[發明專利]一種半閉環控制激光器

有效

• 申請號: 201911127584.8
• 申請日: 2019-11-18
• 公開（公告）號: CN110854654B
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 劉超;盧昆忠;閆大鵬;王志源;李輝
• 申請（專利權）人: 無錫銳科光纖激光技術有限責任公司
• 主分類號: H01S3/00
• 分類號: H01S3/00;H01S3/13;H01S5/0683
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 鄭朝然

1.一種半閉環控制激光器，其特征在于，包括：若干從控模塊、合束模塊和光電二極管，其中，對于任一從控模塊，所述任一從控模塊中包括若干個驅動器和若干個泵浦源，每一驅動器與每一泵浦源連接，每一泵浦源通過光纖與所述合束模塊連接；

若所述合束模塊接收到校準信號，所述合束模塊用于根據若干預設校準功率點計算出若干目標校準電壓，對于任一預設校準功率點，將所述任一預設校準功率點對應的目標校準電壓發送給每一從控模塊；

所述任一從控模塊中每一驅動器用于根據所述目標校準電壓產生目標校準電流，每一泵浦源用于根據所述目標校準電流發出相應功率大小的子激光；

所述合束模塊用于對每一從控模塊中每一泵浦源發出的子激光進行合束得到總光束，所述總光束經過裸纖后，從所述合束模塊射出；

所述光電二極管覆蓋在所述裸纖上，所述光電二極管的兩端與所述合束模塊連接，所述光電二極管用于檢測所述裸纖處的光強度，并生成實際檢測電壓；

所述合束模塊還用于將所述任一預設校準功率點對應的標準檢測電壓和所述實際檢測電壓進行比較，若兩者之間的誤差在預設范圍之外，調整所述目標校準電壓的大小，直到獲取最優校準電壓，所述最優校準電壓對應的實際檢測電壓和所述任一預設校準功率點對應的標準檢測電壓之差在所述預設范圍之內。

2.根據權利要求1所述半閉環控制激光器，其特征在于，所述任一預設校準功率點對應的標準檢測電壓，具體通過如下方式獲得：

在所述半閉環控制激光器出廠之前，所述合束模塊根據所述任一預設校準功率點，測量出所述任一預設校準功率點對應的目標標準電壓；

所述任一從控模塊中每一驅動器用于根據所述目標標準電壓產生目標標準電流，每一泵浦源用于根據所述目標標準電流發出相應功率大小的子激光；

所述合束模塊用于對每一從控模塊中每一泵浦源發出的子激光進行合束得到總光束；

所述光電二極管用于檢測所述裸纖處所述總光束的光強度，并生成所述任一預設校準功率點對應的標準檢測電壓。

3.根據權利要求1所述半閉環控制激光器，其特征在于，還包括光束輸出頭，所述光束輸出頭與所述合束模塊連接，其中：

若所述合束模塊未接收到所述校準信號，所述合束模塊用于根據目標輸出功率計算出目標輸出電壓；

所述任一從控模塊中每一驅動器用于根據所述目標輸出電壓產生目標輸出電流，每一泵浦源用于根據所述目標輸出電流發出相應功率大小的子激光；

所述合束模塊用于對每一從控模塊中每一泵浦源發出的子激光進行合束得到總光束；

所述總光束經過裸纖后，從所述合束模塊射出；

從所述合束模塊輸出的總光束經過所述光束輸出頭后輸出。

4.根據權利要求3所述半閉環控制激光器，其特征在于，所述合束模塊用于根據目標輸出功率計算出目標輸出電壓，具體為：

所述合束模塊還用于存儲每一預設校準功率點和每一預設校準功率點對應的最優校準電壓；

若所述目標輸出功率與任一預設校準功率點相等，所述合束模塊從存儲單元中直接獲取對應的最優校準電壓，將所述最優校準電壓作為目標輸出電壓。

5.根據權利要求3所述半閉環控制激光器，其特征在于，所述合束模塊用于根據目標輸出功率計算出目標輸出電壓，具體為：

所述合束模塊還用于根據每一預設校準功率點對應的最優校準電壓和每一預設校準功率點對應的目標校準電壓，獲取校準關系；

根據所述目標輸出功率和所述校準關系，計算出所述目標輸出電壓。

6.根據權利要求1所述半閉環控制激光器，其特征在于，每一預設校準功率點中至少包括所述半閉環控制激光器的最大功率點和最小功率點。