[發明專利]一種基于光壓原理的芯片一體化制造輔助設備在審
| 申請號: | 201911161091.6 | 申請日: | 2019-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN110854015A | 公開(公告)日: | 2020-02-28 |
| 發明(設計)人: | 馮聰 | 申請(專利權)人: | 馮聰 |
| 主分類號: | H01L21/027 | 分類號: | H01L21/027;H01L21/67 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 光壓 原理 芯片 一體化 制造 輔助 設備 | ||
本發明涉及芯片制造技術領域,且公開了一種基于光壓原理的芯片一體化制造輔助設備,包括轉盤,所述轉盤的底部固定活動連接有封閉箱,封閉箱的內部活動連接有轉軸,轉軸的表面套接有殼體,殼體的內部頂壁活動連接有遮光盤,遮光盤的底部活動連接有光壓機構,光壓機構的兩側均活動連接有調節彈簧,所述光壓機構包括發光板。限位彈簧的拉動下進行移動,使刻物板與遮光盤接觸,形成特定的映像,當勻膠完成后,調節光波箱產生的波長,發光板產生光源,并根據刻物板與轉盤之間的呈像距離,移動調節板和調節彈簧,擴大會縮小發光板的照射范圍,對其進行顯影光刻,從而達到了一次定位無需轉移便可完成光刻工藝的效果。
技術領域
本發明涉及芯片制造技術領域,具體為一種基于光壓原理的芯片一體化制造輔助設備。
背景技術
芯片是半導體元件產品的統稱,芯片又被叫做集成電路或稱微電路、微芯片、晶片/芯片:在電子學中是一種把電路小型化的方式,并時常制造在半導體晶圓表面上。
其中芯片的制造分為:光刻、刻蝕、薄膜、摻雜、化學機械平坦化五大步驟,其中光刻是極為重要的一步,光刻工藝的基本流程為:勻膠、烘干、轉移、定位、光刻、烘烤等,雖然這項工藝已較為成熟,但其中轉移這一步非常麻煩,因為芯片為高精密部件,定位準確度要求很高,稍微偏差就會失去想要的效果,而現有的光刻設備雖然能準確定位,但在芯片制作的過程中需不斷的轉移,每轉移一次便需要重新定位,費事費力,此外現有的設備在機芯芯片勻膠的過程中,沒有相應的保護措施,轉盤離心力過大會導致光刻膠脫離轉盤四處飄灑,若離心力過小則導致不能勻膠,因此一種基于光壓原理的芯片一體化制造輔助設備應運而生。
發明內容
為實現上述一次定位無需轉移、勻膠不濺灑的目的,本發明提供如下技術方案:一種基于光壓原理的芯片一體化制造輔助設備,包括轉盤,所述轉盤的底部固定活動連接有封閉箱,封閉箱的內部活動連接有轉軸,轉軸的表面套接有殼體,殼體的內部頂壁活動連接有遮光盤,遮光盤的底部活動連接有光壓機構,光壓機構的兩側均活動連接有調節彈簧,所述光壓機構包括發光板,發光板的底部鉸接有調節板,調節板遠離發光板的一側固定連接有光波箱,光波箱遠離調節板的一側與轉軸活動連接。
本發明的有益效果是:
1.通過調節光波箱照射的波長,使發光板在調節板的作用下靠近轉盤,并對轉盤進行預加熱,后將光刻膠滴落在轉盤上,啟動驅動部件使轉軸旋轉,此時再次對光波箱產生的波長進行調節,使發光板產生光源能夠對轉盤上的光刻膠產生光壓現象,光壓現象:光壓是光子把它的動量傳給物體的結果。設每秒垂直入射到物體表面每平方米上的能量為E,則每秒垂直入射到物體表面每平方米上的光子數為N;因為每一個光子具有動量p,當光子被物體所吸收時,每個光子傳給物體的動量為P1,如果入射光子全部被物體所吸收,則物體表面每平方米在每秒內所獲得的動量應等于N·p。物體表面每平方米在每秒內所獲得的動量,即光作用在這個面上的光壓為E/c;利用此原理可對轉盤上的光刻膠施壓一個外力,從而達到了勻膠不濺灑的效果。
2.通過調節轉動機構,使旋轉桿和滾輪在限位彈簧的拉動下進行移動,使刻物板與遮光盤接觸,形成特定的映像,當勻膠完成后,調節光波箱產生的波長,發光板產生光源,并根據刻物板與轉盤之間的呈像距離,移動調節板和調節彈簧,擴大會縮小發光板的照射范圍,對其進行顯影光刻,從而達到了一次定位無需轉移便可完成光刻工藝的效果。
優選的,所述遮光盤的內部活動連接有刻物板,刻物板的表面雕刻有芯片所需的形狀,且可進行拆卸更換。
優選的,所述遮光盤的兩側活動連接有轉動機構,轉動機構方便刻物板的更換與安裝。
優選的,所述轉動機構包括旋轉桿,旋轉桿遠離遮光盤的一端活動連接有滾輪,滾輪的表面活動連接有導向軌,對滾輪的移動方向起到導向的作用。
優選的,所述旋轉桿的兩側均活動連接有限位彈簧,限位彈簧可起到緩解轉軸旋轉帶來的振動。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





