[發(fā)明專利]使用單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜(SP-ICP-MS)自動檢測納米顆粒

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911023526.0
• 申請日: 2019-10-25
• 公開（公告）號: CN111105979A
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 板垣隆之;S·威爾伯;山中理子
• 申請（專利權(quán)）人: 安捷倫科技有限公司
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/02;G01N27/62
• 代理公司: 北京坤瑞律師事務(wù)所 11494
• 代理人: 羅天樂

1.一種用于通過單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜(spICP-MS)分析樣品中納米顆粒的方法，所述方法包括：

在ICP-MS系統(tǒng)中處理所述樣品以獲取原始樣品數(shù)據(jù)，所述原始樣品數(shù)據(jù)對應(yīng)于通過所述ICP-MS系統(tǒng)的離子檢測器測量的隨時間變化的離子信號強度；

確定所述原始樣品數(shù)據(jù)的信號分布，所述信號分布對應(yīng)于多個數(shù)據(jù)點，每個數(shù)據(jù)點對應(yīng)于離子信號強度和所述離子檢測器測量所述離子信號強度時的頻率；并且

確定所述信號分布的離子信號部分與所述信號分布的顆粒信號部分的交點作為顆粒檢測閾，

其中所述顆粒信號部分對應(yīng)于所述樣品中納米顆粒的測量值，所述離子信號部分對應(yīng)于所述樣品中除納米顆粒之外的組分的測量值，并且所述顆粒檢測閾將所述顆粒信號部分與所述離子信號部分分開。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中確定所述顆粒檢測閾包括評價所述離子信號部分的特征。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中評價所述離子信號部分的特征包括將所述離子信號部分近似估計為指數(shù)函數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中確定顆粒檢測閾包括：

基于其中所述信號分布的數(shù)據(jù)點作為輸入的指數(shù)函數(shù)，計算近似估計所述離子信號部分的多個近似曲線；

計算在所述近似曲線內(nèi)的數(shù)據(jù)點的決定系數(shù)；

確定所述決定系數(shù)中的哪個是最大相關(guān)性；并且

將對應(yīng)于所述最大相關(guān)性的數(shù)據(jù)點確定為顆粒檢測閾。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其包括在確定顆粒檢測閾之后，基于所述顆粒信號部分確定納米顆粒數(shù)據(jù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中確定納米顆粒數(shù)據(jù)選自：確定質(zhì)譜；

確定顆粒數(shù)量濃度；確定元素組成；確定顆粒尺寸；確定顆粒尺寸分布；

以及前述項中兩個或更多個的組合。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中處理所述樣品包括通過將所述樣品暴露于電感耦合等離子體中來產(chǎn)生離子，并且將所述離子中的至少一些傳輸?shù)劫|(zhì)量分析器中，并且將所述離子中的至少一些從所述質(zhì)量分析器傳輸?shù)剿鲭x子檢測器。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中處理所述樣品包括在炬箱中生成所述電感耦合等離子體，將所述離子從所述炬箱傳輸?shù)脚鲎?反應(yīng)池中以抑制干擾，并且將所述離子中的至少一些從所述碰撞/反應(yīng)池傳輸?shù)剿鲑|(zhì)量分析器中。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中處理所述樣品包括使所述樣品從霧化器或噴霧室流入離子源。

10.一種用于通過單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜(spICP-MS)分析樣品中納米顆粒的電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)系統(tǒng)，所述ICP-MS系統(tǒng)包括：炬箱，所述炬箱被配置用于生成等離子體并且在所述等離子體中從所述樣品產(chǎn)生離子；

質(zhì)量分析器，所述質(zhì)量分析器被配置用于根據(jù)質(zhì)荷比分離所述離子；

離子檢測器，所述離子檢測器被配置用于對從所述質(zhì)量分析器接收的離子進行計數(shù)；和

控制器，所述控制器包括電子處理器和存儲器并且被配置用于控制根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法的步驟。