[發明專利]一種閃爍體的余輝測試裝置

在審

• 申請號: 201911042918.1
• 申請日: 2019-10-30
• 公開（公告）號: CN110609314A
• 公開（公告）日: 2019-12-24
• 發明（設計）人: 郭鍵;李明;周麗;劉軍;唐恒亮;陳蕾;閆芳;楊璽
• 申請（專利權）人: 北京物資學院
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00;G01N23/04
• 代理公司: 11457 北京律譜知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 黃云鐸

本發明提供了一種閃爍體的余輝測試裝置，包括平臺(1)、轉盤(2)、搖桿長度調節器(3)、搖桿(4)、金屬滑塊(5)、軌道(6)、射線發生器和余輝探測器，其特征在于，所述的轉盤(2)和軌道(6)安裝在所述的平臺(1)，所述的搖桿長度調節器(3)用于微調搖桿(4)的長度，所述的平臺(1)上開有平臺通槽(9)，所述的金屬滑塊(5)上開有主測試滑塊通槽(7)，所述的余輝探測器用于接收被測閃爍體的余輝，在進行余輝測試時，運動中的金屬滑塊(5)總是覆蓋在平臺通槽的上方。本發明的閃爍體的余輝測試裝置，采用循環勻速轉動連桿機構帶動金屬滑塊對被測閃爍體接收射線的通斷進行控制，使射線的照射更為均勻穩定，提高余輝測試次數。

技術領域

本發明涉及射線檢測技術領域，特別涉及一種閃爍體的余輝測試裝置。

背景技術

在X射線檢查系統中，基于碘化銫晶體的探測器的余輝問題比較嚴重，尤其對于圖像穿透指標造成較大影響。為了提高X射線檢查系統性能指標，需要對探測器的余輝進行測試，用于篩選探測器，或用于圖像數據計算時的余輝扣除。

在現有技術中，1)余輝測試裝置一般采用皮帶帶動金屬滑塊來模擬X射線被快速遮擋的過程。每次金屬滑塊先加速啟動，在X射線縫隙前以設定的速度勻速經過縫隙，然后停止并自動退回出發位置。在透射X射線的縫隙前后一定距離上設置有光電傳感器，以感應金屬滑塊的位置用于啟動停止X射線源。每次測試，金屬滑塊都有一個啟動停止的過程，其運動不容易控制平穩。X射線源也有一個啟動停止的過程，工作效率低，每次余輝探測器接收的劑量有偏差，進而導致余輝測試數據不準確；2)中國專利文獻CN107861146A閃爍體的余輝測試裝置公開了一種采用轉動體對射線進行通斷，通過射線的通槽徑向設置，穿過轉動體的圓心。該專利文獻也發現，如果通槽為直槽時，因轉動體旋轉的原因，射線沒有被立刻關斷，而存在因厚度變化而帶來的射線強度變化。雖然該專利文獻也發現了這一問題并采用喇叭形的開槽進行彌補，還是存在轉動體結構復雜、加工難度高、難以對準控制的缺陷。

發明內容

本發明的發明目的是提供一種閃爍體的余輝測試裝置，采用循環勻速轉動連桿機構帶動金屬滑塊對被測閃爍體接收射線的通斷進行控制，使射線的照射更為均勻穩定，提高余輝測試次數。

本發明的具體技術方案是一種閃爍體的余輝測試裝置，包括平臺、轉盤、搖桿長度調節器、搖桿、金屬滑塊、軌道、射線發生器和余輝探測器，其特征在于，

所述的轉盤和軌道安裝在所述的平臺，轉盤的旋轉軸垂直于平臺，所述的搖桿一端鉸接在轉盤的圓周邊緣處，搖桿的另一端鉸接在所述的金屬滑塊的側面，所述的金屬滑塊下表面具有與軌道配合滑槽，能夠使金屬滑塊沿軌道滑動，所述的轉盤、搖桿和金屬滑塊形成對心式曲柄滑塊機構，

所述的搖桿長度調節器用于微調搖桿的長度，

所述的平臺上開有平臺通槽，被測閃爍體放置在平臺通槽的正下方，所述的射線發生器安裝在平臺通槽的正上方，射線發生器發出的射線能夠穿過平臺通槽照射到被測閃爍體上，

所述的金屬滑塊上開有主測試滑塊通槽，在金屬滑塊運動到曲柄滑塊機構的滑塊的中間位置時，所述的主測試滑塊通槽位于平臺通槽的正上方，能夠使射線發生器發出的射線順序穿過主測試滑塊通槽、平臺通槽照射到被測閃爍體上，

所述的余輝探測器用于接收被測閃爍體的余輝，

在進行余輝測試時，運動中的金屬滑塊總是覆蓋在平臺通槽的上方。

更進一步地，所述的金屬滑塊上的主測試滑塊通槽兩側，還對稱均布有多條平行的副測試滑塊通槽，如果僅用主測試滑塊通槽進行測試，則用鉛塊將副測試滑塊通槽封閉。