤其涉及一種DD6單晶合金中難熔元素的分析方法,包括以下步驟:(1)用一定比例鹽酸?硝酸?氫氟酸混合酸作為消解劑、以過氧化氫作為氧化劑、以酒石酸作為絡合劑對單晶合金樣品進行前處理,得到樣品待測液;(2)配制Ni元素基底的W、Ta、Hf、Re元素和空白標準溶液系列;(3)將標準溶液利用ICP?OES進行測定,得到信號強度與各元素濃度的校準曲線;(4)利用ICP?OES,測定樣品待測液,結合校準曲線,得到樣品待測液中的W、Ta、Hf、Re元素含量,進而換算出單晶合金中的W、Ta、Hf、Re元素的含量。該分析方法分析周期短,成本低,準確度高,精密度好。
技術領域
本發明涉及冶金分析技術領域,尤其涉及一種DD6單晶合金中難熔元素的分析方法。
背景技術
高溫合金是指在一定應力和600℃以上高溫的共同作用下能長期穩定工作的一類金屬材料,它通常以鐵、鎳或鈷為基體元素。而單晶高溫合金在此基礎上進行了改良,加入W、Ta、Hf、Re等難熔元素,從而消除了晶界使得合金強度大幅度提高,廣泛應用于先進航空發動機、燃氣輪機的渦輪葉片等核心部件。DD6單晶合金作為我國第二代單晶高溫合金,為確保其質量控制,準確測定其中的難熔元素含量具有重要意義。
目前對于DD6單晶合金中元素的分析,我國沒有相應的國家標準,另由于技術封鎖,國外標準隱去了難熔元素部分,目前科研工作中多采取化學法、XRF法、吸收光譜法、熒光光譜法等分析方法,其中存在如下缺陷:化學法步驟繁瑣,耗時耗力,復現性差;XRF法準確度較低,缺少相關標準物質;吸收光譜法由于一次只能測一個元素導致檢測流程過長;熒光光譜法僅適用熒光譜線介于200~290nm之間的元素等問題。而對DD6單晶合金中元素,尤其是難熔元素的研究鮮有報道。
因此能否提供一種DD6單晶合金中難熔元素的分析方法來填補我國的相關技術空白,成為本領域技術人員亟待解決的問題之一。
發明內容
本發明針對現有技術存在的空白之處,提供了一種DD6單晶合金中難熔元素的分析方法,包括以下步驟:(1)用一定比例鹽酸-硝酸-氫氟酸混合酸作為消解劑、以過氧化氫作為氧化劑、以酒石酸作為絡合劑對單晶合金樣品進行前處理,得到樣品待測液;(2)配制Ni元素基底的W、Ta、Hf、Re元素和空白標準溶液系列;(3)將標準溶液利用ICP-OES進行測定,得到信號強度與各元素濃度的校準曲線;(4)利用ICP-OES,測定樣品待測液,結合校準曲線,得到樣品待測液中的W、Ta、Hf、Re元素含量,進而換算出單晶合金中的W、Ta、Hf、Re元素的含量;該分析方法分析周期短,成本低,準確度高,精密度好。
鑒于現有技術的缺點,本發明的目的是:提出一種周期短,成本低,準確度高,精密度好的測定DD6單晶合金中W、Ta、Hf、Re等難熔元素的方法。
本發明提供的DD6單晶合金中難熔元素的分析方法,用以分析W、Ta、Hf、Re元素中的一種或多種,包括以下步驟:
(1)用一定比例鹽酸-硝酸-氫氟酸混合酸作為消解劑、以過氧化氫作為氧化劑、以酒石酸作為絡合劑對DD6單晶合金樣品進行前處理,得到樣品待測液。
(2)配制Ni元素基底的W、Ta、Hf、Re元素和空白標準溶液系列。
(3)將步驟(2)配制的標準溶液,利用ICP-OES進行測定,得到信號強度與各元素濃度的校準曲線。
(4)利用ICP-OES,測定步驟(2)得到的樣品待測液,結合步驟(3)得到的校準曲線,得到樣品待測液中的W、Ta、Hf、Re元素含量,進而換算出DD6單晶合金中的W、Ta、Hf、Re元素的含量。
具體的按照每0.1g DD6單晶合金樣品進行前處理時,相關試劑用量如下:
消解劑組成:鹽酸的用量為8-12mL,硝酸的用量為1-3mL,氫氟酸的用量為0.5-1.5mL;
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