[發明專利]一種孔隙率評估方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201911252014.1
• 申請日: 2019-12-09
• 公開（公告）號: CN111272625B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 孟嘉;劉奎;肖鵬;南方
• 申請（專利權）人: 上海飛機制造有限公司
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明實施例公開了一種孔隙率評估方法、裝置、設備及存儲介質。該方法包括：對被測零件的目標檢測區域進行孔隙率檢測，得到所述目標檢測區域的檢測孔隙率；基于預先建立的孔隙率數據庫對所述檢測孔隙率進行校正，得到所述目標檢測區域的校正孔隙率，其中，所述孔隙率數據庫中對應存儲有檢測區域、孔隙率標準值和孔隙率參考值；基于所述目標檢測區域的校正孔隙率，確定所述被測零件的零件孔隙率。本發明實施例通過預先建立的孔隙率數據庫對被測零件的檢測孔隙率進行分區域校正，解決了被測零件的周圍孔隙率檢測不準確的問題，提高了被測零件的孔隙率測量結果的準確度。

技術領域

本發明實施例涉及無損檢測技術領域，尤其涉及一種孔隙率評估方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

孔隙率是指單位體積內孔隙缺陷的體積百分比，孔隙是零件在制作過程中不可避免會出現的缺陷，而孔隙的存在會影響到零件的質量和使用性能，因此，孔隙率是用來衡量零件孔隙缺陷嚴重程度的一個重要指標。

CT檢測技術是利用X射線探測零件內部的缺陷，通過測定射線衰減系數，采用數學算法，求解出衰減系數在零件某剖面上的二維分布矩陣，轉變為圖像畫面上的灰度分布，從而實現建立斷面圖像的成像技術。

基于上述的現有技術方案，CT檢測技術對于尺寸較大的零件，孔隙率檢測結果并不理想。CT檢測的空間分辨率隨著離旋轉中心軸的距離增大而降低，從而容易遺漏尺寸較小的孔隙，導致零件的孔隙率測量結果不準確。

發明內容

本發明實施例提供了一種孔隙率評估方法、裝置、設備及存儲介質，以提高零件的孔隙率測量結果的準確度。

第一方面，本發明實施例提供了一種孔隙率評估方法，該方法包括：

對被測零件的目標檢測區域進行孔隙率檢測，得到所述目標檢測區域的檢測孔隙率；

基于預先建立的孔隙率數據庫對所述檢測孔隙率進行校正，得到所述目標檢測區域的校正孔隙率，其中，所述孔隙率數據庫中對應存儲有檢測區域、孔隙率標準值和孔隙率參考值；

基于所述目標檢測區域的校正孔隙率，確定所述被測零件的零件孔隙率。

第二方面，本發明實施例還提供了一種孔隙率評估裝置，該裝置包括：

檢測孔隙率確定模塊，用于對被測零件的目標檢測區域進行孔隙率檢測，得到所述目標檢測區域的檢測孔隙率；

校正孔隙率確定模塊，用于基于預先建立的孔隙率數據庫對所述檢測孔隙率進行校正，得到所述目標檢測區域的校正孔隙率，其中，所述孔隙率數據庫中對應存儲有檢測區域、孔隙率標準值和孔隙率參考值；

零件孔隙率確定模塊，用于基于所述目標檢測區域的校正孔隙率，確定所述被測零件的零件孔隙率。

第三方面，本發明實施例還提供了一種設備，該設備包括：

一個或多個處理器；

存儲器，用于存儲一個或多個程序；

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行時，使得所述一個或多個處理器實現上述所涉及的任一所述的孔隙率評估方法。

第四方面，本發明實施例還提供了一種包含計算機可執行指令的存儲介質，所述計算機可執行指令在由計算機處理器執行時用于執行上述所涉及的任一所述的孔隙率評估方法。

本發明實施例通過預先建立的孔隙率數據庫對被測零件的檢測孔隙率進行分區域校正，解決了被測零件的周圍孔隙率檢測不準確的問題，提高了被測零件的孔隙率測量結果的準確度。

附圖說明

圖1是本發明實施例一提供的一種孔隙率評估方法的流程圖。

圖2是本發明實施例二提供的一種孔隙率評估方法的流程圖。