[發明專利]一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置

在審

• 申請號: 201911199042.1
• 申請日: 2019-11-29
• 公開（公告）號: CN111025053A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 郭立濤;李秀芳;王振亞;王立發;趙瑞華;王喬楠;袁彪;劉金;龐龍;連智富;戎子龍;劉愛平
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十三研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 田甜

1.一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于，包括：

測試臺，用于固定安裝微波射頻組件；所述測試臺上橫向滑動連接有第一托板，所述第一托板上縱向滑動連接有第二托板；所述第二托板上固定連接有滑座；

測試組件，與所述滑座沿上下方向滑動連接；所述測試組件用于與測試電纜電連接，且用于測試所述微波射頻組件上的射頻饋點；

彈性定位組件，設于所述測試組件與所述滑座之間，用于向下定位所述測試組件的測試位置及帶動所述測試組件向上彈起。

2.如權利要求1所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于，所述彈性定位組件包括：

彈性元件，沿上下方向設于所述測試組件與所述滑座之間，所述彈性元件用于對所述測試組件施加向下的彈性力；

壓桿，鉸接于所述第二托板上，所述壓桿的一端用于與所述測試組件的下端面抵接，另一端用于施加外力。

3.如權利要求2所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于：所述測試組件上設有沿上下方向延伸的容置槽，所述滑座上設有擋板，所述擋板用于插入所述容置槽內，所述彈性元件的一端與所述容置槽的底壁抵接，另一端與所述擋板的下表面抵接。

4.如權利要求3所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于，所述測試組件包括：

連接架，與所述滑座沿上下方向滑動連接；所述容置槽設置在所述連接架上；所述壓桿與所述連接架的下端面抵接；

測試架，與所述連接架縱向滑動連接；

測試探針，與所述測試架上下滑動連接。

5.如權利要求4所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于：所述滑座上設有沿上下方向延伸的滑槽，所述連接架與所述滑槽滑動連接。

6.如權利要求5所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于：所述滑槽兩側分別固接有第一導軌；所述連接架兩側分別固接有第二導軌；所述第一導軌與所述第二導軌滑動接觸。

7.如權利要求6所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于：所述第一導軌、所述第二導軌的接觸面上分別設有第一滑道、第二滑道，且所述第一滑道、所述第二滑道圍成的空間內滑動連接有第一滑塊。

8.如權利要求5所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于：所述滑座的下部設有避讓槽，所述壓桿與所述連接架的抵接端轉動連接有套筒，所述套筒穿過所述避讓槽，且與所述連接架的下端面抵靠。

9.如權利要求1-8任一項所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于：所述第一托板具有多個橫向定位位置，且相鄰所述橫向定位位置之間的間距與相鄰所述射頻饋點之間的橫向間距相等；

所述第二托板具有多個縱向定位位置，且相鄰所述縱向定位位置之間的間距與相鄰所述射頻饋點之間的縱向間距相等。

10.如權利要求9所述的一種無連接器射頻饋點輸出型微波射頻組件的測試裝置，其特征在于：所述測試臺上橫向間隔設有多個橫向定位孔，所述第一托板上穿設有用于與所述橫向定位孔插接的橫向定位銷；

所述第一托板上縱向間隔設有多個縱向定位孔，所述第二托板上穿設有用于與所述縱向定位孔插接的縱向定位銷。