[發(fā)明專利]一種三維存儲(chǔ)器的溝道制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911100076.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-11-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110808251A | 公開(公告)日: | 2020-02-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 夏志良;霍宗亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L27/11524 | 分類號(hào): | H01L27/11524;H01L27/11521;H01L27/11568;H01L27/1157 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 張雪嬌 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 三維 存儲(chǔ)器 溝道 制備 方法 | ||
本申請(qǐng)公開了一種三維存儲(chǔ)器的溝道孔的制備方法,所述三維存儲(chǔ)器的溝道孔的制備方法在對(duì)疊層結(jié)構(gòu)進(jìn)行刻蝕形成溝道孔的過程中,采取了分段刻蝕操作,即對(duì)疊層結(jié)構(gòu)進(jìn)行多次刻蝕,每次刻蝕僅刻蝕部分所述疊層結(jié)構(gòu),下一次刻蝕在上一次刻蝕形成的凹槽的基礎(chǔ)上進(jìn)行,避免了單次刻蝕形成溝道孔可能出現(xiàn)的頂端尺寸過大而底部尺寸過小的情況出現(xiàn),有利于形成尺寸較為均一的溝道,從而有利于提升三維存儲(chǔ)器的電學(xué)性能。并且在相鄰兩段刻蝕操作之間還形成了覆蓋所述溝道孔兩側(cè)暴露出的疊層結(jié)構(gòu)的側(cè)壁的保護(hù)層,以對(duì)疊層結(jié)構(gòu)暴露在溝道孔的側(cè)壁進(jìn)行保護(hù),避免下一次刻蝕對(duì)疊層結(jié)構(gòu)的側(cè)壁造成損壞的情況出現(xiàn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及存儲(chǔ)器技術(shù)領(lǐng)域,更具體地說,涉及一種三維存儲(chǔ)器的溝道制備方法。
背景技術(shù)
存儲(chǔ)器(Memory)是現(xiàn)代信息技術(shù)中用于保存信息的記憶設(shè)備。隨著各類電子設(shè)備對(duì)集成度和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)密度的需求的不斷提高,普通的二維存儲(chǔ)器很難做到進(jìn)一步提高其集成度和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)密度,因此,三維(3D)存儲(chǔ)器應(yīng)運(yùn)而生。
三維NAND(與非)存儲(chǔ)器是三維閃速存儲(chǔ)器的一種,參考圖1和圖2,現(xiàn)有技術(shù)中在制備三維NAND存儲(chǔ)器的溝道時(shí),首先需要在基板10上的疊層結(jié)構(gòu)20中刻蝕多個(gè)溝道孔21,然后再在溝道孔21中沉積溝道材料,以形成三維NAND存儲(chǔ)器的溝道。
但是隨著三維NAND存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)密度的增加,基板上所需設(shè)置的疊層結(jié)構(gòu)的層數(shù)也就越多,這使得在疊層結(jié)構(gòu)中利用刻蝕工藝形成溝道孔時(shí),溝道孔的尺寸愈加難以控制,可能會(huì)出現(xiàn)溝道孔頂端的尺寸過大而底部尺寸過小的情況,使得后續(xù)形成于溝道孔中的溝道的尺寸也會(huì)出現(xiàn)“下小上大”的情況,給三維NAND存儲(chǔ)器的電學(xué)性能造成不良影響。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問題,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N三維存儲(chǔ)器的溝道孔的制備方法,以實(shí)現(xiàn)避免在溝道孔的刻蝕過程中出現(xiàn)頂端尺寸過大而底部尺寸過小的情況出現(xiàn)的目的,提升三維存儲(chǔ)器的電學(xué)性能。
為實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了如下技術(shù)方案:
一種三維存儲(chǔ)器的溝道孔的制備方法,包括:
提供襯底,所述襯底表面具有疊層結(jié)構(gòu);
對(duì)所述疊層結(jié)構(gòu)進(jìn)行分段刻蝕操作,以形成多個(gè)貫穿所述疊層結(jié)構(gòu)且暴露出所述襯底的溝道孔;
對(duì)所述疊層結(jié)構(gòu)的每段刻蝕操作刻蝕掉所述襯底表面的溝道形成區(qū)域上的部分疊層結(jié)構(gòu);
相鄰兩段刻蝕操作之間還包括:
形成覆蓋所述溝道孔兩側(cè)暴露出的疊層結(jié)構(gòu)的側(cè)壁的保護(hù)層。
可選的,所述對(duì)所述疊層結(jié)構(gòu)的每段刻蝕操作包括:
刻蝕掉所述襯底表面的溝道形成區(qū)域上所述疊層結(jié)構(gòu)總厚度N分之一厚度的疊層結(jié)構(gòu),N等于對(duì)所述疊層結(jié)構(gòu)進(jìn)行的分段刻蝕操作的總次數(shù)。
可選的,N=2;所述對(duì)所述疊層結(jié)構(gòu)進(jìn)行分段刻蝕操作包括:
對(duì)所述疊層結(jié)構(gòu)進(jìn)行第一次刻蝕操作,以形成貫穿所述疊層結(jié)構(gòu)總厚度二分之一的第一凹槽;
在所述第一凹槽兩側(cè)的疊層結(jié)構(gòu)的側(cè)壁表面形成所述保護(hù)層;
在所述第一凹槽中進(jìn)行第二次刻蝕操作,以形成貫穿剩余所述疊層結(jié)構(gòu)并暴露出所述襯底的第二凹槽;
在所述第二凹槽兩側(cè)的疊層結(jié)構(gòu)的側(cè)壁表面形成所述保護(hù)層;
所述第一凹槽和第二凹槽構(gòu)成所述三維存儲(chǔ)器的溝道孔。
可選的,所述在所述第一凹槽中進(jìn)行第二次刻蝕操作,以形成貫穿剩余所述疊層結(jié)構(gòu)并暴露出所述襯底的第二凹槽包括:
在所述第一凹槽中進(jìn)行第二次刻蝕操作,以形成貫穿剩余所述疊層結(jié)構(gòu)以及部分所述襯底的第二凹槽。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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