[發明專利]內存參數調試方法及裝置

有效

• 申請號: 201911244452.3
• 申請日: 2019-12-06
• 公開（公告）號: CN110928736B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 何明
• 申請（專利權）人: 邁普通信技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐彥圣

1.一種內存參數調試方法，其特征在于，包括：

針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS引腳和CK引腳的走線長度，獲得該待測試的K值下每個字節的內存驅動參數；所述K值是根據預設的理論電氣信號單位傳播速度確定的電氣信號單位傳播速度；所述內存驅動參數包括：CK時延、DQS時延和DQ時延中的至少之一；

對內存控制器進行內存讀寫測試，獲取在該待測試的K值對應的所述內存驅動參數下所述內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率；

根據各待測試的K值下所述內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率確定出工作性能最優的K值；所述工作性能最優的K值所對應內存驅動參數為所述內存控制器的內存驅動參數。

2.如權利要求1所述的內存參數調試方法，其特征在于，所述針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS引腳和CK引腳的走線長度，獲得該待測試的K值下每個字節的內存驅動參數包括：

針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS引腳和CK引腳的走線長度，得到該待測試的K值下每個字節的CK引腳和DQS引腳的信號傳輸時間差；

根據所述每個字節的CK引腳和DQS引腳的信號傳輸時間差，得到該待測試的K值下每個字節的內存驅動參數。

3.如權利要求2所述的內存參數調試方法，其特征在于，所述針對每一個待測試的K值，根據預存的各字節的DQS引腳和CK引腳的走線長度，得到該待測試的K值下每個字節的CK引腳和DQS引腳的信號傳輸時間差包括：

針對每一個待測試的K值，獲取預存的各字節的DQS引腳的走線長度與該待測試的K值的商值；所述商值為每個字節的DQS引腳的信號傳輸時間；

針對每一個待測試的K值，獲取預存的各字節的CK引腳的走線長度與該待測試的K值的商值；所述商值為每個字節的CK引腳的信號傳輸時間；

獲取每個字節的CK引腳的信號傳輸時間與DQS引腳的信號傳輸時間的差值，得到每個字節的CK引腳和DQS引腳的信號傳輸時間差。

4.如權利要求2所述的內存參數調試方法，其特征在于，所述內存驅動參數包括預設的CK時延，以及待確定的DQS時延和DQ時延；

所述根據所述每個字節的CK引腳和DQS引腳的信號傳輸時間差，得到該待測試的K值下每個字節的內存驅動參數包括：

按照公式DQS_delay=[D1/（1/f）]/N+CK_delay，以及DQ_delay=k×DQS_delay，得到該待測試的K值下每個字節的DQS時延和DQ時延；其中：

所述DQS_delay為待確定的DQS時延，D1為每個字節的CK引腳和DQS引腳的信號傳輸時間差，f為所述內存控制器進行內存讀寫測試時的工作頻率，N為所述內存控制器的傳輸延時粒度，CK_delay為預設的CK時延，DQ_delay為待確定的DQ時延，k為預設的比例系數。

5.如權利要求1所述的內存參數調試方法，其特征在于，所述根據各待測試的K值下所述內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率確定出工作性能最優的K值包括：

確定最大工作頻率大于預設第一限制值的K值；

在所述最大工作頻率大于預設第一限制值的K值中，確定所述最大工作頻率與最小工作頻率之差最大的K值作為工作性能最優的K值；

或，

確定最大工作頻率與最小工作頻率之差大于預設第二限制值的K值；

在所述最大工作頻率與最小工作頻率之差大于預設第二限制值的K值中，確定所述最大工作頻率最大的K值作為工作性能最優的K值。

6.如權利要求1所述的內存參數調試方法，其特征在于，所述根據各待測試的K值下所述內存控制器的最大工作頻率與最小工作頻率確定出工作性能最優的K值包括：

根據各K值下所述內存控制器的最大工作頻率，以及所述最大工作頻率與最小工作頻率之差，計算各K值對應的工作性能評分；

根據所述工作性能評分確定出工作性能最優的K值。