[發(fā)明專利]用于檢查顯示裝置的裝置及其檢查方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911044596.4 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111198191A | 公開(公告)日: | 2020-05-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 廉宗勳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G06T7/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 劉燦強(qiáng);韓芳 |
| 地址: | 韓國(guó)京畿*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢查 顯示裝置 裝置 及其 方法 | ||
提供了一種用于檢查顯示裝置的裝置及其檢查方法。所述用于檢查顯示裝置的裝置包括:相機(jī),用于拍攝基底并生成圖像信息;像素值設(shè)定器,用于由圖像信息設(shè)定與多個(gè)像素的各個(gè)亮度對(duì)應(yīng)的像素值,并基于像素值檢測(cè)裂紋區(qū)域;應(yīng)力計(jì)算器,用于計(jì)算裂紋區(qū)域中包括的裂紋的臨界應(yīng)力;以及確定器,用于核查臨界應(yīng)力是否等于或大于第一閾值并確定基底是否具有缺陷。應(yīng)力計(jì)算器通過(guò)使用斷裂韌性、形狀因子和裂紋深度來(lái)計(jì)算基底的臨界應(yīng)力。形狀因子被設(shè)定為隨著基底的壓應(yīng)力增大而增大。
技術(shù)領(lǐng)域
實(shí)施例涉及一種用于檢查顯示裝置的裝置及其檢查方法。更具體地,本發(fā)明涉及一種用于檢查用于顯示裝置的基底的裝置及其檢查方法。
背景技術(shù)
顯示裝置包括用于顯示圖像的多個(gè)像素和連接到多個(gè)像素的多條信號(hào)線。多個(gè)像素和多條信號(hào)線設(shè)置在基體基底上。在多個(gè)像素和多條信號(hào)線上還設(shè)置保護(hù)基底,以保護(hù)顯示裝置免受外部沖擊或外來(lái)顆粒的影響。
發(fā)明內(nèi)容
實(shí)施例涉及一種用于檢查顯示裝置的裝置,所述裝置包括:相機(jī),用于拍攝基底并生成圖像信息;像素值設(shè)定器,用于由圖像信息設(shè)定與多個(gè)像素的各個(gè)亮度對(duì)應(yīng)的像素值,并基于像素值檢測(cè)裂紋區(qū)域;應(yīng)力計(jì)算器,用于計(jì)算裂紋區(qū)域中包括的裂紋的臨界應(yīng)力;以及確定器,用于核查臨界應(yīng)力是否等于或大于第一閾值并確定基底是否具有缺陷。應(yīng)力計(jì)算器通過(guò)使用斷裂韌性、形狀因子和裂紋深度來(lái)計(jì)算基底的臨界應(yīng)力。形狀因子被設(shè)定為隨著基底的壓應(yīng)力增大而增大。
形狀因子可以大于1.1且等于或小于1.3。
當(dāng)基底是鋼化玻璃基底時(shí),形狀因子可以是1.2。
所述用于檢查顯示裝置的裝置還可以包括用于存儲(chǔ)圖像信息的圖像存儲(chǔ)單元。
相機(jī)可以包括CCD相機(jī),CCD相機(jī)包括預(yù)定數(shù)量的像素。
像素值設(shè)定器設(shè)定像素值所針對(duì)的所述多個(gè)像素可以對(duì)應(yīng)于相機(jī)中包括的預(yù)定數(shù)量的像素。
像素值設(shè)定器可以將第一值分配給具有等于或大于參考亮度的亮度的像素,可以將第二值分配給具有小于參考亮度的亮度的像素,并將被設(shè)定第二值的像素分類為裂紋區(qū)域。
像素值設(shè)定器可以將其中具有第二值的像素值的像素在一個(gè)方向上延續(xù)的長(zhǎng)度分類為裂紋長(zhǎng)度,并可以將其中具有第二值的像素值的像素在所述一個(gè)方向上的各個(gè)側(cè)部上延續(xù)的部分分類為側(cè)裂紋的范圍。應(yīng)力計(jì)算器可以確定與裂紋長(zhǎng)度和側(cè)裂紋的范圍中的至少一個(gè)對(duì)應(yīng)的裂紋深度。
應(yīng)力計(jì)算器可以從查找表確定裂紋深度,查找表提供與裂紋長(zhǎng)度和側(cè)裂紋的范圍對(duì)應(yīng)的裂紋深度。
像素值設(shè)定器可將像素值設(shè)定到所述多個(gè)像素,將針對(duì)各條線的像素值與參考像素值進(jìn)行比較,并檢測(cè)裂紋區(qū)域,其中,所述針對(duì)各條線的像素值是針對(duì)各個(gè)行或各個(gè)列的像素的像素值的總和。
實(shí)施例還涉及一種用于檢查顯示裝置的方法,所述方法包括:拍攝基底以生成圖像信息;由圖像信息設(shè)定與多個(gè)像素的各個(gè)亮度對(duì)應(yīng)的像素值;基于像素值檢測(cè)裂紋區(qū)域,并檢測(cè)裂紋區(qū)域在一個(gè)方向上延續(xù)的裂紋長(zhǎng)度;確定與裂紋長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的裂紋深度;基于裂紋深度計(jì)算基底的臨界應(yīng)力;并且核查臨界應(yīng)力是否等于或大于第一閾值,以確定基底是否具有缺陷。
可以通過(guò)使用斷裂韌性、形狀因子和裂紋深度來(lái)計(jì)算基底的臨界應(yīng)力。形狀因子可以隨著基底的壓應(yīng)力增大而增大。
當(dāng)基底是鋼化玻璃基底時(shí),形狀因子可以是1.2。
所述用于檢查顯示裝置的方法還包括存儲(chǔ)圖像信息。
可以通過(guò)包括預(yù)定數(shù)量的像素的CCD相機(jī)拍攝基底。
被設(shè)定像素值的所述多個(gè)像素可以對(duì)應(yīng)于CCD相機(jī)中包括的多個(gè)像素。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于三星顯示有限公司,未經(jīng)三星顯示有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911044596.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





