[發明專利]運算放大器的測試電路、測試方法以及測試裝置

有效

• 申請號: 201911253375.8
• 申請日: 2019-12-09
• 公開（公告）號: CN113030689B
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發明（設計）人: 王鴻儒
• 申請（專利權）人: 圣邦微電子（北京）股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449
• 代理人: 李鎮江

本申請公開了一種運算放大器的測試電路、測試方法以及測試裝置，測試電路包括第一測試模塊、第二測試模塊和處理模塊，當分別在第一測試模塊和第二測試模塊施加不同的第一測試電壓和第二測試電壓時，第一測試模塊和第二測試模塊分別向處理模塊提供不同的第一輸出電壓和第二輸出電壓，處理模塊根據第一測試電壓和第二測試電壓的變化量以及第一輸出電壓和第二輸出電壓的變化量可得到被測運算放大器的差模輸入電阻，可以提高測試精度和測試速度，降低測試成本。

技術領域

本發明涉及集成電路測試技術領域，更具體地涉及一種運算放大器的測試電路、測試方法以及測試裝置。

背景技術

運算放大器是一種具有很高放大倍數的電路單元，在實際電路中通常結合反饋網絡共同組成某種功能模塊。運算放大器的差模輸入電阻(Input?Resistance)是指當運算放大器工作在線性區時，其兩個輸入端的電壓變化量與對應的輸入端電流變化量的比值，差模輸入電阻對運算放大器的運算精度具有很大影響。隨著運算放大器的發展，對運算放大器的精度要求越來越高，因此對運算放大器的差模輸入電阻也越來越重要重視。

現有技術的通常采用專用的測試儀器電阻計來測量運算放大器的差模輸入電阻，這種測試方法具有以下不足：(1)測量精度不高，電路復雜，不易修改電路；(2)電路的適用性低，當被測運算放大器的輸入偏置電流在10pA左右時，需要在測試電路中增加大電阻；(3)匹配電阻精度不高，環路不穩定等都會造成測量結果不準確；(4)現有的測試電路可重復性低，每次更換被測試運算放大器都需要重新調試測試電路的穩定性，增加了測試成本。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種運算放大器的測試電路、測試方法以及測試裝置，可提高測試速度和精度，降低測試成本。

根據本發明的第一方面，提供了一種測試電路，用于測試被測運算放大器，包括：第一測試模塊，具有連接至所述被測運算放大器的反相輸入端的第一輸入端、用于接收第一測試電壓的第二輸入端、以及用于提供第一輸出電壓至處理模塊的輸出端；第二測試模塊，具有連接至所述被測運算放大器的正相輸入端的第一輸入端、用于接收第二測試電壓的第二輸入端、以及用于提供第二輸出電壓至所述處理模塊的輸出端，其中，當所述第一測試模塊和所述第二測試模塊施加不同的測試電壓時，所述處理模塊根據所述第一測試電壓的變化量和所述第二測試電壓的變化量獲得所述被測運算放大器的輸入電壓的變化量，所述處理模塊根據所述第一輸出電壓的變化量和所述第二輸出電壓的變化量獲得所述被測運算放大器的輸入失調電流的變化量，以及根據所述輸入電壓的變化量和所述輸入失調電流的變化量得到所述被測運算放大器的差模輸入電阻。

優選地，所述第一測試模塊和所述第二測試模塊均包括：輔助運算放大器，反相輸入端連接至所述被測運算放大器的反相輸入端或者正相輸入端，正相輸入端用于接收所述測試電壓，輸出端用于提供所述輸出電壓。

優選地，所述第一測試模塊和所述第二測試模塊均還包括：采樣電阻，串聯連接在所述輔助運算放大器的反相輸入端和輸出端之間，用于所述輔助運算放大器和/或所述被測運算放大器的輸入偏置電流的采樣。

優選地，所述第一測試模塊和所述第二測試模塊均還包括：反饋電容，與所述采樣電阻并聯連接于所述輔助運算放大器的反相輸入端和輸出端。

優選地，所述第一測試模塊的采樣電阻與所述被測運算放大器的反相輸入端的偏置電流的乘積遠大于所述第一測試模塊的輔助運算放大器的輸入失調電流，所述第二測試模塊的采樣電阻與所述被測運算放大器的正相輸入端的偏置電流的乘積遠大于所述第二測試模塊的輔助運算放大器的輸入失調電流。