[發明專利]一種利用等厚干涉原理檢測顯示屏中缺陷的方法

有效

• 申請號: 201911041444.9
• 申請日: 2019-10-30
• 公開（公告）號: CN110618138B
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發明（設計）人: 賈虎;劉義;莫緒濤;張濤;丁成祥;楊輝
• 申請（專利權）人: 安徽工業大學
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/45;G01N21/01
• 代理公司: 安徽知問律師事務所 34134
• 代理人: 于婉萍;平靜

本發明公開了一種利用等厚干涉原理檢測顯示屏中缺陷的系統及方法，屬于光干涉檢測技術領域。本發明中待測玻片與平整玻片之間形成空氣劈尖，平行光透過空氣劈尖產生干涉條紋，當待測玻片中有缺陷或雜質時，干涉條紋發生畸變，在x與y方向分別計算條紋級數及條紋寬度得到缺陷的具體位置坐標，再對其進行后續加工剪裁，可以實現較高的檢測精度，操作簡單方便，有效防止缺陷或雜質的漏檢，得到完整無缺陷的玻璃顯示屏。

技術領域

本發明屬于光檢測技術領域，更具體地說，涉及一種利用等厚干涉原理檢測顯示屏中缺陷的系統及方法。

背景技術

為了讓用戶直觀獲悉電子設備的運行狀態，或是讓用戶便捷地控制電子設備，電子設備上通常設置有不同的顯示屏，顯示屏的質量與玻璃原片的質量相關，終端用戶對玻璃尺寸的需求是各種各樣的，玻璃原片經過雜質檢測后進行改裁，再進行一系列處理加工才能得到符合要求的顯示屏。而且由于設備制造安裝的過程中可能會在顯示屏上存留雜質，影響顯示屏的品質，例如，在顯示屏上進行貼膜，會遺留灰塵膠水等雜質，因而，在顯示屏制造完成后，或將顯示屏安裝在設備上后，需要對顯示屏的品質進行檢測。工作人員目視檢測產品的顯示屏上是否存有明顯雜質，對一些細微的雜質不易察覺，檢測結果不夠精確，而且在長時間工作的情況下，人眼會產生視覺疲勞，從而增加漏檢的風險，此外，人工檢測也大大增加了成本。

為了提高檢測效率和質量，現有技術中利用計算機圖像檢測方法進行雜質檢測，如專利申請號：2018215036160，申請日：2018年9月13日，發明創造名稱為：一種在線檢測玻璃原片雜質的裝置，該申請案公開了一種在線檢測玻璃原片雜質的裝置，包括用于放置待檢測玻璃原片的玻璃原片傳輸臺、用于發現玻璃原片的雜質并獲取雜質的具體坐標的低倍觀測線陣、可水平位移的水平滑臺、用于接收低倍觀測線陣所獲取的雜質的坐標信息并控制水平滑臺位移至正對雜質的位置的計算機滑臺控制模塊、與水平滑臺固定連接的輪廓識別組件以及與輪廓識別組件連接的計算機圖像處理模塊；輪廓識別組件用于獲取低倍觀測線陣所發現的玻璃原片的雜質的輪廓圖像數據，計算機圖像處理模塊用于獲得輪廓識別組件所獲取的輪廓圖像數據并進行特征缺陷類型輪廓判定；該裝置操作簡單方便，檢測效果好，但是不僅要檢測雜質的有無，還要檢測雜質的位置大小和輪廓形態，檢測過程工序繁多。

再如專利申請號：2018106457926，申請日：2018年6月21日，發明創造名稱為：顯示屏的雜質的檢測方法和裝置，該申請案的檢測方法包括：獲取目標顯示屏的最小外接矩形，得到第一目標圖像：獲取第一目標圖像的噪聲信息，其中，噪聲信息至少包括噪聲的尺寸以及噪聲在第一目標圖像中的位置，噪聲信息的類型至少包括雜質信息和背景信息，雜質信息至少包括灰塵信息，背景信息為最小外接矩形中目標顯示屏以外的區域：在第一目標圖像的噪聲信息中去除第一圖像的四個角所在區域中的噪聲信息，得到第一目標信息：基于第一目標信息確定目標顯示屏的雜質信息。該方案僅針對帶有圓弧角的矩形顯示屏進行雜質檢測，雖然提高了檢測圓角顯示屏中雜質信息的效果，但是需要先獲取包含目標顯示屏的最小外接矩形圖像中的噪聲信息，目標顯示屏的四周為背景，再去除四個角所在區域中的噪聲信息，檢測步驟多，且主要針對尺寸比較小的顯示屏進行檢測。

發明內容

1.發明要解決的技術問題

本發明提供了一種利用等厚干涉原理檢測顯示屏中缺陷系統及方法，以光的等厚干涉條紋寬度為單位，通過計算條紋級數及條紋寬度得到缺陷的具體位置坐標，再對其進行后續加工剪裁，可以實現較高的檢測精度，有效防止缺陷或雜質的漏檢，得到完整無缺陷的玻璃顯示屏。

2.技術方案

為達到上述目的，本發明提供的技術方案為：

一種利用等厚干涉原理檢測顯示屏中缺陷的方法，包括以下步驟：

步驟一：將平整玻片放置于測量平臺上，平整玻片與待測玻片之間設置一定厚度的夾塊形成空氣劈尖，所述平整玻片、待測玻片與夾塊之間組成干涉系統，所述干涉系統上設有掃描系統；