[發(fā)明專利]一種磁控基膜的色相在線檢測裝置及其檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911038467.4 | 申請日: | 2019-10-29 |
| 公開(公告)號: | CN110823807B | 公開(公告)日: | 2022-11-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳弘 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東鑫瑞新材料科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/25 |
| 代理公司: | 廣州潤禾知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 44446 | 代理人: | 張柳;楊釗霞 |
| 地址: | 515071 廣東省汕頭市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 磁控基膜 色相 在線 檢測 裝置 及其 方法 | ||
1.一種磁控基膜的色相在線檢測裝置,用于在磁控基膜生產(chǎn)線上對磁控基膜進行在線檢測,設于鍍膜滾筒與收膜卷之間,其特征在于,包括光源裝置和檢測系統(tǒng),所述光源裝置用于發(fā)出模擬太陽光的入射光照射到位于鍍膜滾筒與收膜卷之間被拉平的待測樣,所述檢測系統(tǒng)用于獲取光源照射到待測樣品后的反射光的色度值;
所述在線檢測裝置還包括線性偏振片材,所述線性偏振片材用于調(diào)整待測樣發(fā)出的反射光的s光和p光各占比,所述偏振片材包括中心旋轉(zhuǎn)軸,可通過繞中心軸旋轉(zhuǎn)調(diào)整線性偏光片材的偏轉(zhuǎn)角度來模擬不同非金屬材料的不同反射效果,s光和p光的占比用偏振度PR表示,根據(jù)不同材料的折射率,通過以下公式(1)計算出折射角θ2,將θ2帶入(2)式,計算出PR,PR=Is/IP,其中,Is表示s光的強度,Ip表示p光的強度;
根據(jù)arctanPR得出偏振片的旋轉(zhuǎn)角度值,繼而根據(jù)樣品實際色相反復調(diào)整最佳角度,以實現(xiàn)最真實地模擬各材料的不同反射效果,
其中n1代表空氣的折射率,n2代表對應非金屬材料的折射率,θ1代表入射角度,θ2代表在對應非金屬材料中的折射角;
所述在線檢測裝置還包括消偏裝置,所述消偏裝置用于將所述光源裝置發(fā)出的入射光轉(zhuǎn)化為非偏振光后照射到待測樣品上;
所述光源裝置發(fā)出的入射光與待測樣的入射角可調(diào)節(jié), 所述入射角角度范圍控制在30°~50°或85°~90°范圍內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁控基膜的色相在線檢測裝置,其特征在于,所述光源裝置為短弧氙燈。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁控基膜的色相在線檢測裝置,其特征在于,所述檢測系統(tǒng)還包括移動裝置和人工窗口,所述移動裝置用于移動所述檢測系統(tǒng)使其偏離待測樣的反射光方向,所述人工窗口用于人眼直接觀察待測樣反射光的色相。
4.根據(jù)權(quán)利要求1~3任一所述的一種磁控基膜的色相在線檢測裝置的檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟S1:將色相在線檢測裝置搭建在鍍膜滾筒及收膜卷之間,使所述光源裝置發(fā)出的光源朝向磁控基膜的金屬面;
步驟S2:打開所述光源裝置,調(diào)節(jié)入射光與待測樣的入射角度;
步驟S3:移動所述檢測系統(tǒng),使其位于待測樣發(fā)出的反射光的方向,獲取其色度值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種磁控基膜的色相在線檢測裝置的檢測方法,其特征在于,所述檢測系統(tǒng)設有人工窗口,步驟S3中移動所述檢測系統(tǒng),使其偏離待測樣發(fā)出的反射光的方向,采用所述人工窗口直接觀察待測樣反射光的色相。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種磁控基膜的色相在線檢測裝置的檢測方法,其特征在于,通過獲取的色度值計算色差值△E,其中,△E≤3 .0的待測樣為合格產(chǎn)品,否則為不合格產(chǎn)品。
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