[發明專利]一種閃爍體的余輝測試裝置

在審

• 申請號: 201911042918.1
• 申請日: 2019-10-30
• 公開（公告）號: CN110609314A
• 公開（公告）日: 2019-12-24
• 發明（設計）人: 郭鍵;李明;周麗;劉軍;唐恒亮;陳蕾;閆芳;楊璽
• 申請（專利權）人: 北京物資學院
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00;G01N23/04
• 代理公司: 11457 北京律譜知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 黃云鐸

1.一種閃爍體的余輝測試裝置，包括平臺(1)、轉盤(2)、搖桿長度調節器(3)、搖桿(4)、金屬滑塊(5)、軌道(6)、射線發生器和余輝探測器，其特征在于，

所述的轉盤(2)和軌道(6)安裝在所述的平臺(1)上，轉盤(2)的旋轉軸垂直于平臺(1)，所述的搖桿(4)一端鉸接在轉盤(2)的圓周邊緣處，搖桿(4)的另一端鉸接在所述的金屬滑塊(5)的側面，所述的金屬滑塊(5)下表面具有與軌道配合滑槽，能夠使金屬滑塊(5)沿軌道(6)滑動，所述的轉盤(2)、搖桿(4)和金屬滑塊(5)形成對心式曲柄滑塊機構，

所述的搖桿長度調節器(3)用于微調搖桿(4)的長度，

所述的平臺(1)上開有平臺通槽(9)，被測閃爍體放置在平臺通槽(9)的正下方，所述的射線發生器安裝在平臺通槽(9)的正上方，射線發生器發出的射線能夠穿過平臺通槽(9)照射到被測閃爍體上，

所述的金屬滑塊(5)上開有主測試滑塊通槽(7)，在金屬滑塊(5)運動到曲柄滑塊機構的滑塊的中間位置時，所述的主測試滑塊通槽(7)位于平臺通槽的正上方，能夠使射線發生器發出的射線順序穿過主測試滑塊通槽(7)、平臺通槽(9)照射到被測閃爍體上，

所述的余輝探測器用于接收被測閃爍體的余輝，

在進行余輝測試時，運動中的金屬滑塊(5)總是覆蓋在平臺通槽的上方。

2.根據權利要求1所述的一種閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述的金屬滑塊(5)上的主測試滑塊通槽(7)兩側，還對稱均布有多條平行的副測試滑塊通槽(8)，如果僅用主測試滑塊通槽(7)進行測試，則用鉛塊將副測試滑塊通槽(8)封閉。

3.根據權利要求2所述的一種閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述的搖桿長度調節器(3)具有上開孔和下開孔，上開孔和下開孔內分別具有旋向相反的內螺紋，所述的搖桿(4)分為上段和下段二段，下段一端鉸接在轉盤(2)的圓周邊緣處，下段的另一端具有外螺紋并旋入搖桿長度調節器(3)的下開孔，上段一端具有外螺紋并旋入搖桿長度調節器(3)的上開孔，上段的另一端鉸接在所述的金屬滑塊(5)的側面。

4.根據權利要求3所述的一種閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述的主測試滑塊通槽(7)或副測試滑塊通槽(8)可以放入不同厚度銅塊或鋁塊，用于調節照射到被測閃爍體上的射線強度。

5.根據權利要求3所述的一種閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，還包括電動機，所述的轉盤(2)在電動機的驅動下勻速轉動。