[發明專利]一種孔隙率評估方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201911252014.1
• 申請日: 2019-12-09
• 公開（公告）號: CN111272625B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 孟嘉;劉奎;肖鵬;南方
• 申請（專利權）人: 上海飛機制造有限公司
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種孔隙率評估方法，其特征在于，包括：

對被測零件的目標檢測區域進行孔隙率檢測，得到所述目標檢測區域的檢測孔隙率；

基于預先建立的孔隙率數據庫對所述檢測孔隙率進行校正，得到所述目標檢測區域的校正孔隙率，其中，所述孔隙率數據庫中對應存儲有檢測區域、孔隙率標準值和孔隙率參考值；

基于所述目標檢測區域的校正孔隙率，確定所述被測零件的零件孔隙率；

所述方法還包括：根據至少兩個檢測區域對標準試塊進行孔隙率檢測，確定所述各檢測區域的孔隙率參考值；其中，不同檢測區域分別對應的檢測參數相同；

根據所述孔隙率參考值、所述檢測區域和所述標準試塊的孔隙率標準值，構建孔隙率數據庫；

所述基于預先建立的孔隙率數據庫對所述檢測孔隙率進行校正，得到所述目標檢測區域的校正孔隙率，包括：根據所述目標檢測區域和所述檢測孔隙率，在所述孔隙率數據庫查找與所述目標檢測區域和所述檢測孔隙率對應的孔隙率標準值；

基于所述孔隙率標準值對所述檢測孔隙率進行校正，得到校正孔隙率；

所述方法還包括：獲取所述標準試塊的試塊尺寸，并基于所述試塊尺寸和所述被測零件的旋轉中心軸，對所述被測零件在各旋轉角度上的旋轉半徑進行劃分，得到標準試塊的檢測區域；其中，所述標準試塊在載物臺上挨個放置或每間隔一個所述試塊尺寸放置。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述孔隙率標準值對所述檢測孔隙率進行校正，得到校正孔隙率，包括：

基于所述至少兩個目標檢測區域和與各所述目標檢測區域對應的孔隙率標準值，構建校正曲線；

根據所述校正曲線對所述檢測孔隙率進行校正，得到所述各目標檢測區域的校正孔隙率。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述孔隙率數據庫還包括檢測參數，相應的，所述方法還包括：

根據所述至少一個檢測參數和所述至少兩個檢測區域對所述標準試塊進行孔隙率檢測，確定所述各檢測參數下的所述各檢測區域的孔隙率參考值；

根據所述檢測參數、所述檢測區域、所述孔隙率參考值和所述標準試塊的孔隙率標準值，構建孔隙率數據庫。

4.一種孔隙率評估裝置，其特征在于，包括：

檢測孔隙率確定模塊，用于對被測零件的目標檢測區域進行孔隙率檢測，得到所述目標檢測區域的檢測孔隙率；

校正孔隙率確定模塊，用于基于預先建立的孔隙率數據庫對所述檢測孔隙率進行校正，得到所述目標檢測區域的校正孔隙率，其中，所述孔隙率數據庫中對應存儲有檢測區域、孔隙率標準值和孔隙率參考值；

零件孔隙率確定模塊，用于基于所述目標檢測區域的校正孔隙率，確定所述被測零件的零件孔隙率；

所述裝置還包括：孔隙率數據庫構建模塊，用于：根據至少兩個檢測區域對標準試塊進行孔隙率檢測，確定各檢測區域的孔隙率參考值；其中，不同檢測區域分別對應的檢測參數相同；

根據孔隙率參考值、檢測區域和標準試塊的孔隙率標準值，構建孔隙率數據庫；

所述校正孔隙率確定模塊，包括：

孔隙率標準值確定單元，用于根據目標檢測區域和檢測孔隙率，在孔隙率數據庫查找與目標檢測區域和檢測孔隙率對應的孔隙率標準值；

校正孔隙率確定單元，用于基于孔隙率標準值對檢測孔隙率進行校正，得到校正孔隙率；

該裝置還包括：檢測區域確定模塊，用于獲取所述標準試塊的試塊尺寸，并基于所述試塊尺寸和所述被測零件的旋轉中心軸，對所述被測零件在各旋轉角度上的旋轉半徑進行劃分，得到標準試塊的檢測區域；其中，所述標準試塊在載物臺上挨個放置或每間隔一個所述試塊尺寸放置。

5.一種電子設備，其特征在于，包括：

一個或多個處理器；

存儲器，用于存儲一個或多個程序；

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-3中任一所述的孔隙率評估方法。

6.一種包含計算機可執行指令的存儲介質，其特征在于，所述計算機可執行指令在由計算機處理器執行時用于執行如權利要求1-3中任一所述的孔隙率評估方法。