[發明專利]評估偽距測量偏差對衛星TGD參數解算精度影響的方法

在審

• 申請號: 201911022308.5
• 申請日: 2019-10-25
• 公開（公告）號: CN110865401A
• 公開（公告）日: 2020-03-06
• 發明（設計）人: 吳競;徐亮;胥婕
• 申請（專利權）人: 上海市計量測試技術研究院
• 主分類號: G01S19/42
• 分類號: G01S19/42;G01S19/41;G01S19/23
• 代理公司: 北京華智則銘知識產權代理有限公司 11573
• 代理人: 孟杰

1.一種評估偽距測量偏差對衛星TGD參數解算精度影響的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一：分別使用第一測站和第二測站的并置接收機對北斗衛星進行零基線觀測，獲取觀測數據；

步驟二：利用所述觀測數據，通過先星間差分后站間差分的方式，求得所有北斗衛星B1、B2、B3頻點相對偽距測量偏差；

步驟三：繼續利用所述并置接收機進行觀測，得到所有衛星和所使用接收機在不進行偽距測量偏差改正情形下的硬件時間延遲；

步驟四：利用步驟二計算得到的偽距測量偏差對偽距觀測量進行修正，按照步驟三的策略，利用修正后的偽距，精密電離層格網信息并添加硬件時間延遲之和為零的約束條件，對硬件時間延遲進行解算；

步驟五：以MGEX提供的衛星硬件時間延遲產品作為基準，分別評估進行偽距測量偏差改正和不進行偽距測量偏差改正，衛星硬件時間延遲的精度，進而分析偽距測量偏差對硬件時間延遲改正的影響。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟三具體為：

繼續利用所述并置接收機進行觀測，獲取北斗衛星B1頻點、B2頻點、B3頻點的觀測數據，分別將各衛星B1頻點和B2頻點的偽距觀測量與B3頻點的偽距觀測量做差得到偽距差，再利用電離層精密格網信息，內插得到測站天頂的電離層延遲量，利用偽距差和電離層延遲量再添加衛星硬件時間延遲之和為零的約束條件，便可求解得到所有衛星和所使用接收機在不進行偽距測量偏差改正情形下的硬件時間延遲。