[發(fā)明專(zhuān)利]一種OLT光模塊突發(fā)SD/LOS檢測(cè)的方法與裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911128485.1
• 申請(qǐng)日: 2019-11-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110971990B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-05-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭文強(qiáng);蔣旭;侯陽(yáng)洋
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 武漢光谷信息光電子創(chuàng)新中心有限公司;武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): H04Q11/00
• 分類(lèi)號(hào): H04Q11/00;H04B10/077
• 代理公司: 深圳市愛(ài)迪森知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44341
• 代理人: 何婷

本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種OLT光模塊突發(fā)SD/LOS檢測(cè)的方法與裝置，方法包括：通過(guò)控制芯片產(chǎn)生特定的SD/LOS檢測(cè)時(shí)序，并作用于ONU和待測(cè)OLT，使ONU發(fā)送突發(fā)光信號(hào)；待測(cè)OLT接收ONU發(fā)送的光信號(hào)，并向控制芯片反饋突發(fā)的SD/LOS信號(hào)；控制芯片接收待測(cè)OLT反饋的SD/LOS信號(hào)，并通過(guò)沿觸發(fā)或電平觸發(fā)計(jì)數(shù)判斷SD/LOS是否響應(yīng)，進(jìn)而檢測(cè)響應(yīng)電平、去響應(yīng)電平和/或響應(yīng)時(shí)間是否滿(mǎn)足要求。本發(fā)明通過(guò)單控制芯片即可產(chǎn)生特定的檢測(cè)時(shí)序，并采用特殊計(jì)數(shù)檢測(cè)實(shí)現(xiàn)響應(yīng)電平、去響應(yīng)電平及響應(yīng)時(shí)間的測(cè)試，降低了硬件設(shè)備要求與電路實(shí)現(xiàn)難度，測(cè)試復(fù)雜性、成本、測(cè)試效率都有很大優(yōu)化。

【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種OLT光模塊突發(fā)SD/LOS檢測(cè)的方法與裝置。

【背景技術(shù)】

光線路終端(Optical Line Terminal，簡(jiǎn)寫(xiě)為OLT)，是指用于連接光纖干線的終端設(shè)備。在OLT光模塊中，SD(或LOS)是一個(gè)重要的指標(biāo)參數(shù)，如其響應(yīng)不及時(shí)或錯(cuò)誤響應(yīng)會(huì)影響光網(wǎng)絡(luò)單元(Optiocal Network Unit，簡(jiǎn)寫(xiě)為ONU)的正常注冊(cè)與跑流；而且SD/LOS的響應(yīng)時(shí)間要求較嚴(yán)，通常在ns量級(jí)。因此，在實(shí)際應(yīng)用中，通常需要對(duì)突發(fā)SD/LOS的響應(yīng)是否滿(mǎn)足要求進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)響應(yīng)電平、去響應(yīng)電平和響應(yīng)時(shí)間進(jìn)行測(cè)試。其中，SD/LOS表示“SD或LOS”，LOS為SD的反相。

傳統(tǒng)的測(cè)試方法中，一般是通過(guò)發(fā)送高精度的邏輯時(shí)序作用于ONU和待測(cè)OLT，再通過(guò)示波器或邏輯電路來(lái)測(cè)試SD/LOS的電平變化與時(shí)間延遲。如果采用邏輯電路，則模擬系統(tǒng)時(shí)序沿時(shí)間測(cè)試，由于需要發(fā)送高精度的邏輯時(shí)序，并檢測(cè)沿與沿之間的時(shí)間延遲，因此對(duì)邏輯電路的性能要求很高；如果采用示波器，將會(huì)增加設(shè)備投入，而且需要增加對(duì)示波器的控制讀取，成本高昂且控制復(fù)雜。因此，對(duì)于OLT光模塊中的突發(fā)SD/LOS檢測(cè)，尤其是批量化測(cè)試，急需一種簡(jiǎn)單有效、易于控制的測(cè)試方法和裝置。

鑒于此，克服上述現(xiàn)有技術(shù)所存在的缺陷是本技術(shù)領(lǐng)域亟待解決的問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

本發(fā)明需要解決的技術(shù)問(wèn)題是：

對(duì)于OLT光模塊的突發(fā)SD/LOS檢測(cè)，如果采用邏輯電路模擬系統(tǒng)時(shí)序沿時(shí)間測(cè)試，對(duì)邏輯電路的性能要求很高，如果采用示波器則會(huì)增加設(shè)備投入，而且成本高昂、控制復(fù)雜，因此急需一種簡(jiǎn)單有效、易于控制的測(cè)試方法和裝置。

本發(fā)明通過(guò)如下技術(shù)方案達(dá)到上述目的：

第一方面，本發(fā)明提供了一種OLT光模塊突發(fā)SD/LOS檢測(cè)的方法，包括：

通過(guò)控制芯片產(chǎn)生特定的SD/LOS檢測(cè)時(shí)序，并作用于ONU和待測(cè)OLT，使ONU發(fā)送突發(fā)光信號(hào)；其中，所述SD/LOS檢測(cè)時(shí)序可調(diào)節(jié)；

所述待測(cè)OLT接收所述ONU發(fā)送的光信號(hào)，并向所述控制芯片反饋突發(fā)的SD/LOS信號(hào)；

所述控制芯片接收待測(cè)OLT反饋的SD/LOS信號(hào)，并通過(guò)沿觸發(fā)或電平觸發(fā)計(jì)數(shù)判斷SD/LOS是否響應(yīng)，進(jìn)而檢測(cè)SD/LOS的響應(yīng)電平、去響應(yīng)電平和/或響應(yīng)時(shí)間是否滿(mǎn)足要求。

優(yōu)選的，所述通過(guò)控制芯片產(chǎn)生特定的SD/LOS檢測(cè)時(shí)序，并作用于ONU和待測(cè)OLT，具體為：

通過(guò)控制芯片輸出同步且特定相位差的BEN脈沖信號(hào)和RST脈沖信號(hào)；所述BEN脈沖信號(hào)作用于ONU，并用于控制所述ONU發(fā)送突發(fā)光信號(hào)；所述RST脈沖信號(hào)作用于待測(cè)OLT，并用于復(fù)位所述待測(cè)OLT的SD/LOS鎖存狀態(tài)；

其中，所述BEN脈沖信號(hào)和所述RST脈沖信號(hào)各自的脈沖寬度以及相位位置均為可調(diào)節(jié)，且響應(yīng)時(shí)間是通過(guò)調(diào)節(jié)所述BEN脈沖信號(hào)和所述RST脈沖信號(hào)的脈沖寬度和/或相位位置來(lái)調(diào)節(jié)。