[發明專利]運算放大器的測試電路、測試方法以及測試裝置

有效

• 申請號: 201911253375.8
• 申請日: 2019-12-09
• 公開（公告）號: CN113030689B
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發明（設計）人: 王鴻儒
• 申請（專利權）人: 圣邦微電子（北京）股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449
• 代理人: 李鎮江

1.一種測試電路，用于測試被測運算放大器，其特征在于，包括：

第一測試模塊，具有連接至所述被測運算放大器的反相輸入端的第一輸入端、用于接收第一測試電壓的第二輸入端、以及用于提供第一輸出電壓至處理模塊的輸出端；

第二測試模塊，具有連接至所述被測運算放大器的正相輸入端的第一輸入端、用于接收第二測試電壓的第二輸入端、以及用于提供第二輸出電壓至所述處理模塊的輸出端，

其中，當所述第一測試模塊和所述第二測試模塊施加不同的測試電壓時，所述處理模塊根據所述第一測試電壓的變化量和所述第二測試電壓的變化量獲得所述被測運算放大器的輸入電壓的變化量，

所述處理模塊根據所述第一輸出電壓的變化量和所述第二輸出電壓的變化量獲得所述被測運算放大器的輸入失調電流的變化量，以及

根據所述輸入電壓的變化量和所述輸入失調電流的變化量得到所述被測運算放大器的差模輸入電阻。

2.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述第一測試模塊和所述第二測試模塊均包括：

輔助運算放大器，反相輸入端連接至所述被測運算放大器的反相輸入端或者正相輸入端，正相輸入端用于接收所述測試電壓，輸出端用于提供所述輸出電壓。

3.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，所述第一測試模塊和所述第二測試模塊均還包括：

采樣電阻，串聯連接在所述輔助運算放大器的反相輸入端和輸出端之間，用于所述輔助運算放大器和/或所述被測運算放大器的輸入偏置電流的采樣。

4.根據權利要求3所述的測試電路，其特征在于，所述第一測試模塊和所述第二測試模塊均還包括：

反饋電容，與所述采樣電阻并聯連接于所述輔助運算放大器的反相輸入端和輸出端。

5.根據權利要求3所述的測試電路，其特征在于，所述第一測試模塊的采樣電阻與所述被測運算放大器的反相輸入端的偏置電流的乘積遠大于所述第一測試模塊的輔助運算放大器的輸入失調電流，

所述第二測試模塊的采樣電阻與所述被測運算放大器的正相輸入端的偏置電流的乘積遠大于所述第二測試模塊的輔助運算放大器的輸入失調電流。

6.一種運算放大器的測試方法，使用權利要求1-5任一項所述的測試電路，其特征在于，所述測試方法包括：

調節第一測試模塊的第一測試電壓和第二測試模塊的第二測試電壓，采集第一輸出電壓的變化量和第二輸出電壓的變化量；

根據第一測試電壓的變化量和第二測試電壓的變化量獲得被測運算放大器的輸入電壓的變化量；

根據所述第一輸出電壓的變化量和所述第二輸出電壓的變化量獲得所述被測運算放大器的輸入失調電流的變化量；以及

根據所述輸入電壓的變化量和所述輸入失調電流的變化量得到所述被測運算放大器的差模輸入電阻。

7.根據權利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述被測運算放大器的差模輸入電阻通過以下公式獲得：

Rdiff＝ΔVin/ΔIos

其中，Rdiff為所述被測運算放大器的差模輸入電阻，ΔVin為所述被測運算放大器的輸入電壓的變化量，ΔIos為所述被測運算放大器的輸入失調電流的變化量。

8.根據權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述被測運算放大器的輸入電壓的變化量通過以下公式獲得：

ΔVin＝(Vcont_b2-Vcont_b1)-(Vcont_a2-Vcont_a1)

其中，Vcont_a2-Vcont_a1為所述第一測試電壓的變化量，Vcont_b2-Vcont_b1為所述第二測試電壓的變化量。