[發明專利]光通道測量機

在審

• 申請號: 201911112551.6
• 申請日: 2019-11-14
• 公開（公告）號: CN111307832A
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發明（設計）人: 周豐偉;康信坤;徐彬
• 申請（專利權）人: 無錫富瑞德測控儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N21/954
• 分類號: G01N21/954
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104
• 代理人: 殷紅梅;屠志力

本發明提供一種光通道測量機，包括：測量裝置、入料輥道、合格輥道、不合格輥道、側推機構、以及配套的電控裝置；所述入料輥道與合格輥道裝配成沿直線方向布設；在入料輥道與合格輥道相銜接位置設置測量工位，測量裝置安裝在所述測量工位；在合格輥道的所述測量工位下游的一側設置不合格輥道，并且在另一側設置側推機構；所述測量裝置用于對待測部件的內孔道進行光檢測。具體地，所述測量裝置包括升降框架、上部升降機構、下部升降機構、上測頭組、下測頭組；所述上部升降機構和下部升降機構分別安裝在升降框架上。本發明能夠對待測部件的內孔道進行檢測，減少對內壁的傷害。

技術領域

本發明屬于自動化測量領域，尤其是一種光通道測量機。

背景技術

在發動機部件的鑄造工藝期間，因為工藝步驟復雜，鑄道上會發生各式各樣的損傷。部件中水道和油道等內部構造復雜，無法使用其他技術輕松可靠地進行檢測，可能會存在各種局部鑄造缺陷、嵌有機加工碎片的區域和砂芯的殘留物等問題，造成嚴重的質量問題。

現有的測量方法，大多采用氣動測量的方式，但是氣動測量頭與待測工件同一孔徑的不同部位發生多次相對運轉，會造成孔壁劃傷等技術問題。專利[CN201721217829.2]提出的一種氣動量儀測頭與氣動量儀測量裝置，通過設計氣動測量儀的測頭結構，使得待測件只需放置一次，就可以完成多個測量部位的測量，在一定程度上，減少了內壁的劃傷問題，但是仍然需要測頭與待測孔徑內壁緊密相接，造成一定的劃傷損壞，現有技術無法解決這一問題。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術中存在的不足，提供一種光通道測量機，能夠對待測部件的內孔道進行檢測，減少對內壁的傷害。本發明采用的技術方案是：

一種光通道測量機，包括：測量裝置、入料輥道、合格輥道、不合格輥道、側推機構、以及配套的電控裝置；

所述入料輥道與合格輥道裝配成沿直線方向布設；在入料輥道與合格輥道相銜接位置設置測量工位，測量裝置安裝在所述測量工位；

在合格輥道的所述測量工位下游的一側設置不合格輥道，并且在另一側設置側推機構；

所述測量裝置用于對待測部件的內孔道進行光檢測。

具體地，所述測量裝置包括升降框架、上部升降機構、下部升降機構、上測頭組、下測頭組；

所述上部升降機構和下部升降機構分別安裝在升降框架上；下部升降機構位于上部升降機構的下方；

上測頭組安裝在上安裝部件上，上安裝部件連接在上部升降機構；

下測頭組安裝在下安裝部件上，下安裝部件連接在下部升降機構；

上測頭組和下側頭組中均包括多個測頭；上測頭組和下側頭組中的測頭按照待測部件的檢測需要對應設置；

各測頭中包括光發射單元和/或光接收傳感器單元。

進一步地，測頭中的光發射單元采用940nm或850nm的近紅外波段LED光源；測頭中的光接收傳感器單元采用紅外硅光二極管。

進一步地，上部升降機構、下部升降機構均采用拖鏈機構。

進一步地，合格輥道上還設有刻印工位；刻印工位上方布設一壓緊機構；刻印工位一側設置一套刻印裝置。

進一步地，測量工位上還設有定位夾具。

進一步地，合格輥道上測量工位前側設有阻擋機構。

進一步地，合格輥道上設有數個部件工位，每個部件工位前側均設有阻擋機構。

進一步地，上測頭組和下測頭組中，部分測頭能夠多角度移動。

本發明的優點在于：