[發明專利]一種針筒檢測方法及裝置有效
| 申請號: | 201911113640.2 | 申請日: | 2019-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN110721930B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發明(設計)人: | 史祥軍;韋篩成;陳小飛;李玉平 | 申請(專利權)人: | 無錫慧動利信息科技有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/342 | 分類號: | B07C5/342 |
| 代理公司: | 北京伊諾未來知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11700 | 代理人: | 楊群 |
| 地址: | 214000 江蘇省無錫市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 針筒 檢測 方法 裝置 | ||
本發明公開了一種針筒檢測方法及裝置,包括以下步驟:采集所述針筒的圖像,并將所述圖像顯示在顯示器上,所述圖像包括俯視圖、側視圖;將所述圖像進行二值化操作,并設置二值化閾值,生成二值化圖像;在所述二值化圖像上繪制校正物像比的線段,并接收所述線段對應的實際距離,調整所述二值化圖像的比例;在所述二值化圖像上繪制檢測框架,設置所述檢測框架的參數;當所述檢測框架符合一定條件時,判斷所述二值化圖像不合格,生成所述二值化圖像對應的所述針筒不合格信號;發送所述不合格信號。本發明檢測方便準確,只需人為設置合適的參數,入料、拍攝、分析檢測、剔除、出料均不需人為干預,檢測快速便捷,提高效率,提高檢測準確率。
技術領域
本發明涉及視覺檢測,具體是一種針筒檢測方法及裝置。
背景技術
一次性針筒在目前的醫療領域比較常見,但是在生產一次性針筒之后,如何檢測針筒內部的必要部件是否存在、是否處于正確位置,以及是否有異物出現,目前檢測一般是人工檢測,檢測人員手持針筒一只一只的檢查其內是否包含必要的部件、各個必要部件是否處在正確位置,例如有沒有膠塞、有沒有針套、有沒有一次性鋼片等,還要查看有沒有異物的出現,例如毛發、雜質等,但是人為檢測的方法一是效率低,而是檢測不完全,有些雜質肉眼看不清,但是會影響針筒的使用,造成不合格品較多,檢測較慢。
發明內容
為解決上述現有技術的缺陷,本發明提供一種針筒檢測方法及裝置,本發明檢測方便準確,只需人為設置合適的參數,入料、拍攝、分析檢測、剔除、出料均不需人為干預,檢測快速便捷,提高效率,提高檢測準確率。
為實現上述技術目的,本發明采用如下技術方案:一種針筒檢測方法,包括以下步驟:
采集針筒的圖像,并將圖像顯示在顯示器上,圖像包括俯視圖、側視圖,其中,俯視圖和側視圖均是由CCD相機采集得到的;
將圖像進行二值化操作,并設置二值化閾值,生成二值化圖像,其中,二值化圖像包括二值化俯視圖和二值化側視圖;
在二值化圖像上繪制校正物像比的線段,并接收線段對應的實際距離,調整二值化圖像的比例;
在二值化圖像上繪制檢測框架,設置檢測框架的參數;
當檢測框架符合一定條件時,判斷二值化圖像不合格,生成二值化圖像對應的針筒不合格信號;
發送不合格信號,其中,不合格信號用于控制氣缸將不合格品推出。
進一步地,在二值化圖像上繪制檢測框架,設置檢測框架的參數具體包括以下步驟:
在二值化俯視圖上繪制檢測框架,設置檢測框架的參數;
在二值化側視圖上繪制檢測框架,設置檢測框架的參數。
進一步地,在二值化俯視圖上繪制檢測框架,設置檢測框架的參數具體包括以下步驟:
繪制二值化俯視圖的頂部定位框架,并設置頂部定位框架的參數,其中,頂部定位框架包括一號頂部定位框架和二號頂部定位框架,二號頂部定位框架跟隨一號頂部定位框架移動,一號頂部定位框架抓取針筒上邊緣,二號頂部定位框架抓取針筒側邊緣;
在二值化俯視圖上繪制缺膠檢測框架,并設置缺膠檢測框架的參數;
在二值化俯視圖上繪制三個臟污檢測圓形框架,并設置臟污檢測圓形框架的參數。
進一步地,在二值化側視圖上繪制檢測框架,設置檢測框架的參數具體包括以下步驟:
繪制二值化側視圖的側面定位框架,并設置側面定位框架的參數,其中,側面定位框架包括一號側面定位框架和二號側面定位框架,一號側面定位框架跟隨二號側面定位框架移動,一號側面定位框架抓取針筒膠塞上側的白色,二號側面定位框架抓取膠塞側邊的黑色;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于無錫慧動利信息科技有限公司,未經無錫慧動利信息科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911113640.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種外觀件檢查機
- 下一篇:一種色選裝置及其在珠寶色選中的應用





