[發明專利]掃描鏈技術以及利用掃描鏈結構的方法

在審

• 申請號: 201911055812.5
• 申請日: 2019-10-31
• 公開（公告）號: CN111128289A
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發明（設計）人: 海一粟;宋鐘旭
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G11C29/32
• 分類號: G11C29/32;G11C29/18
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 李新娜;李青

本申請提供用于測試集成電路的測試系統和方法。測試系統包括形成掃描鏈的輸入端子、每個具有寄存器的多個電路元件和輸出端子，輸入信號通過所述掃描鏈傳播。測試系統進一步包括調試器，該調試器包括映射模塊，映射模塊存儲將寄存器值映射到其各自的功能含義的信息。施加輸入信號以提取所有寄存器的所有值，無論該寄存器是否被處理器可訪問。

相關申請的交叉引用

本申請要求于2018年10月31日提交的申請號為62/753,194的美國臨時申請的權益，該美國臨時申請的全部內容通過引用并入本文。

技術領域

本公開的實施例涉及提高測試集成電路(IC)的掃描鏈技術。

背景技術

計算機環境范例已經轉變成可被隨時隨地使用的普適計算系統。因此，諸如移動電話、數碼相機和筆記本計算機的便攜式電子裝置的使用已經迅速增加。這些便攜式電子裝置通常使用具有存儲器裝置的存儲器系統，即數據存儲器裝置。數據存儲器裝置用作便攜式電子裝置的主存儲器裝置或輔助存儲器裝置。

由于使用存儲器裝置的數據存儲裝置不具有移動部件，因此它們提供優異的穩定性、耐用性、高信息訪問速度和低功耗。具有這些優點的數據存儲裝置的示例包括通用串行總線(USB)存儲器裝置、具有各種接口的存儲卡以及固態驅動器(SSD)。

存儲器系統通常包括組件，許多這種組件包括IC。例如，SSD可以包括閃速存儲器組件和控制器，該控制器包括將閃速存儲器組件橋接至SSD輸入/輸出(I/O)接口的電子器件。SSD控制器可以包括運行諸如固件的功能組件的嵌入式處理器。SSD功能組件通常是特定于裝置的，并且在大多數情況下可被更新。

測試存儲器系統中以及其它電子系統中的IC以保證它們正常工作。掃描鏈是測試/可測試性設計(DFT)中常用的一種技術。掃描輸入和掃描輸出定義了掃描鏈的輸入和輸出。當掃描使能信號生效時，設計中的每個觸發器(flip-flop，FF)連接至長移位寄存器中。時鐘信號用于在移位和捕獲階段期間控制鏈中的所有FF。模式被輸入到FF的鏈中，并且讀出每個FF的狀態。

當在實驗室中調試芯片的功能問題時，通常設計中可以訪問的寄存器越多越好。但是，通常不是設計中的所有寄存器都可被中央處理器(CPU)訪問。例如，設計者認為無需提供CPU訪問權限的內部狀態機的狀態或計數器值可能是CPU不可訪問的。

在此背景下提出本發明的實施例。

發明內容

本發明的方面包括用于實施掃描鏈技術的系統和方法。

在一方面，本發明涉及一種測試系統，包括：形成掃面鏈的輸入端子、每個具有寄存器的多個電路元件和輸出端子，輸入信號通過掃描鏈傳播；以及調試器，包括映射模塊，映射模塊存儲將寄存器值映射到它們各自功能含義的信息。施加輸入信號以提取所有寄存器的所有值，無論寄存器是否被處理器可訪問。

在另一方面，本發明涉及一種系統，包括：計算機，包括映射模塊，計算機將輸入信號施加到掃描鏈并接收掃描鏈的輸出；以及集成電路，包括掃描鏈的多個組合邏輯元件。映射模塊捕獲多個組合邏輯元件中的每一個的至少一個值，無論組合邏輯元件是否被處理器可訪問。

在另一方面，提供一種測試包括多個電路元件的集成電路的方法，多個電路元件中的每一個具有存儲值的寄存器。所述方法包括：生成映射信息，映射信息根據集成電路內的層次位置來識別多個電路元件中的每一個；通過形成掃描鏈的多個電路元件傳播輸入信號；接收包含掃描鏈的多個寄存器的值的輸出信號；并且利用映射信息將輸出信號中的值中的每一個的位置與其功能含義相關聯。獲得所有寄存器的所有值，無論寄存器是否被處理器可訪問。

從以下描述，本發明的其它方面將變得顯而易見。

附圖說明

圖1是示出根據本發明的實施例的存儲器系統的框圖。