[發(fā)明專利]光通道測(cè)量機(jī)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911112551.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-11-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111307832A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周豐偉;康信坤;徐彬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫富瑞德測(cè)控儀器股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/954 | 分類號(hào): | G01N21/954 |
| 代理公司: | 無(wú)錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 殷紅梅;屠志力 |
| 地址: | 214192 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通道 測(cè)量 | ||
1.一種光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,包括:測(cè)量裝置(1)、入料輥道(2)、合格輥道(3)、不合格輥道(4)、側(cè)推機(jī)構(gòu)、以及配套的電控裝置;
所述入料輥道(2)與合格輥道(3)裝配成沿直線方向布設(shè);在入料輥道(2)與合格輥道(3)相銜接位置設(shè)置測(cè)量工位,測(cè)量裝置(1)安裝在所述測(cè)量工位;
在合格輥道(3)的所述測(cè)量工位下游的一側(cè)設(shè)置不合格輥道(4),并且在另一側(cè)設(shè)置側(cè)推機(jī)構(gòu);
所述測(cè)量裝置(1)用于對(duì)待測(cè)部件的內(nèi)孔道進(jìn)行光檢測(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,
所述測(cè)量裝置(1)包括升降框架(101)、上部升降機(jī)構(gòu)(102)、下部升降機(jī)構(gòu)(103)、上測(cè)頭組(104)、下測(cè)頭組(105);
所述上部升降機(jī)構(gòu)(102)和下部升降機(jī)構(gòu)(103)分別安裝在升降框架(101)上;下部升降機(jī)構(gòu)(103)位于上部升降機(jī)構(gòu)(102)的下方;
上測(cè)頭組(104)安裝在上安裝部件(106)上,上安裝部件(106)連接在上部升降機(jī)構(gòu)(102);
下測(cè)頭組(105)安裝在下安裝部件(107)上,下安裝部件(107)連接在下部升降機(jī)構(gòu)(103);
上測(cè)頭組(104)和下側(cè)頭組(105)中均包括多個(gè)測(cè)頭;上測(cè)頭組(104)和下側(cè)頭組(105)中的測(cè)頭按照待測(cè)部件的檢測(cè)需要對(duì)應(yīng)設(shè)置;
各測(cè)頭中包括光發(fā)射單元和/或光接收傳感器單元。
3.如權(quán)利要求2所述的光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,
測(cè)頭中的光發(fā)射單元采用940nm或850nm的近紅外波段LED光源;測(cè)頭中的光接收傳感器單元采用紅外硅光二極管。
4.如權(quán)利要求2所述的光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,
上部升降機(jī)構(gòu)(102)、下部升降機(jī)構(gòu)(103)均采用拖鏈機(jī)構(gòu)。
5.如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,
合格輥道(3)上還設(shè)有刻印工位;刻印工位上方布設(shè)一壓緊機(jī)構(gòu);刻印工位一側(cè)設(shè)置一套刻印裝置。
6.如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,
測(cè)量工位上還設(shè)有定位夾具。
7.如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,
合格輥道(3)上測(cè)量工位前側(cè)設(shè)有阻擋機(jī)構(gòu)。
8.如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,
合格輥道(3)上設(shè)有數(shù)個(gè)部件工位,每個(gè)部件工位前側(cè)均設(shè)有阻擋機(jī)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的光通道測(cè)量機(jī),其特征在于,
上測(cè)頭組(104)和下測(cè)頭組(105)中,部分測(cè)頭能夠多角度移動(dòng)。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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