[發明專利]一種檢測裝置、光驅及檢測方法

有效

• 申請號: 201911048113.8
• 申請日: 2019-10-30
• 公開（公告）號: CN112750470B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 徐佳;徐君;林芃
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

一種檢測裝置、光驅及檢測方法，涉及光存儲技術領域，能準確地確定光盤的記錄層是否在物鏡的焦點上。該檢測裝置包括物鏡、分束鏡、反射鏡、檢測器和伺服控制器。分束鏡接收入射脈沖光束，并將入射脈沖光束分為第一光束和第二光束。反射鏡接收第一光束，并根據第一光束反射出第三光束。物鏡接收第二光束，并將第二光束聚焦在光盤上，以及透射光盤根據第二光束反射的第四光束。分束鏡透射第三光束，以及反射物鏡透射的第四光束。檢測器獲取分束鏡透射的第三光束和分束鏡反射的第四光束的干涉波束，確定干涉波束的干涉信號，并向伺服控制器發送干涉信號。伺服控制器根據干涉信號，確定第i個記錄層是否位于物鏡的焦點。

技術領域

本申請涉及光存儲技術領域，尤其涉及一種檢測裝置、光驅及檢測方法。

背景技術

光存儲介質滿足防潮、防塵、電磁屏蔽等要求，具備數據存儲時間長，維護成本和數據遷移成本低的功能，是存儲冷數據的主要載體。光盤為光存儲介質的一種。在向光盤寫數據的過程中，當光頭中物鏡的焦點置于光盤的記錄層時，可以實現數據的讀寫。在讀寫過程中，光盤通常會高速旋轉。而高速旋轉會引發光盤的上下振動，導致光盤的記錄層偏移物鏡的焦點，從而影響數據的讀寫。

現有的光驅采用像散法檢測光盤的記錄層是否位于物鏡的焦點，進而根據檢測結果確定是否移動光盤。如圖1所示，入射激光通過物鏡聚焦在光盤上，再由光盤反射回到物鏡，經光頭中的分束鏡到達檢測器。檢測器根據接收到的光斑形狀，確定光盤的記錄層是否在物鏡的焦點上。但是，該方法對檢測器接收到的光斑的對稱性和形狀的要求極高。如果檢測器接收到的光斑的對稱性較差，則檢測器無法準確地確定出光盤的記錄層是否在物鏡的焦點上。

發明內容

本申請提供一種檢測裝置、光驅及檢測方法，能夠解決無法準確地確定光盤的記錄層是否在物鏡的焦點上的問題。

為達到上述目的，本申請采用如下技術方案：

第一方面，提供一種檢測裝置，該檢測裝置包括物鏡、分束鏡、反射鏡、檢測器以及伺服控制器。其中，反射鏡和檢測器相對設置在物鏡的光軸的兩側，且反射鏡的法線與光軸垂直，分束鏡置于反射鏡與檢測器之間，且位于光軸上，伺服控制器與檢測器連接。

具體的，分束鏡，用于接收傳播方向與物鏡的光軸平行的入射脈沖光束，并將入射脈沖光束分為第一光束和第二光束，第一光束的傳輸方向與光軸垂直，第二光束的傳輸方向與光軸平行。反射鏡，用于接收第一光束，并根據第一光束反射出第三光束。物鏡，用于接收第二光束，并將第二光束聚焦在光盤上，以及透射光盤根據第二光束反射的第四光束。分束鏡，還用于接收第三光束和物鏡透射的第四光束，并透射第三光束，以及反射物鏡透射的第四光束。檢測器，用于獲取分束鏡透射的第三光束和分束鏡反射的第四光束的干涉波束，并確定干涉波束的干涉信號，以及向伺服控制器發送干涉信號。伺服控制器，用于根據干涉信號，確定光盤中第i(n≥i≥1，n為光盤中記錄層的數量)個記錄層是否位于物鏡的焦點。

入射脈沖光束由分束鏡分為第一光束和第二光束。第一光束由反射鏡反射后，透過分束鏡到達檢測器。第二光束由光盤反射后，透過物鏡，再由分束鏡反射到檢測器。這兩個光束到達檢測器的光程差是由分束鏡與反射鏡之間的距離(以該距離為L1為例)以及分束鏡與光盤之間的距離(以該距離為L2為例)決定的。這兩個光束在空間會產生干涉，檢測器能夠獲取到這兩個光束的干涉光束，并確定出干涉光束的干涉信號。伺服控制器在接收到檢測器發送的干涉信號后，根據干涉信號精確地確定出第i個記錄層是否位于物鏡的焦點，不再依賴于光斑的對稱性和形狀。也就是說，本申請中的伺服控制器利用脈沖光束的干涉性質，精確地確定出第i個記錄層是否位于物鏡的焦點。

可選的，在本申請的一種可能的實現方式中，本申請提供的檢測裝置還包括用于承載光盤的位移臺，該位移臺與伺服控制器連接。相應的，上述伺服控制器，還用于當確定第i個記錄層偏離物鏡的焦點時，根據干涉信號向位移臺發送控制信號，其中，控制信號用于指示位移臺的移動方向以及移動距離。位移臺，用于根據控制信號指示的移動方向和移動距離將光盤移動到物鏡的焦點。