[發(fā)明專利]一種磁控基膜的色相在線檢測裝置及其檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911038467.4
• 申請日: 2019-10-29
• 公開（公告）號: CN110823807B
• 公開（公告）日: 2022-11-04
• 發(fā)明（設計）人: 陳弘
• 申請（專利權）人: 廣東鑫瑞新材料科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/25
• 代理公司: 廣州潤禾知識產權代理事務所(普通合伙) 44446
• 代理人: 張柳;楊釗霞

本發(fā)明公開了一種磁控基膜色相在線檢測裝置及其檢測方法，所述色相在線檢測裝置用于在磁控基膜生產線上對磁控基膜進行在線檢測，設于鍍膜滾筒與收膜卷之間，包括光源裝置、樣品臺和檢測系統(tǒng)，所述光源裝置用于發(fā)出模擬太陽光的入射光照射到位于鍍膜滾筒與收膜卷之間被拉平所述樣品臺上的待測樣，所述檢測系統(tǒng)用于獲取光源照射到待測樣品后的反射光的色度值。與現(xiàn)有技術相比，其有益效果在于：可以在生產磁控基膜的生產線上實時監(jiān)測磁控基膜的色相情況，及時篩選出不符合標準的磁控基膜，確保產品穩(wěn)定性的同時，能為磁控基膜生產提供指導依據(jù)，方便及時作出調整，有效減少下游客訴率。

技術領域

本發(fā)明涉及汽車窗膜技術領域，更具體地，涉及一種磁控基膜的色相在線檢測裝置及其檢測方法。

背景技術

窗膜作為是一種多層的功能化的聚酯復合薄膜材料，貼在建筑物玻璃或車窗玻璃表面能夠改善玻璃的性能和強度，其具有保溫、隔熱、節(jié)能、防爆、防紫外線、美化外觀、遮蔽私密及安全防護等功能，近年來玻璃窗膜在我國汽車和建筑行業(yè)得到迅速的發(fā)展，尤其是小型轎車，90％的汽車車主都會選擇貼膜。

目前，磁控濺射金屬鍍層的PET基膜由于其具有良好的透光率及隔熱率，被用作生產汽車車窗貼膜的高檔原材料之一。但由于磁控基膜被作為窗膜(即磁控基膜貼于車窗上)其金屬鍍層具有反射特性，貼合于汽車玻璃車窗上的磁控基膜的反射光色相往往與貼合前的成品反射光色相不同，這使得制造商無法保證生產中獲得的磁控基膜與最終貼合后色相的一致性。此問題目前的解決方法是由窗膜生產商生產出成品窗膜并且貼合于車窗玻璃上，將符合最終要求的色相反饋給磁控基膜生產商，以此為初始色相標準制備磁控基膜。然而，這種方法不僅高成本、費時費力，而且最終的結果往往與實際需求不符。

發(fā)明內容

本發(fā)明旨在克服上述現(xiàn)有技術的至少一種缺陷(不足)，提供一種磁控基膜的色相在線檢測裝置，在磁控基膜的生產線上對磁控基膜的色相進行在線檢測，實時監(jiān)測，實現(xiàn)在線檢測原材料在終端用戶使用時的色相效果，確保產品的穩(wěn)定性。

本發(fā)明的另一個目的在于提供一種磁控基膜的色相在線檢測方法，將待測樣磁控基膜模擬作為貼合在車窗上的窗膜，使其表現(xiàn)出反射特性，在線檢測色相，與終端用于使用時的色相效果對比，并作出及時調整，有效減少下游客訴率，保證在線產品的穩(wěn)定性監(jiān)控。

本發(fā)明采取的技術方案是：

一種磁控基膜的色相在線檢測裝置，用于在磁控基膜生產線上對磁控基膜進行在線檢測，設于鍍膜滾筒與收膜卷之間，包括光源裝置和檢測系統(tǒng)，所述光源裝置用于發(fā)出模擬太陽光的入射光照射到位于鍍膜滾筒與收膜卷之間被拉平的待測樣，所述檢測系統(tǒng)用于獲取光源照射到待測樣品后的反射光的色度值。

具體的，采用本發(fā)明提供一種磁控基膜的色相在線檢測裝置，使用于磁控基膜生產線上對磁控基膜進行在線檢測，所述的磁控基膜生產線為現(xiàn)有的常規(guī)生產設備，其流程為：薄膜基膜由放膜卷放出后，經(jīng)前處理離子源照射處理，接著纏繞經(jīng)過溫度控制的鍍膜滾筒，在鍍膜滾筒兩側分別設有雙磁控濺射和UBMS磁控濺射處理裝置，最后通過收膜卷收取磁控基膜，本方案提供的色相在線檢測裝置設置在磁控基膜搬運過程，即，位于所述鍍膜滾筒與收膜卷之間，此處磁控基膜已初步完成生產過程，其色相結果已經(jīng)呈現(xiàn)，在滾筒的作用下被拉平，可以模擬其作為窗膜貼在車窗上，利用本方案提供的色相檢測裝置中的光源裝置發(fā)出的光束照射到待測樣表面，使其展現(xiàn)反射特性，通過所述檢測裝置接收待測樣反射出的反射光，獲取其色相值，以此實現(xiàn)磁控基膜的色相在線檢測，不必直到最終貼合到車窗上后才知道色相效果，并且能準確獲得符合要求的窗膜色相，能為磁控基膜的生產提供依據(jù)，確保產品質量的穩(wěn)定性。

進一步的，所述在線檢測裝置還包括消偏裝置，所述消偏裝置用于將所述光源裝置發(fā)出的入射光轉化為非偏振光后照射到待測樣品上。為消除所述光源裝置發(fā)出的偏振光影響，需在光源裝置的入射光與待測樣金屬面之間添加所述消偏裝置，使入射光從橢圓偏振光轉化為非偏振光。