[發(fā)明專利]一種TFT陣列基板及其制備方法、顯示面板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911225344.1 | 申請日: | 2019-12-04 |
| 公開(公告)號: | CN110993618B | 公開(公告)日: | 2022-10-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 余晶晶;王威 | 申請(專利權)人: | 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/12 | 分類號: | H01L27/12;H01L21/77 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產(chǎn)權代理有限公司 44570 | 代理人: | 張曉薇 |
| 地址: | 430079 湖北省武漢市東湖新技術*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 tft 陣列 及其 制備 方法 顯示 面板 | ||
1.一種TFT陣列基板的制備方法,其特征在于,包括:
提供一基板;
在所述基板上制備緩沖層;
在所述緩沖層上制備多晶硅層以及位于所述多晶硅層兩側的源極和漏極;
在所述多晶硅層、源極和漏極上制備柵極絕緣層;
在所述柵極絕緣層上制備柵極層;
對所述多晶硅層進行離子摻雜處理,其內(nèi)摻雜的離子包括Ar+、B+、PH3+、PH4+中的至少一種,其中摻雜離子的濃度在所述基板至所述柵極層的堆疊方向上呈高斯分布,所述高斯分布的峰值位置設置在所述多晶硅層內(nèi);或者所述高斯分布的峰值位置還設置在所述緩沖層和所述多晶硅層的接觸面;或者所述高斯分布的峰值位置還設置在所述緩沖層內(nèi);
所述離子的摻雜能量范圍為10-20keV。
2.根據(jù)權利要求1所述的TFT陣列基板的制備方法,其特征在于,所述離子通過離子注入機對所述多晶硅層進行離子摻雜。
3.一種顯示面板,其特征在于,包括權利要求1-2中任意一項所述的TFT陣列基板的制備方法制備形成的TFT陣列基板。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





