[發明專利]一種通過激光測量待測目標距離的方法和裝置有效
| 申請號: | 201911124059.0 | 申請日: | 2019-11-18 |
| 公開(公告)號: | CN110596726B | 公開(公告)日: | 2020-03-03 |
| 發明(設計)人: | 駱龍;侴智;陳培 | 申請(專利權)人: | 深圳市邁測科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01S17/10 | 分類號: | G01S17/10 |
| 代理公司: | 成都七星天知識產權代理有限公司 51253 | 代理人: | 楊永梅 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區桃源街*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 通過 激光 測量 目標 距離 方法 裝置 | ||
本申請實施例之一提供一種通過激光測量待測目標距離的方法和裝置。所述方法包括:由測試模塊向待測目標發射第一激光束,所述第一激光束對應第一周期序列;由激光接收模塊接收經所述待測目標反射的第一激光束,并與本振信號混頻生成第一測量信號,所述第一測量信號對應第二周期序列;至少根據所述第二周期序列中一個或多個信號的位置,確定一個或多個發射窗口,并由激光發射模塊根據所述一個或多個發射窗口向所述待測目標發射第二激光束;由所述激光接收模塊接收經所述待測目標反射的第二激光束,并與所述本振信號混頻生成第二測量信號;以及基于所述第二測量信號和參考信號計算測距裝置至所述待測目標的距離。
技術領域
本申請涉及測距領域,特別涉及一種利用激光信號進行測距的方法和裝置。
背景技術
激光測距被廣泛應用于工業、建筑業、安全監測等多個領域。傳統的激光測距裝置一般通過與本振信號的混頻,實現對測量信號的降頻,存在激光利用率低、測試距離短、抗干擾能力差、測量結果存在誤差等缺陷。因此,希望提供一種激光利用率高、實施方便、抗干擾能力強、具有較高精確度的方法,實現不同距離的準確測距。
發明內容
本申請實施例之一提供一種通過激光測量待測目標距離的方法。所述方法包括:由測試模塊向待測目標發射第一激光束,所述第一激光束對應第一周期序列;由激光接收模塊接收經所述待測目標反射的第一激光束,并與本振信號混頻生成第一測量信號,所述第一測量信號對應第二周期序列;至少根據所述第二周期序列中一個或多個信號的位置,確定一個或多個發射窗口,并由激光發射模塊根據所述一個或多個發射窗口向所述待測目標發射第二激光束;由所述激光接收模塊接收經所述待測目標反射的第二激光束,并與所述本振信號混頻生成第二測量信號;以及基于所述第二測量信號和參考信號計算測距裝置至所述待測目標的距離。
在一些實施例中,所述第二周期序列的頻率等于所述第一周期序列和所述本振信號的頻率之差。在一些實施例中,所述第一激光束的持續時間大于或等于所述第二周期序列的信號周期。在一些實施例中,所述第一激光束的持續時間至少是所述第二周期序列的信號周期的1至5倍。在一些實施例中,所述第一激光束的持續時間小于所述第二周期序列的信號周期。
在一些實施例中,所述第二激光束為在所述一個或多個發射窗口內發射激光,在所述一個或多個發射窗口外停止發射激光。在一些實施例中,所述第二激光束在所述一個或多個發射窗口內的峰值強度高于所述第一激光束的峰值強度。在一些實施例中,所述第二激光束為在所述一個或多個發射窗口內的峰值強度高于在所述一個或多個發射窗口外的峰值強度。
在一些實施例中,所述至少根據所述第二周期序列中一個或多個信號的位置,確定一個或多個發射窗口包括:根據所述第二周期序列中一個或多個信號的位置,確定一個或多個所述第一周期序列的信號的預估位置;以及根據所述第一周期序列的所述一個或多個信號的預估位置確定所述一個或多個發射窗口,每個所述發射窗口至少覆蓋一個所述預估位置。
在一些實施例中,至少一個所述信號的預估位置位于其對應發射窗口的中心。在一些實施例中,至少一個所述信號的預估位置位于其對應的發射窗口的中心偏右的位置。
在一些實施例中,所述一個或多個發射窗口的重復頻率等同于所述周期序列的重復頻率。在一些實施例中,所述一個或多個發射窗口的寬度至少是所述第一周期序列的信號周期的1至3倍。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市邁測科技股份有限公司,未經深圳市邁測科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911124059.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:基于插值的飛行時間測量方法及測量系統
- 下一篇:輸出精度信息的測距裝置





