[發明專利]多通道濾光片、高光譜掃描型探測器及其制備方法

在審

• 申請號: 201911232077.0
• 申請日: 2019-12-05
• 公開（公告）號: CN110907035A
• 公開（公告）日: 2020-03-24
• 發明（設計）人: 胡長虹;韓誠山;薛旭成
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J3/02;G01J3/12
• 代理公司: 長春眾邦菁華知識產權代理有限公司 22214
• 代理人: 王丹陽

1.像素級掃描型低帶外響應的多通道濾光片，其特征在于，包括條形基板(1)，所述條形基板(1)的上表面鍍有截止濾光膜，下表面鍍有像素級窄帶濾光膜(2)，側面覆蓋有能抑制雜散光進入條形基板(1)的遮擋物(6)；所述像素級窄帶濾光膜(2)包括通道組(3)，若所述通道組(3)大于1組時，通道組(3)沿條形基板(1)寬度方向依次排列、依次連接；每個通道組(3)包括多個條形單元通道(4)，所有所述單元通道(4)沿條形基板(1)寬度方向依次排列，單元通道(4)的長度方向與條形基板(1)長度方向一致，通道組(3)內任意兩個單元通道(4)對應的波帶均不相同。

2.如權利要求1所述的像素級掃描型低帶外響應的多通道濾光片，其特征在于，所述通道組(3)的所有單元通道(4)沿條形基板(1)寬度方向依次連接。

3.如權利要求1所述的像素級掃描型低帶外響應的多通道濾光片，其特征在于，所述遮擋物(6)為黑膠。

4.如權利要求1所述的像素級掃描型低帶外響應的多通道濾光片，其特征在于，所述遮擋物(6)覆蓋條形基板(1)的所有側面。

5.集成濾光片，其特征在于，包括多個如權利要求1至4中任意一項所述的像素級掃描型低帶外響應的多通道濾光片，多個多通道濾光片依次排列。

6.如權利要求5所述的集成濾光片，其特征在于，所述多通道濾光片依次連接。

7.高光譜掃描型探測器，其特征在于，包括如權利要求5所述的集成濾光片和探測器(5)，集成濾光片設置在探測器(5)靶面上。

8.如權利要求7所述的高光譜掃描型探測器的制作方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟一、在所述探測器(5)靶面上安裝多個條形基板(1)，所述條形基板(1)的上表面鍍有截止濾光膜，下表面鍍有像素級窄帶濾光膜(2)，所述截止濾光膜或像素級窄帶濾光膜(2)連接探測器(5)靶面；

步驟二、在所有所述條形基板(1)的一端制備條形的第一遮擋物，所述第一遮擋物覆蓋所有條形基板(1)的寬度的一個側面；在所有條形基板(1)的另一端制備條形的第二遮擋物，所述第二遮擋物覆蓋所有條形基板(1)的寬度的另一個側面；在條形基板(1)之間制備條形的第三遮擋物，所述第三遮擋物覆蓋其兩側條形基板(1)的長度的一個側面；在位于邊緣的兩個條形基板(1)的長度的外側側面上制備條形的第四遮擋物，所述第四遮擋物覆蓋位于邊緣的兩個條形基板(1)的長度的外側側面，第一遮擋物、第二遮擋物、第三遮擋物和第四遮擋物共同抑制雜散光進入條形基板(1)，高光譜掃描型探測器制備完成。