[發明專利]一種批量化高品質因子硫系懸空微盤制備方法有效
| 申請號: | 201911135771.0 | 申請日: | 2019-11-19 |
| 公開(公告)號: | CN111103740B | 公開(公告)日: | 2021-03-30 |
| 發明(設計)人: | 張斌;宋景翠;李朝暉;潘競順;朱鶯;曾平羊;楊澤林;夏迪 | 申請(專利權)人: | 中山大學 |
| 主分類號: | G02F1/35 | 分類號: | G02F1/35;G03F7/00;G02F1/01 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102 | 代理人: | 王曉玲 |
| 地址: | 510275 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 批量 品質 因子 懸空 制備 方法 | ||
本發明屬于半導體技術領域,更具體地,涉及一種批量化高品質因子硫系懸空微盤制備方法。包括以下步驟:1)在無機襯底上旋涂聚合物電子膠,并通過曝光和顯影技術沿垂直襯底方向制備出圓柱狀結構;2)在電子膠上沉積一層硫系薄膜,以圓柱形為中心,進行圖案化并刻蝕出盤狀結構;3)通過除膠劑去除聚合物電子膠,獲得懸空微盤結構;4)對微盤結構進行熱回流提升品質因子。本發明采用電子膠作為“過渡襯底”,作為微盤的反模板結構和支撐物,方便去除,避免了傳統制備方法中在氧化硅襯底上需要浸泡氫氟酸的問題,也解決了氫氟酸浸泡時間長導致微盤塌陷的現象,環保高效,適合批量化懸空微盤制備,同時適用于多種材料的懸空微盤制備。
技術領域
本發明屬于半導體技術領域,更具體地,涉及一種批量化高品質因子硫系懸空微盤制備方法。
背景技術
回音壁模式光學微腔結構由于具有較高的Q值和較小的模式體積,能夠極大地增強光與物質的相互作用,在光學傳感、非線性光學、腔體光機械學以及腔量子電動力學等研究領域引起人們的廣泛重視。目前已經提出了多種回音壁諧振腔結構,包括微盤、微環、微球、微孔等結構,其中懸空結構可以進一步增強器件的靈敏度。由于硫化物具有很好的紅外通透性、較高的非線性,質軟,楊氏模量較小,是片上集成器件的優異材料。
目前制備硫化物懸空微盤的方法較為復雜,而且成品率較低,原因是硫化物與其他材料(如氮化硅、氧化硅等)相比,質軟,不容易形成支撐結構。其制備方法:首先在二氧化硅襯底上蒸鍍或者生長一定厚度的薄膜材料,然后進行曝光刻蝕,接下來通過套刻將微盤結構保護起來,用濕法或者干法刻蝕掉下面的二氧化硅以及下面的硅襯底,難點部分在于濕法去除二氧化硅層時,速度很難精確控制,刻蝕深度和寬度不能控制,制備難度大,而且二氧化硅需要用氫氟酸去除,具有強腐蝕性。最后去膠得到微盤的懸空結構。該工藝的缺點在于步驟較為復雜,需要進行兩次套刻,兩次刻蝕,刻蝕完成后殘膠的去除也存在一定的難度。
發明內容
本發明為克服上述現有技術中的缺陷,提供一種批量化高品質因子硫系懸空微盤制備方法,制備工藝簡單,避免了傳統制備方法中在氧化硅襯底上需要浸泡氫氟酸的問題。
為解決上述技術問題,本發明采用的技術方案是:一種批量化高品質因子硫系懸空微盤制備方法,包括以下步驟:
S1.在無機材質襯底上旋涂聚合物電子膠,在電子膠上曝光和顯影沿垂直襯底方向制備出圓柱狀結構;
S2.在電子膠上沉積一層硫系薄膜,以硫系材料填充的圓柱狀結構為中心,曝光并刻蝕出盤狀結構;
S3.通過除膠劑去除聚合物電子膠,獲得懸空微盤結構;
S4.對微盤結構進行熱回流提升品質因子。
作為優選的,所述的無機材質為硅、鍺、石英、氧化硅、藍寶石、碳化硅中的任意一種。
作為優選的,所述的曝光方式采用電子束或無掩膜曝光,刻蝕為等離子體干法刻蝕或濕法腐蝕。
作為優選的,所述的聚合物電子膠為聚甲基丙烯酸酯PMMA、ARP、ZEP、NR-9中的任意一種,電子膠的厚度大于等于300nm,不超過2μm。
作為優選的,所述的硫系薄膜為硫化砷As-S、硒化砷As-Se、鍺砷硒Ge-As-Se、砷碲硒As-Te-Se、鍺砷硫Ge-As-S、鍺銻硒Ge-Sb-Se、鍺銻硫Ge-Sb-S中的任意一種。
作為優選的,所述的圓柱狀結構的深度范圍為300nm-42μm,直徑≥200nm;硫系薄膜厚度至少大于圓柱狀結構深度50nm,厚度范圍為0.354μm-5μm;沉積方式為熱蒸鍍、電子束蒸鍍或磁控濺射,沉積速度不超過5nm/分鐘。
作為優選的,所述的盤狀結構的直徑大于圓柱形結構的直徑;盤狀結構為對稱性圓形或非對稱結構。
作為優選的,所述的除膠劑為丙酮或1165除膠劑。
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