[發明專利]一種致密儲層裂縫識別與孔隙度定量計算的方法

在審

• 申請號: 201911241396.8
• 申請日: 2019-12-06
• 公開（公告）號: CN110927794A
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 徐敬領;牛靜怡;王曉光;霍家慶;王若濤
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（北京）
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30;G01V1/28
• 代理公司: 成都方圓聿聯專利代理事務所(普通合伙) 51241
• 代理人: 宋紅賓

本發明公開了一種致密儲層裂縫識別與孔隙度定量計算的方法，包括：對聲波、密度分別對聲波測井曲線和密度測井曲線進行切割處理，對曲線的極值點進行切割，當遇到直線段的時候，將其中點作為切割點；根據相關系數的原理，對切割出的曲線段進行相關系數計算；計算AC?DEN相關系數，識別致密儲層裂縫發育段與非裂縫發育段；對裂縫進行評價，利用測井資料建立方程組，使得目標函數達到最小值，求取儲層聲波時差與密度的綜合骨架；計算致密儲層的泥質含量；利用聲波時差和密度測井資料建立裂縫孔隙度的計算模型。本發明計算的裂縫孔隙度結果與FMI的計算結果對比，裂縫識別精度得到了提高，并且使用常規測井資料識別和評價裂縫，大大提高了測井解釋效率。

技術領域

本發明屬于油氣勘探開發領域，特別是涉及一種致密儲層裂縫識別與孔隙度定量計算的方法。

背景技術

裂縫是致密油氣的關鍵運移通道和重要儲集空間，對致密儲層的勘探開發起重要作用。現有裂縫的測井評價技術在常規儲層上應用效果比較好。

自然電位(SP)和自然伽馬(GR)測井曲線主要受泥質的影響而變化，裂縫對SP與GR基本無影響；井徑測井曲線(CAL)主要受地層巖性影響而變化，裂縫對井徑無影響；雙側向電阻率受地層與流體性質的變化而變化，裂縫發育對電阻率有一定的影響，主要是裂縫發育段，泥漿的侵入使得電阻率測井值出現一些差異。因為雙側向電阻率測井在高、低角度裂縫的響應特征不同，即當裂縫角度大于75°時，深、淺側向電阻率表現為正幅度差異常；當裂縫角度小于45°時，深、淺側向電阻率表現為負幅度差異常。所以可以利用裂縫的深淺電阻率測井幅度差的特征，進行流體與裂縫的識別。常用的是使用有限元方法進行模擬計算，建立起關于雙側向與裂縫孔隙度、流體電導率和地層電阻率的關系模型，用來識別及評價碳酸鹽巖地層的裂縫。但是在復雜的致密儲層中，如致密砂巖和頁巖地層，使用高、低角度裂縫的電阻率測井響應差異方法來識別裂縫效果不好。

測井新技術中成像測井具有高采樣率、高分別率、直接可觀性和連續性，能夠直接反應井周的裂縫發育情況和地質特征。它既能夠在垂直上分析宏觀構造，又能在微觀上分析地層內部細致的結構特征，可以提供比常規測井資料進行地層特征描述更可靠有力的證據，直接、精細地反應地層的復雜性與非均勻性。可對地層的巖石類型、巖石結構、沉積構造、裂縫等進行精細的描述，特別是能夠有效地指示裂縫的位置、傾角、走向、類型等特征，因此，利用成像測井資料研究和評價儲層的裂縫具有有效性和可行性。以往常用地層微電阻率掃描成像測井(FMI)對裂縫進行描述及裂縫參數的提取，但是成像測井花費昂貴，研究區域常常缺少成像測井資料，且成像測井只能識別井壁上的裂縫，徑向探測深度淺，所以成像測井存在局限性。

測井解釋評價工作主要是針對儲層物性、流體識別和相關參數計算上，測井研究也不斷取得很大程度的發展。但是在復雜致密儲層中，目前現有的測井解釋評價技術往往存在很大的問題，如致密儲層的參數計算、裂縫識別以及裂縫孔隙度計算評價等問題，仍不能滿足油氣勘探開發的要求。裂縫發育段的識別以及裂縫孔隙度的表征，是目前油氣勘探開發中測井評價仍要攻關的問題。因成像測井費用昂貴、徑向探測深度淺，且研究區域常常缺少成像測井資料，因此，使用常規測井資料研究識別裂縫和對裂縫參數，特別是對裂縫孔隙度進行計算評價，具有重大意義。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的不足，提供一種致密儲層裂縫識別與孔隙度定量計算的方法。

本發明的目的是通過以下技術方案來實現的：一種致密儲層裂縫識別與孔隙度定量計算的方法，包括以下步驟：

S1.分別對聲波測井曲線和密度測井曲線進行切割處理，對曲線的極值點進行切割，當遇到直線段的時候，將其中點作為切割點，其中，聲波測井曲線即AC測井曲線，是聲波時差測井數據形成的線，密度測井曲線即DEN測井曲線，是指由密度測井數據形成的線；

S2.根據相關系數的原理，采用一定窗長分別對聲波測井曲線和密度測井曲線由上到下依次進行切割處理，對切割出的曲線段進行相關系數計算：