[發(fā)明專利]一種探測(cè)弧面板逐層分布式探測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911021527.1
• 申請(qǐng)日: 2019-10-25
• 公開（公告）號(hào): CN110672071B
• 公開（公告）日: 2021-05-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 安慶;柳立生;歐陽玉華;王金玲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武昌理工學(xué)院
• 主分類號(hào): G01C11/00
• 分類號(hào): G01C11/00
• 代理公司: 北京勁創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11589
• 代理人: 王志敏

本發(fā)明提供一種探測(cè)弧面板逐層分布式探測(cè)方法，涉及探測(cè)測(cè)繪技術(shù)領(lǐng)域，包括以下步驟S1：獲取至少一個(gè)半球型探測(cè)弧面板，保證所有半球型探測(cè)弧面板的半徑值呈等差數(shù)列排列；S2：在所有半球型探測(cè)弧面板的內(nèi)側(cè)面放置探測(cè)單元；S3：對(duì)半球型探測(cè)弧面板依次進(jìn)行編號(hào)；S4：將所有半球型探測(cè)弧面板的底端中心點(diǎn)重疊放置至轉(zhuǎn)向板上；S5：調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)向板，對(duì)準(zhǔn)探測(cè)目標(biāo)；S6：獲取每一個(gè)半球型探測(cè)弧面板的探測(cè)數(shù)據(jù)差值，分析得到探測(cè)結(jié)果。本發(fā)明一種探測(cè)弧面板逐層分布式探測(cè)方法，調(diào)節(jié)方便，通過逐層弧面板相互遮蔽，相鄰兩片遮蔽區(qū)域差值相同，消除干擾值，對(duì)準(zhǔn)探測(cè)目標(biāo)獲取探測(cè)目標(biāo)信息，探測(cè)精確度高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及探測(cè)測(cè)繪技術(shù)領(lǐng)域，

尤其是，本發(fā)明涉及一種探測(cè)弧面板逐層分布式探測(cè)方法。

背景技術(shù)

隨著遙感測(cè)繪技術(shù)發(fā)展，高空間分辨率遙感影像成為精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)、目標(biāo)識(shí)別、災(zāi)害評(píng)估、變化監(jiān)測(cè)等應(yīng)用的主要數(shù)據(jù)源。實(shí)際應(yīng)用中，需要將采集到的高速實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)，如高分辨率圖像數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)地記錄下來以便事后處理。

但是遠(yuǎn)距離的圖像測(cè)繪時(shí)往往一個(gè)探測(cè)裝置一次測(cè)量得到的結(jié)果會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)誤差大的情況發(fā)生，往往會(huì)使用多個(gè)探測(cè)裝置進(jìn)行同時(shí)探測(cè)，或者一個(gè)探測(cè)裝置多次調(diào)整位置獲取多次測(cè)量的結(jié)果，然后將多次測(cè)量的數(shù)據(jù)進(jìn)行整合分析，保證得出準(zhǔn)確的目標(biāo)物測(cè)繪數(shù)據(jù)。

但是在遠(yuǎn)距離的測(cè)繪工作上，探測(cè)頭輕微調(diào)節(jié)很小的距離，就可能探測(cè)角度偏差較大甚至丟失目標(biāo)，為了保證探測(cè)的精確度，探測(cè)頭需要實(shí)時(shí)的調(diào)節(jié)對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)，且調(diào)節(jié)十分微小，調(diào)節(jié)距離一般僅僅為0.01mm至5cm，調(diào)節(jié)精度要求高，同時(shí)可以準(zhǔn)確探測(cè)目標(biāo)信息，可以通過部分遮蔽法進(jìn)行逐層探測(cè)，準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)，獲取目標(biāo)測(cè)繪信息。

所以，如何設(shè)計(jì)一種合理的探測(cè)弧面板逐層分布式探測(cè)方法，成為我們當(dāng)前急需要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種調(diào)節(jié)方便，通過逐層弧面板相互遮蔽，相鄰兩片遮蔽區(qū)域差值相同，消除干擾值，對(duì)準(zhǔn)探測(cè)目標(biāo)獲取探測(cè)目標(biāo)信息，探測(cè)精確度高的探測(cè)弧面板逐層分布式探測(cè)方法。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)的：

一種探測(cè)弧面板逐層分布式探測(cè)方法，該方法包括以下步驟：

S1：獲取至少一個(gè)半球型探測(cè)弧面板，保證所有半球型探測(cè)弧面板的半徑值呈等差數(shù)列排列；

S2：在所有半球型探測(cè)弧面板的內(nèi)側(cè)面放置探測(cè)單元；

S3：對(duì)半球型探測(cè)弧面板依次進(jìn)行編號(hào)；

S4：將所有半球型探測(cè)弧面板的底端中心點(diǎn)重疊放置至轉(zhuǎn)向板上；

S5：調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)向板，對(duì)準(zhǔn)探測(cè)目標(biāo)；

S6：獲取每一個(gè)半球型探測(cè)弧面板的探測(cè)數(shù)據(jù)差值，分析得到探測(cè)結(jié)果。

作為本發(fā)明的優(yōu)選，執(zhí)行步驟S1時(shí)，半球型探測(cè)弧面板的數(shù)量至少為3個(gè)。

作為本發(fā)明的優(yōu)選，執(zhí)行步驟S1時(shí)，所有半球型探測(cè)弧面板的展開角度相同。

作為本發(fā)明的優(yōu)選，執(zhí)行步驟S2時(shí)，探測(cè)單元表面與半球型探測(cè)弧面板的內(nèi)側(cè)面平行設(shè)置。

作為本發(fā)明的優(yōu)選，執(zhí)行步驟S3時(shí)，按照半徑從小至大對(duì)半球型探測(cè)弧面板依次進(jìn)行編號(hào)。

作為本發(fā)明的優(yōu)選，執(zhí)行步驟S4時(shí)，將所有半球型探測(cè)弧面板的底端中心點(diǎn)重疊放置至轉(zhuǎn)向板上之后，所有半球型探測(cè)弧面板的球心設(shè)置于同一直線上。

作為本發(fā)明的優(yōu)選，執(zhí)行步驟S5時(shí)，轉(zhuǎn)向板后端設(shè)置有萬向軸。

作為本發(fā)明的優(yōu)選，執(zhí)行步驟S6包括：