[發明專利]一種致密儲層裂縫識別與孔隙度定量計算的方法

在審

• 申請號: 201911241396.8
• 申請日: 2019-12-06
• 公開（公告）號: CN110927794A
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 徐敬領;牛靜怡;王曉光;霍家慶;王若濤
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（北京）
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30;G01V1/28
• 代理公司: 成都方圓聿聯專利代理事務所(普通合伙) 51241
• 代理人: 宋紅賓

1.一種致密儲層裂縫識別與孔隙度定量計算的方法，其特征在于：包括以下步驟：

S1.分別對聲波測井曲線和密度測井曲線進行切割處理，對曲線的極值點進行切割，當遇到直線段的時候，將其中點作為切割點，其中，聲波測井曲線即AC測井曲線，是聲波時差測井數據形成的線，密度測井曲線即DEN測井曲線，是指由密度測井數據形成的線；

S2.根據相關系數的原理，采用一定窗長分別對聲波測井曲線和密度測井曲線由上到下依次進行切割處理，對切割出的曲線段進行相關系數計算：

其中，x和y分別代表裂縫發育段聲波時差AC和密度測井DEN曲線，和分別是AC和DEN測井曲線處理段數據的平均值；首先對AC曲線進行切割，帶入上式，得到AC曲線切割處理的相關系數r_AC，然后對DEN曲線進行切割，帶入上式，得到DEN曲線切割處理的相關系數r_DEN；

S3.計算AC-DEN相關系數r_AC-DEN：

r_AC-DEN＝r_AC·r_DEN；

此相關系數數值大小分布在-0.8至0.8之間的為非裂縫發育段，相關系數數值大小分布在[-1 0.8]和[0.8 1]之間的為裂縫發育段，根據相關系數數值大小識別致密儲層裂縫發育段與非裂縫發育段；

S4.完成裂縫發育段與非裂縫發育段的識別后，對裂縫進行評價，利用測井資料建立方程組：

使得目標函數達到最小值，求取儲層聲波時差與密度的綜合骨架值；

式中，AC_m是儲層聲波時差綜合骨架，單位為μs/m；AC_f是流體的聲波時差，單位為μs/m；DEN_m是儲層密度綜合骨架，單位為g/cm³；DEN_f是流體密度，單位為g/cm³；V_m是巖石基質與泥質的綜合體積含量；V_φ是地層總孔隙度；F(v)是目標函數；P_j第j個權重因子；k是范數；A_ij第i×j個礦物的測井響應；Y_j是第j個測井數據；V_i是第i個礦物含量或孔隙度；

S5.計算致密儲層的泥質含量

其中，V_sh是泥質含量；GCUR是地層因子，GR_min和GR_max是GR曲線一個巖層的最小值和最大值；

S6.利用聲波時差和密度測井資料建立裂縫孔隙度的計算模型，以實現裂縫孔隙度的定量計算。

2.根據權利要求1所述的一種致密儲層裂縫識別與孔隙度定量計算的方法，其特征在于：所述步驟S6包括：

如果致密儲層有低角度縫發育，聲波孔隙度φ_AC包含基質孔隙度φ_基質與裂縫孔隙度φ_fr；密度孔隙度φ_DEN僅包含基質孔隙度，裂縫孔隙度忽略；如果致密儲層發育高角度縫，則φ_AC僅包含基質孔隙度，φ_DEN包含基質孔隙度與裂縫孔隙度，即：

低角縫發育區：

φ_AC＝φ_基質+φ_fr，φ_DEN＝φ_基質

高角縫發育區：

φ_AC＝φ_基質，φ_DEN＝φ_基質+φ_fr

裂縫孔隙度的計算公式可表示為：

致密儲層裂縫孔隙度的計算公式經過泥質校正(1-V_sh)后，得到：