[發(fā)明專(zhuān)利]一種高頻窄脈沖檢測(cè)鎖定電路及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911049661.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110850201B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王旭 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 濟(jì)南誠(chéng)智商標(biāo)專(zhuān)利事務(wù)所有限公司 37105 | 代理人: | 王敏 |
| 地址: | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高頻 脈沖 檢測(cè) 鎖定 電路 方法 | ||
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種高頻窄脈沖檢測(cè)鎖定電路和方法,所述電路包括控制單元、鎖定解鎖單元、分壓?jiǎn)卧捅Wo(hù)單元,所述控制單元用于所述電路偵測(cè)到第一高頻窄脈沖信號(hào)時(shí)輸出高電平,所述電路偵測(cè)到第二高頻窄脈沖信號(hào)時(shí)輸出低電平,所述鎖定解鎖單元用于鎖定第一高頻窄脈沖信號(hào)或解鎖第一高頻窄脈沖信號(hào),所述分壓?jiǎn)卧糜诮o鎖定解鎖單元提供分壓,所述保護(hù)單元用于過(guò)壓保護(hù);所述方法當(dāng)電路偵測(cè)到第一高頻窄脈沖信號(hào)時(shí),第一高頻窄脈沖信號(hào)被鎖定;當(dāng)電路偵測(cè)到第二高頻窄脈沖信號(hào)時(shí),第一高頻窄脈沖信號(hào)被解鎖。本發(fā)明采用分立元件進(jìn)行高頻窄脈沖的檢測(cè),電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,可靠性高,成本低,適用范圍廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及脈沖檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種高頻窄脈沖檢測(cè)鎖定電路及方法。
背景技術(shù)
高頻窄脈沖是非連續(xù)的,由持續(xù)時(shí)間短和幅度大的不規(guī)則脈沖或噪聲尖峰組成。產(chǎn)生脈沖噪聲的原因多種多樣,其中包括電磁干擾以及通信系統(tǒng)的故障和缺陷,也可能在通信系統(tǒng)的電氣開(kāi)關(guān)和繼電器改變狀態(tài)時(shí)產(chǎn)生。
脈沖噪聲對(duì)模擬數(shù)據(jù)一般僅是小麻煩。但在數(shù)字式數(shù)據(jù)通信中,脈沖噪聲是出錯(cuò)的主要原因。脈沖噪聲,它的持續(xù)時(shí)間小于1秒、噪聲強(qiáng)度峰值比其均方根值大于10dB。脈沖噪聲會(huì)突然爆發(fā)又很快消失,因此需要對(duì)脈沖進(jìn)行檢測(cè)并鎖定處理。
一般情況,進(jìn)行高頻窄脈沖檢測(cè)的方式是將高頻窄脈沖輸入到集成電路芯片進(jìn)行檢測(cè)和轉(zhuǎn)換,然后輸出給后級(jí)處理電路。使用集成電路芯片的電路設(shè)計(jì)復(fù)雜、元器件成本較高,通用性不強(qiáng)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例中提供了一種高頻窄脈沖檢測(cè)鎖定電路及方法,以解決現(xiàn)有檢測(cè)電路設(shè)計(jì)復(fù)雜和成本高的問(wèn)題。本發(fā)明所述電路采用分立元件進(jìn)行高頻窄脈沖的檢測(cè),對(duì)于不同幅值的脈沖大小都通用,可靠性高,且成本低。
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了如下技術(shù)方案:
本發(fā)明第一方面提供了一種高頻窄脈沖檢測(cè)鎖定電路,包括控制單元、鎖定解鎖單元、分壓?jiǎn)卧捅Wo(hù)單元,所述控制單元連接鎖定解鎖單元和分壓?jiǎn)卧霰Wo(hù)單元連接鎖定解鎖單元;
所述控制單元用于所述電路偵測(cè)到第一高頻窄脈沖信號(hào)時(shí)輸出高電平,所述電路偵測(cè)到第二高頻窄脈沖信號(hào)時(shí)輸出低電平,
所述鎖定解鎖單元用于鎖定第一高頻窄脈沖信號(hào)或解鎖第一高頻窄脈沖信號(hào),
所述分壓?jiǎn)卧糜诮o鎖定解鎖單元提供分壓,
所述保護(hù)單元用于過(guò)壓保護(hù)。
進(jìn)一步地,所述控制單元包括P型MOSFET管Q1、電阻R1和電阻R2,P型MOSFET管Q1的柵極連接電阻R1的一端和電阻R2的一端,P型MOSFET管Q1的源極連接電阻R1的另一端和Vcc,P型MOSFET管Q1的漏極連接輸出電壓Vout和電阻R6的一端;當(dāng)電路上電后,P型MOSFET管Q1截止,輸出電壓Vout輸出低電平,當(dāng)電路偵測(cè)到第一高頻窄脈沖信號(hào)時(shí),P型MOSFET管Q1導(dǎo)通,輸出電壓Vout輸出高電平,當(dāng)電路偵測(cè)到第二高頻窄脈沖信號(hào)時(shí),P型MOSFET管Q1截止,輸出電壓Vout輸出低電平。
進(jìn)一步地,所述鎖定解鎖單元包括NPN三極管Q2、電阻R3、電阻R6、電容C1和電容C2,NPN三極管Q2的集電極連接電阻R2的另一端和電容C1的一端,NPN三極管Q2的基極連接電容C2的一端和電阻R5的一端,NPN三極管Q2的發(fā)射極接地,電容C2的另一端連接電阻R3的一端和電阻R6的另一端,電阻R3的另一端連接電容C1的另一端;
當(dāng)電路偵測(cè)到第一高頻窄脈沖信號(hào)時(shí),Vcc通過(guò)電阻R1、電阻R2、電容C1、電阻R3、電容C2、電阻R5通路導(dǎo)通,NPN三極管Q2的基極得到第一分壓,NPN三極管Q2導(dǎo)通,P型MOSFET管Q1的柵極電壓降低,P型MOSFET管Q1導(dǎo)通,輸出電壓Vout輸出高電平,所述分壓?jiǎn)卧oNPN三極管Q2的基極提供第二分壓,NPN三極管Q2和P型MOSFET管Q1維持持續(xù)導(dǎo)通狀態(tài),輸出電壓Vout持續(xù)輸出高電平,第一高頻窄脈沖信號(hào)被鎖定,
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





