[發明專利]一種檢測裝置、光驅及檢測方法

有效

• 申請號: 201911048113.8
• 申請日: 2019-10-30
• 公開（公告）號: CN112750470B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 徐佳;徐君;林芃
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括物鏡、分束鏡、反射鏡、檢測器以及伺服控制器；其中，所述反射鏡和所述檢測器相對設置在所述物鏡的光軸的兩側，且所述反射鏡的法線與所述光軸垂直，所述分束鏡置于所述反射鏡與所述檢測器之間，且位于所述光軸上；

所述分束鏡，用于接收入射脈沖光束，并將所述入射脈沖光束分為第一光束和第二光束，所述入射脈沖光束的傳播方向與所述物鏡的光軸平行，所述第一光束的傳輸方向與所述光軸垂直，所述第二光束的傳輸方向與所述光軸平行；

所述反射鏡，用于接收所述第一光束，并根據所述第一光束反射出第三光束；

所述物鏡，用于接收所述第二光束，并將所述第二光束聚焦在光盤上，以及透射所述光盤根據所述第二光束反射的第四光束；

所述分束鏡，還用于接收所述第三光束和所述物鏡透射的第四光束，并透射所述第三光束，以及反射所述物鏡透射的第四光束；

所述檢測器，用于獲取所述分束鏡透射的第三光束和所述分束鏡反射的第四光束的干涉波束，并確定所述干涉波束的干涉信號；

所述伺服控制器，連接所述檢測器并用于根據所述干涉信號，確定所述光盤的第i個記錄層是否位于所述物鏡的焦點，n≥i≥1，n為所述光盤中記錄層的數量。

2.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括位移臺，所述位移臺與所述伺服控制器連接，所述位移臺用于承載所述光盤；

所述伺服控制器，還用于當確定所述第i個記錄層偏離所述物鏡的焦點時，根據所述干涉信號向所述位移臺發送控制信號，其中，所述控制信號用于指示所述位移臺的移動方向以及移動距離；

所述位移臺，用于根據所述控制信號指示的移動方向和移動距離將所述光盤移動到所述物鏡的焦點。

3.根據權利要求1或2所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括小孔擋板，所述小孔擋板置于所述分束鏡和所述檢測器之間，且所述小孔擋板中小孔的法線與所述光軸垂直；

所述小孔擋板中的小孔，用于從所述干涉波束中篩選預設強度的光束。

4.根據權利要求1或2所述的檢測裝置，其特征在于：所述入射脈沖光束包括超短脈沖光束。

5.一種光驅，其特征在于，所述光驅包括光源發射器，以及如權利要求1-4中任意一項所述的檢測裝置；

所述光源發射器，用于向所述檢測裝置發射所述入射脈沖光束。

6.一種檢測方法，其特征在于，應用于如權利要求1-4中任意一項所述的檢測裝置。