[發明專利]一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置

在審

• 申請號: 201911199042.1
• 申請日: 2019-11-29
• 公開（公告）號: CN111025053A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 郭立濤;李秀芳;王振亞;王立發;趙瑞華;王喬楠;袁彪;劉金;龐龍;連智富;戎子龍;劉愛平
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十三研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 田甜

本發明提供了一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，屬于射頻組件測試技術領域，包括測試臺、測試組件以及彈性定位組件，其中，測試臺用于固定安裝微波射頻組件，測試臺上橫向滑動連接有第一托板，第一托板上縱向滑動連接有第二托板，第二托板上固定連接有滑座；測試組件與滑座沿上下方向滑動連接；測試組件用于與測試電纜電連接，且用于測試微波射頻組件上的射頻饋點；彈性定位組件設于測試組件與滑座之間，用于向下定位測試組件的測試位置及帶動測試組件向上彈起.本發明提供的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，測試效率高，測試過程安全可靠，而且能夠通用多種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件。

技術領域

本發明屬于射頻組件測試技術領域，更具體地說，是涉及一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置。

背景技術

當前，為進一步降低微波射頻組件的成本，電子裝備和器件都在向高集成化、易于裝配、簡化元器件等方向發展。目前芯片級封裝技術手段很多，而且技術較為成熟，相對于尺寸稍大的模塊級和組件級產品，特別是射頻/微波領域產品，大多采用局部氣密封裝功能模塊的方式進行封裝設計，該類設計為無連接器形式，但是，當下無連接器的微波射頻組件測試手段匱乏，針對不同的產品需要定制相應的工裝，測試效率低、成本高，無法適應大批量、低成本的生產測試應用。

發明內容

本發明的目的在于提供一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，旨在解決現有技術中無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試工作效率低、可靠性差的問題。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案是：提供一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，包括：

測試臺，用于固定安裝微波射頻組件；測試臺上橫向滑動連接有第一托板，第一托板上縱向滑動連接有第二托板；第二托板上固定連接有滑座；

測試組件，與滑座沿上下方向滑動連接；測試組件用于與測試電纜電連接，且用于測試微波射頻組件上的射頻饋點；

彈性定位組件，設于測試組件與滑座之間，用于向下定位測試組件的測試位置及帶動測試組件向上彈起。

作為本申請另一實施例，彈性定位組件包括：

彈性元件，沿上下方向設于測試組件與滑座之間，彈性元件用于對測試組件施加向下的彈性力；

壓桿，鉸接于第二托板上，壓桿的一端用于與測試組件的下端面抵接，另一端用于施加外力。

作為本申請另一實施例，測試組件上設有沿上下方向延伸的容置槽，滑座上設有擋板，擋板用于插入容置槽內，彈性元件的一端與容置槽的底壁抵接，另一端與擋板的下表面抵接。

作為本申請另一實施例，測試組件包括：

連接架，與滑座沿上下方向滑動連接；容置槽設置在連接架上；壓桿與連接架的下端面抵接；

測試架，與連接架縱向滑動連接；

測試探針，與測試架上下滑動連接。

作為本申請另一實施例，滑座上設有沿上下方向延伸的滑槽，連接架與滑槽滑動連接。

作為本申請另一實施例，滑槽兩側分別固接有第一導軌；連接架兩側分別固接有第二導軌；第一導軌與第二導軌滑動接觸。

作為本申請另一實施例，第一導軌、第二導軌的接觸面上分別設有第一滑道、第二滑道，且第一滑道、第二滑道圍成的空間內滑動連接有第一滑塊。

作為本申請另一實施例，滑座的下部設有避讓槽，壓桿與連接架的抵接端轉動連接有套筒，套筒穿過避讓槽，且與連接架的下端面抵靠。