[發明專利]內存參數調試方法及裝置

有效

• 申請號: 201911244452.3
• 申請日: 2019-12-06
• 公開（公告）號: CN110928736B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 何明
• 申請（專利權）人: 邁普通信技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐彥圣

本申請提供了一種內存參數調試方法及裝置，針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS引腳和CK引腳的走線長度，獲得該K值下每個字節的內存驅動參數。進而對內存控制器進行內存讀寫測試，獲取在該K值對應的內存驅動參數下內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率，最后根據各待測試的K值下內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率確定出工作性能最優的K值；該K值所對應內存驅動參數即為內存控制器的內存驅動參數。由于K值實際受PCB板材、走線銅厚、走線線寬、過孔和溫度環境等多重因素的影響，因此通過上述方式得到的內存驅動參數，可以充分考量實際環境下各內存驅動參數的優劣，從而得到工作性能優良的內存驅動參數。

技術領域

本申請涉及參數調試技術領域，具體而言，涉及一種內存參數調試方法及裝置。

背景技術

隨著通信技術的發展，電子設備的數據處理容量越來越大，帶寬要求越來越高，傳輸時延要求越來越小，可靠性要求越來越高，環境適應范圍要求越來越寬。控制器的內存單元作為電子設備最核心的組成單元之一，其訪問速率直接影響控制器的整體處理性能和時延，內存頻率越高，內存訪問帶寬越大，控制器處理性能越快，但是高速率又會帶來可靠性降低的問題，環境適應范圍小的問題。如何設計出高速率、高可靠性、寬溫的內存控制器接口成為數據通信領域中的設計難題。

在給定的控制器平臺上，內存的高速率、高可靠性和高適應性主要取決于內存控制器驅動參數和設計的匹配度。匹配度越好，獲得的性能和可靠性就越高，環境適應范圍越寬，速率越高。如何獲得匹配度好的內存控制器驅動參數成為了目前內存控制領域的重要課題。

發明內容

本申請實施例的目的在于提供一種內存參數調試方法及裝置，用以解決如何獲得匹配度好的內存控制器驅動參數的問題。

本申請實施例提供了一種內存參數調試方法，包括：

針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS引腳和CK引腳的走線長度，獲得該待測試的K值下每個字節的內存驅動參數；所述K值為根據理論電氣信號單位傳播速度確定的電氣信號單位傳播速度；

對內存控制器進行內存讀寫測試，獲取在該待測試的K值對應的所述內存驅動參數下所述內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率；

根據各待測試的K值下所述內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率確定出工作性能最優的K值；所述工作性能最優的K值所對應內存驅動參數為所述內存控制器的內存驅動參數。

在上述實現過程中，可以針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS(Bi-directional Data Strobe，雙向數據控制引腳)引腳和CK(時鐘信號)引腳的走線長度，獲得該待測試的K值下每個字節的內存驅動參數，進而對內存控制器進行內存讀寫測試，獲取在該待測試的K值對應的所述內存驅動參數下內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率。進而即可根據各待測試的K值下內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率確定出工作性能最優的K值，以工作性能最優的K值所對應內存驅動參數作為內存控制器的內存驅動參數。由于K為理論上的電氣信號單位傳輸延遲時間，實際受PCB(Printed Circuit Board，印制電路板)板材、走線銅厚、走線線寬、過孔和溫度環境等多重因素的影響，因此通過上述方式得到的內存驅動參數，可以充分考量實際環境因素下各內存驅動參數的優劣，從而得到工作性能優良(即匹配度優良)的內存驅動參數。

進一步地，所述針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS引腳和CK引腳的走線長度，獲得該待測試的K值下每個字節的內存驅動參數包括：針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS引腳和CK引腳的走線長度，得到該待測試的K值下每個字節的CK引腳和DQS引腳的信號傳輸時間差；根據所述每個字節的CK引腳和DQS引腳的信號傳輸時間差，得到該待測試的K值下每個字節的內存驅動參數。