[發(fā)明專利]一種內(nèi)凹式繞線差分線、印刷電路板及設(shè)計方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911151466.0
• 申請日: 2019-11-21
• 公開（公告）號: CN111031668A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 榮世立;劉法志;李德恒
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: H05K1/16
• 分類號: H05K1/16;H05K3/00;H05K3/10
• 代理公司: 北京連和連知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11278
• 代理人: 張濤

1.一種內(nèi)凹式繞線差分線，其特征在于，所述差分線包括第一線和第二線，所述第一線與所述第二線平行走線，其中：

所述第二線包括正常區(qū)段和繞線區(qū)段，其中所述第二線的正常區(qū)段與所述第一線之間具有第一線間距，所述第二線的繞線區(qū)段與所述第一線之間具有第二線間距，并且第一線間距大于第二線間距；

所述差分線的主參考層在所述第二線的繞線區(qū)段范圍內(nèi)具有斷層。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的差分線，其特征在于，所述第二線的正常區(qū)段的總長度大于所述第二線的繞線區(qū)段的總長度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的差分線，其特征在于，所述第一線和所述第二線具有線寬，所述差分線的主參考層具有參考層間距，所述差分線具有阻抗，所述第二線間距的大小由所述線寬、所述參考層間距以及所述阻抗共同決定。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的差分線，其特征在于，所述第二線包括多個所述繞線區(qū)段，并且每個所述繞線區(qū)段的長度不超過閾值。

5.一種具有內(nèi)凹式繞線差分線的印刷電路板，其特征在于，所述印刷電路板包括內(nèi)凹式繞線差分線，所述差分線包括第一線和第二線，所述第一線與所述第二線平行走線，其中：

所述第二線包括正常區(qū)段和繞線區(qū)段，其中所述第二線的正常區(qū)段與所述第一線之間具有第一線間距，所述第二線的繞線區(qū)段與所述第一線之間具有第二線間距，并且第一線間距大于第二線間距；

所述差分線的主參考層在所述第二線的繞線區(qū)段范圍內(nèi)具有斷層。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的印刷電路板，其特征在于，所述第二線的正常區(qū)段的總長度大于所述第二線的繞線區(qū)段的總長度。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的印刷電路板，其特征在于，所述第一線和所述第二線具有線寬，所述差分線的主參考層具有參考層間距，所述差分線具有阻抗，所述第二線間距的大小由所述線寬、所述參考層間距以及所述阻抗共同決定。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的印刷電路板，其特征在于，所述第二線包括多個所述繞線區(qū)段，并且每個所述繞線區(qū)段的長度不超過閾值。

9.一種內(nèi)凹式繞線差分線的設(shè)計方法，其特征在于，所述方法包括：

選定差分線的第一線和第二線的線寬及所述第一線和所述第二線之間的第一線間距；

檢查印刷電路板上所述差分線的主參考層的參考層間距；

確定所述第二線的應(yīng)具備阻抗；

基于所述線寬、所述參考層間距和所述應(yīng)具備阻抗計算小于所述第一線間距的第二線間距；

在正常走線區(qū)域內(nèi)將所述第一線和所述第二線布置為以所述第一線間距相互平行走線；

在繞線區(qū)域內(nèi)將所述第一線和所述第二線布置為以第二線間距相互平行走線，并且在所述繞線區(qū)域內(nèi)將所述第二線的主參考層挖空。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述基于所述線寬、所述參考層間距和所述阻抗計算小于所述第一線間距的第二線間距進一步包括：

在阻抗計算軟件中輸入所述線寬、所述參考層間距；

以所述第一線間距的一半作為所述第二線間距的選值并輸入到所述阻抗計算軟件中以計算當前選值對應(yīng)的阻抗；

基于阻抗的計算結(jié)果與所述應(yīng)具備阻抗的比較調(diào)整所述第二線間距的選值并再次計算，直至阻抗的計算結(jié)果與所述應(yīng)具備阻抗的比較處于誤差范圍內(nèi)，并以該次計算的所述第二線間距的選值作為所述第二線間距的最終取值。