[發明專利]一種半閉環控制激光器

有效

• 申請號: 201911127584.8
• 申請日: 2019-11-18
• 公開（公告）號: CN110854654B
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 劉超;盧昆忠;閆大鵬;王志源;李輝
• 申請（專利權）人: 無錫銳科光纖激光技術有限責任公司
• 主分類號: H01S3/00
• 分類號: H01S3/00;H01S3/13;H01S5/0683
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 鄭朝然

本發明實施例提供一種半閉環控制激光器，該激光器包括：若合束模塊接收到校準信號，合束模塊用于根據預設校準功率點計算出目標校準電壓，將預設校準功率點對應的目標校準電壓發送給從控模塊；驅動器用于根據目標校準電壓產生目標校準電流，泵浦源用于根據目標校準電流發出子激光；合束模塊對子激光進行合束得到總光束；光電二極管用于檢測裸纖處的光強度，并生成實際檢測電壓；合束模塊還用于將標準檢測電壓和所述實際檢測電壓進行比較，調整所述目標校準電壓的大小，直到獲取最優校準電壓。本發明實施例通過半閉環的方式對激光器進行校準，沒有使用防反射的光學器件，減少了激光器成本，降低了用戶壓力。

技術領域

本發明涉及激光器技術領域，尤其涉及一種半閉環控制激光器。

背景技術

在傳統激光器中一般采用開環的控制方案，一般是由MCU、DSP或FPGA等控制器來接收用戶所需要的激光功率值，再從自身或外部數模轉換器來輸出與激光功率值相對應的電壓值，由此電壓或由此電壓轉變后的電流來驅動ACDC電源來發出相應的電流，從而驅動泵浦源，進而得到用戶所需要的功率的激光。

但是，在這種傳統的應用方案中，如果用戶在使用過程中使激光頭垂直于受光物體，那么受光物體是有可能產生反射的。因此，通過增加防反射的光學器件，可以使光電二極管收到的光功率和用戶所需相差不大，從而能正常閉環。但光學器件成本較貴，會導致激光器成本大幅增加。

因此，亟需一種低成本的激光器。

發明內容

為了解決上述問題，本發明實施例提供一種半閉環控制激光器。

本發明實施例提供一種半閉環控制激光器，包括：若干從控模塊、合束模塊和光電二極管，其中，對于任一從控模塊，所述任一從控模塊中包括若干個驅動器和若干個泵浦源，每一驅動器與每一泵浦源連接，每一泵浦源通過光纖與所述合束模塊連接；

若所述合束模塊接收到校準信號，所述合束模塊用于根據若干預設校準功率點計算出若干目標校準電壓，對于任一預設校準功率點，將所述任一預設校準功率點對應的目標校準電壓發送給每一從控模塊；

所述任一從控模塊中每一驅動器用于根據所述目標校準電壓產生目標校準電流，每一泵浦源用于根據所述目標校準電流發出相應功率大小的子激光；

所述合束模塊用于對每一從控模塊中每一泵浦源發出的子激光進行合束得到總光束，所述總光束經過裸纖后，從所述合束模塊射出；

所述光電二極管覆蓋在所述裸纖上，所述光電二極管的兩端與所述合束模塊連接，所述光電二極管用于檢測所述裸纖處的光強度，并生成實際檢測電壓；

所述合束模塊還用于將所述任一預設校準功率點對應的標準檢測電壓和所述實際檢測電壓進行比較，若兩者之間的誤差在預設范圍之外，調整所述目標校準電壓的大小，直到獲取最優校準電壓，所述最優校準電壓對應的實際檢測電壓和所述任一預設校準功率點對應的標準檢測電壓之差在所述預設范圍之內。

優選地，所述任一預設校準功率點對應的標準檢測電壓，具體通過如下方式獲得：

在所述半閉環控制激光器出廠之前，所述合束模塊根據所述任一預設校準功率點，測量出所述任一預設校準功率點對應的目標標準電壓；

所述任一從控模塊中每一驅動器用于根據所述目標標準電壓產生目標標準電流，每一泵浦源用于根據所述目標標準電流發出相應功率大小的子激光；

所述合束模塊用于對每一從控模塊中每一泵浦源發出的子激光進行合束得到總光束；

所述光電二極管用于檢測所述裸纖處所述總光束的光強度，并生成所述任一預設校準功率點對應的標準檢測電壓。

優選地，還包括光束輸出頭，所述光束輸出頭與所述合束模塊連接，其中：