[發明專利]一種電路可靠性邏輯仿真方法、裝置、設備及存儲介質在審
| 申請號: | 201911099025.0 | 申請日: | 2019-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN110866370A | 公開(公告)日: | 2020-03-06 |
| 發明(設計)人: | 吳玉平;陳嵐;張學連 | 申請(專利權)人: | 中國科學院微電子研究所 |
| 主分類號: | G06F30/367 | 分類號: | G06F30/367;G06F119/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 吳夢圓 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電路 可靠性 邏輯 仿真 方法 裝置 設備 存儲 介質 | ||
本發明實施例公開了一種電路可靠性邏輯仿真方法、裝置、設備及存儲介質,該方法包括:獲取各電子元器件的當前工作溫度和各電子元器件的當前元器件參數;根據各電子元器件的當前工作溫度和各電子元器件的當前元器件參數,對電路進行可靠性邏輯仿真,得到當前電路可靠性邏輯仿真結果。本發明實施例通過采用電路可靠性邏輯仿真的方式,提高了電路可靠性仿真的速度,并且采用將電子元器件的工作溫度參與到電路可靠性邏輯仿真的方式,提高了電路可靠性仿真的準確性。
技術領域
本發明實施例涉及電路仿真技術,尤其涉及一種電路可靠性邏輯仿真方法、裝置、設備及存儲介質。
背景技術
為了保證電路的可靠性,通常需要對電路進行電路可靠性仿真。
現有技術中,通常采用瞬態仿真的方式對電路進行可靠性仿真,具體的:獲得各晶體管的上一應力和上一電路可靠性瞬態仿真次數。根據各晶體管的上一應力,計算各晶體管的當前應力。根據各晶體的當前應力,計算各晶體管的當前晶體管參數。根據各晶體管的當前晶體管參數,對電路進行可靠性瞬態仿真,得到當前電路可靠性瞬態仿真結果,并根據上一電路可靠性瞬態仿真次數,得到當前電路可靠性瞬態仿真次數。如果當前電路可靠性瞬態仿真次數小于等于仿真次數閾值,則將當前電路可靠性瞬態仿真結果作為新的上一電路可靠性瞬態仿真結果,并重復執行計算各晶體管的當前應力、計算當前電路可靠性瞬態仿真次數和得到當前電路可靠性瞬態仿真結果的操作,直至當前電路可靠性瞬態仿真次數大于等于仿真次數閾值或電路瞬態仿真的累積時長大于等于可靠性工作時長閾值,則結束電路可靠性瞬態仿真。
然而,發現現有技術中至少存在如下問題:其一、由于瞬態仿真過程比較耗時,因此,針對規模較大的電路,如數字片上系統,上述瞬態仿真很難適用于這類電路的可靠性仿真,上述影響了電路可靠性仿真的速度;其二、未考慮晶體管的工作溫度對電路可靠性的影響,上述影響了電路可靠性仿真結果的準確性。
發明內容
本發明實施例提供了一種電路可靠性邏輯仿真方法、裝置、設備及存儲介質,以提高電路可靠性仿真的速度和電路可靠性邏輯仿真結果的準確性。
第一方面,本發明實施例提供了一種電路可靠性邏輯仿真方法,該方法包括:
獲取各電子元器件的當前工作溫度和各電子元器件的當前元器件參數;
根據各電子元器件的當前工作溫度和各電子元器件的當前元器件參數,對電路進行可靠性邏輯仿真,得到當前電路可靠性邏輯仿真結果。
進一步的,所述獲取各電子元器件的當前工作溫度和各電子元器件的當前元器件參數,包括:
根據上一電路可靠性邏輯仿真結果和各電子元器件的位置信息,確定各電子元器件的當前工作溫度;
根據各晶體管的當前工作溫度和所述上一電路可靠性邏輯仿真結果,確定各電子元器件的當前元器件參數。
進一步的,所述根據上一電路可靠性邏輯仿真結果和各電子元器件的位置信息,確定各電子元器件的當前工作溫度,包括:
根據上一電路可靠性邏輯仿真結果,確定上一電路功耗,所述上一電路功耗包括各電子元器件的上一功耗和各電子元器件之間連線的上一功耗;
根據各電子元器件的位置信息和所述上一電路功耗,為電路設置熱源,并對所述熱源進行三維熱分析,得到當前電路熱分布結果;
根據各電子元器件的位置信息和所述當前電路熱分布結果,確定各電子元器件的當前工作溫度。
進一步的,所述根據上一電路可靠性邏輯仿真結果,確定上一電路功耗,包括:
根據上一電路可靠性邏輯仿真結果和電路的邏輯單元的上一延時特性數據,確定上一電路功耗。
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