[發明專利]一種電路基板的制作方法有效
| 申請號: | 201911095999.1 | 申請日: | 2019-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN111029259B | 公開(公告)日: | 2021-07-23 |
| 發明(設計)人: | 熊康林;陸曉鳴;孫駿逸;黃永丹;馮家貴;武彪 | 申請(專利權)人: | 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所 |
| 主分類號: | H01L21/48 | 分類號: | H01L21/48;H01L23/492;H05K3/06 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304 | 代理人: | 孫偉峰 |
| 地址: | 215123 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 路基 制作方法 | ||
1.一種電路基板的制作方法,其特征在于,包括:
在襯底(1)上依序形成掩膜層和用于形成目標層的材料層(4),其中,所述掩膜層位于所述材料層(4)側邊且與所述材料層(4)之間具有間隔;
在襯底(1)上形成覆蓋所述材料層(4)的機械剝離層(5);
去除所述掩膜層,并將所述機械剝離層(5)機械剝離去除,從而形成所述目標層;
其中,在所述襯底(1)上形成掩膜層的方法包括:
在所述襯底(1)的第一表面上依次層疊形成第一犧牲層(2)和第二犧牲層(3);
在所述第二犧牲層(3)上形成第一圖形(3'),使所述第一犧牲層(2)經所述第一圖形(3')暴露于外;
在所述第一犧牲層(2)上形成第二圖形(2'),以形成所述掩膜層,其中,所述襯底(1)經所述第二圖形(2')和所述第一圖形(3')暴露于外,所述第二圖形(2')的縫隙寬度大于所述第一圖形(3')的縫隙寬度;
其中,在所述襯底(1)上形成所述材料層(4)的方法包括:
經所述第一圖形(3')和所述第二圖形(2'),在所述襯底(1)上形成材料層(4),其中,所述材料層(4)的厚度小于所述第一犧牲層(2)的厚度,所述材料層(4)的寬度小于所述第二圖形(2')的縫隙寬度。
2.根據權利要求1所述的電路基板的制作方法,其特征在于,在所述襯底(1)上形成覆蓋所述材料層(4)的所述機械剝離層(5)的方法包括:
在所述第一圖形(3')和所述第二圖形(2')的縫隙里填充膠水材料,并對所述膠水材料進行固化處理,以形成覆蓋所述材料層(4)的機械剝離層(5)。
3.根據權利要求1或2所述的電路基板的制作方法,其特征在于,去除所述掩膜層的方法為濕法刻蝕或干法刻蝕,其中,用于所述濕法刻蝕或所述干法刻蝕的刻蝕劑僅與所述第一犧牲層(2)和所述第二犧牲層(3)反應。
4.根據權利要求3所述的電路基板的制作方法,其特征在于,形成所述材料層(4)的工藝溫度小于所述第一犧牲層(2)和所述第二犧牲層(3)的熔點。
5.根據權利要求4所述的電路基板的制作方法,其特征在于,形成所述材料層(4)的工藝為電子束蒸發工藝、熱蒸鍍工藝或分子束外延工藝中的一種。
6.根據權利要求3所述的電路基板的制作方法,其特征在于,所述第一犧牲層(2)和所述第二犧牲層(3)為無機材料。
7.根據權利要求6所述的電路基板的制作方法,其特征在于,所述第一犧牲層(2)的材料為SiO2,所述第二犧牲層(3)的材料為a-Si。
8.根據權利要求2所述的電路基板的制作方法,其特征在于,所述膠水材料為光刻膠或光學膠。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所,未經中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911095999.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





