[發(fā)明專利]掃描鏈技術(shù)以及利用掃描鏈結(jié)構(gòu)的方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911055812.5
• 申請(qǐng)日: 2019-10-31
• 公開（公告）號(hào): CN111128289A
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 海一粟;宋鐘旭
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/32
• 分類號(hào): G11C29/32;G11C29/18
• 代理公司: 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 李新娜;李青

1.一種測(cè)試系統(tǒng)，包括：

形成掃描鏈的輸入端子、每個(gè)具有寄存器的多個(gè)電路元件和輸出端子，輸入信號(hào)通過(guò)所述掃描鏈傳播；以及

調(diào)試器，包括映射模塊，所述映射模塊存儲(chǔ)將寄存器值映射到其各自功能含義的信息，

其中施加所述輸入信號(hào)以提取所有所述寄存器的所有值，無(wú)論所述寄存器是否被處理器可訪問(wèn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中所述多個(gè)電路元件包括多個(gè)觸發(fā)器。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)一步包括集成電路，所述集成電路包括所述多個(gè)觸發(fā)器。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中所述映射模塊包括映射表，所述映射表具有用于所提取的值的位置的索引和用于功能含義的索引。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中針對(duì)位置索引中的每個(gè)值，功能含義索引包括識(shí)別塊和所述電路元件的信息，與該值相關(guān)聯(lián)的所述寄存器被實(shí)現(xiàn)在所述電路元件中。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中所述多個(gè)電路元件的各個(gè)子集被實(shí)現(xiàn)在各個(gè)塊中，并且所述映射模塊包括多個(gè)映射表，所述多個(gè)映射表中的一個(gè)用于所述塊中的每一個(gè)。

7.一種系統(tǒng)，包括：

計(jì)算機(jī)，包括映射模塊，所述計(jì)算機(jī)將輸入信號(hào)施加到掃描鏈并接收掃描鏈的輸出；以及

集成電路，包括所述掃描鏈的多個(gè)組合邏輯元件；

其中所述映射模塊捕獲所述多個(gè)組合邏輯元件中的每一個(gè)的至少一個(gè)值，無(wú)論所述組合邏輯元件是否被處理器可訪問(wèn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其中所述多個(gè)組合邏輯元件包括多個(gè)觸發(fā)器。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其中所述映射模塊包括映射表，所述映射表具有用于位位置的索引和用于功能含義的索引。

10.一種測(cè)試集成電路的方法，所述集成電路包括多個(gè)電路元件，所述多個(gè)電路元件中的每一個(gè)具有存儲(chǔ)值的寄存器，所述方法包括：

生成映射信息，所述映射信息識(shí)別根據(jù)所述集成電路內(nèi)的層次位置來(lái)識(shí)別所述多個(gè)電路元件中的每一個(gè)；

通過(guò)形成掃描鏈的所述多個(gè)電路元件傳播輸入信號(hào)；

接收包含所述掃描鏈的多個(gè)寄存器的值的輸出信號(hào)；并且

利用所述映射信息將所述輸出信號(hào)中的所述值中的每一個(gè)的位置與其功能含義相關(guān)聯(lián)；

其中獲得所有所述寄存器的所有值，無(wú)論所述寄存器是否被處理器可訪問(wèn)。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述映射信息被保持在映射表中。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述映射表具有用于所提取的值的位置的索引和用于功能含義的索引。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中針對(duì)位置索引中的每個(gè)值，功能含義索引包括識(shí)別塊和所述電路元件的信息，與該值相關(guān)聯(lián)的所述寄存器被實(shí)現(xiàn)在所述電路元件中。