[發明專利]一種望遠鏡主鏡檢測與標定系統

有效

• 申請號: 201911143434.6
• 申請日: 2019-11-20
• 公開（公告）號: CN110779465B
• 公開（公告）日: 2021-05-04
• 發明（設計）人: 王文攀;王建立;王志臣;李宏壯;李洪文
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 徐麗

本發明公開了一種望遠鏡主鏡檢測與標定系統，包括主鏡和計算全息元件；用于配合計算全息元件對主鏡進行面型檢測的干涉儀；用于配合計算全息元件來獲取主鏡的面型數據以便對主鏡進行面型標定的夏克?哈特曼標定裝置；用于使干涉儀和夏克?哈特曼標定裝置切換工作的反射鏡；與反射鏡相連且用于驅動反射鏡切入或切出的切換驅動裝置，當反射鏡從計算全息元件和干涉儀之間切出時，干涉儀對準計算全息元件和主鏡，以對主鏡進行面型檢測；當反射鏡切入計算全息元件和干涉儀之間時，反射鏡遮擋干涉儀，使夏克?哈特曼標定裝置對準計算全息元件和所述主鏡，以便對主鏡進行面型標定。操作簡單，減小了檢測的復雜性和難度。

技術領域

本發明涉及光學檢測技術領域，更具體地說，涉及一種望遠鏡主鏡檢測與標定系統。

背景技術

在光學檢測技術領域，通常采用干涉儀與計算全息元件(CGH)對望遠鏡的主鏡進行面型檢測，以判斷主鏡的面型是否合格。

而隨著望遠鏡口徑的增大，望遠鏡的主鏡支撐已經由被動支撐轉變為主動支撐，因此，在實際應用中，為了保持鏡面的良好面型，必須利用力促動器對面型進行校正。

為此，現有技術中通常在主鏡檢測階段利用夏克-哈特曼(S-H)系統對主鏡進行面型標定，也即，當采用干涉儀與計算全息元件(CGH)檢測到面型不合格時，將干涉儀撤掉，安裝夏克-哈特曼(S-H)系統并調好位置后，獲取主鏡的面型數據，通過對面型數據進行處理，得到響應函數，進而與力促動器形成閉環，通過力促動器對主鏡的面型進行調整校正。

然而，在主鏡的檢測與標定的過程中，需要頻繁切換干涉儀和夏克-哈特曼(S-H)系統，通過反復測量和響應測試，來保證鏡面的良好面型，不僅操作繁瑣，而且對切換精度和重復精度要求很高，另外，由于干涉儀和夏克-哈特曼(S-H)系統分別與主鏡對準的難度也較大，因此，進一步增加了檢測的復雜性。

綜上所述，如何提供一種能夠減小檢測的復雜性及難度的望遠鏡主鏡檢測與標定系統，是目前本領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的是提供一種望遠鏡主鏡檢測與標定系統，操作簡單，減小了檢測的復雜性和難度。

為了實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種望遠鏡主鏡檢測與標定系統，包括主鏡和計算全息元件，還包括：

用于配合所述計算全息元件對所述主鏡進行面型檢測的干涉儀；

用于配合所述計算全息元件來獲取所述主鏡的面型數據以便對所述主鏡進行面型標定的夏克-哈特曼標定裝置；

用于使所述干涉儀和所述夏克-哈特曼標定裝置切換工作的反射鏡；

與所述反射鏡相連且用于驅動所述反射鏡切入或切出的切換驅動裝置，當所述反射鏡從所述計算全息元件和所述干涉儀之間切出時，所述干涉儀對準所述計算全息元件和所述主鏡，以對所述主鏡進行面型檢測；當所述反射鏡切入所述計算全息元件和所述干涉儀之間時，所述反射鏡遮擋所述干涉儀，并使所述主鏡的焦點折轉至所述夏克-哈特曼標定裝置中，使所述夏克-哈特曼標定裝置對準所述計算全息元件和所述主鏡，以便于對所述主鏡進行面型標定。

優選地，所述反射鏡切入所述計算全息元件和所述干涉儀之間時，所述反射鏡相對所述計算全息元件和所述干涉儀之間的連線方向傾斜45度角，以使所述主鏡的焦點位置折轉90度。

優選地，所述切換驅動裝置包括：

用于設置所述反射鏡的支撐組件；

與所述支撐組件相連且用于驅動所述支撐組件直線往復移動的直線驅動機構。

優選地，所述支撐組件包括：

與所述直線驅動機構的輸出端相連的支撐座；