[發明專利]用于檢查顯示裝置的裝置及其檢查方法在審
| 申請號: | 201911044596.4 | 申請日: | 2019-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN111198191A | 公開(公告)日: | 2020-05-26 |
| 發明(設計)人: | 廉宗勳 | 申請(專利權)人: | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G06T7/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286 | 代理人: | 劉燦強;韓芳 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 檢查 顯示裝置 裝置 及其 方法 | ||
1.一種用于檢查顯示裝置的裝置,所述裝置包括:
相機,用于拍攝基底并生成圖像信息;
像素值設定器,用于由所述圖像信息設定與多個像素的各個亮度對應的像素值,并基于所述像素值檢測裂紋區域;
應力計算器,用于計算所述裂紋區域中包括的裂紋的臨界應力;以及
確定器,用于核查所述臨界應力是否等于或大于第一閾值并確定所述基底是否具有缺陷,
其中:
所述應力計算器通過使用斷裂韌性、形狀因子和裂紋深度來計算所述基底的臨界應力,并且
所述形狀因子被設定為隨著所述基底的壓應力增大而增大。
2.根據權利要求1所述的用于檢查顯示裝置的裝置,其中,所述相機包括電荷耦合器件相機,所述電荷耦合器件相機包括預定數量的像素。
3.根據權利要求2所述的用于檢查顯示裝置的裝置,其中,所述像素值設定器設定像素值所針對的所述多個像素對應于所述相機中包括的所述預定數量的像素。
4.根據權利要求1所述的用于檢查顯示裝置的裝置,其中,所述像素值設定器將第一值設定到具有等于或大于參考亮度的亮度的像素,將第二值設定到具有小于所述參考亮度的亮度的像素,并將被設定所述第二值的像素分類為所述裂紋區域。
5.根據權利要求4所述的用于檢查顯示裝置的裝置,其中,
所述像素值設定器將其中具有所述第二值的所述像素值的像素在一個方向上延續的長度分類為裂紋長度,并將其中具有所述第二值的所述像素值的像素在所述一個方向上的各個側部上延續的部分分類為側裂紋的范圍,并且
所述應力計算器確定與所述裂紋長度和所述側裂紋的范圍中的至少一個對應的所述裂紋深度。
6.根據權利要求5所述的用于檢查顯示裝置的裝置,其中,所述應力計算器從查找表確定所述裂紋深度,所述查找表提供與裂紋長度和側裂紋的范圍對應的裂紋深度。
7.根據權利要求1所述的用于檢查顯示裝置的裝置,其中,所述像素值設定器將像素值設定到所述多個像素,將針對各條線的像素值與參考像素值進行比較,并檢測所述裂紋區域,其中,所述針對各條線的像素值是針對各個行或各個列的像素的所述像素值的總和。
8.一種用于檢查顯示裝置的方法,所述方法包括:
拍攝基底以生成圖像信息;
由所述圖像信息設定與多個像素的各個亮度對應的像素值;
基于所述像素值檢測裂紋區域,并檢測所述裂紋區域在一個方向上延續的裂紋長度;
確定與所述裂紋長度對應的裂紋深度;
基于所述裂紋深度計算所述基底的臨界應力;并且
核查所述臨界應力是否等于或大于第一閾值,以確定所述基底是否具有缺陷。
9.根據權利要求8所述的用于檢查顯示裝置的方法,其中,將第一值設定到具有等于或大于參考亮度的亮度的像素,并將第二值設定到具有小于所述參考亮度的亮度的像素,以設定與所述多個像素的各個亮度對應的像素值,并且
其中,被設定所述第二值的像素被檢測為所述裂紋區域。
10.根據權利要求9所述的用于檢查顯示裝置的方法,其中,其中具有所述第二值的像素值的像素在一個方向上延續的長度被分類為所述裂紋長度。
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