[發(fā)明專利]一種探測弧面板逐層分布式探測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911021527.1 | 申請日： | 2019-10-25 |
| 公開（公告）號： | CN110672071B | 公開（公告）日： | 2021-05-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 安慶;柳立生;歐陽玉華;王金玲 | 申請（專利權(quán)）人： | 武昌理工學(xué)院 |
| 主分類號： | G01C11/00 | 分類號： | G01C11/00 |
| 代理公司： | 北京勁創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11589 | 代理人： | 王志敏 |
| 地址： | 430223 湖北省武*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 探測 面板 分布式 方法 | ||
1.一種探測弧面板逐層分布式探測方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1：獲取至少一個半球型探測弧面板，保證所有半球型探測弧面板的半徑值呈等差數(shù)列排列；
S2：在所有半球型探測弧面板的內(nèi)側(cè)面放置探測單元；
S3：對半球型探測弧面板依次進行編號；
S4：將所有半球型探測弧面板的底端中心點重疊放置至轉(zhuǎn)向板上；
S5：調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)向板，對準探測目標；
S6：通過提取所有半球型探測弧面板的探測單元探測數(shù)據(jù)繪制的波形圖的頻率和波幅，當判斷所有半球型探測弧面板的探測數(shù)據(jù)頻率一致以及波幅呈等差數(shù)列排列的情況下，取出除最小半徑的半球型探測弧面板和最大半徑的半球型探測弧面板以外的其他半球型探測弧面板進行探測數(shù)據(jù)測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探測弧面板逐層分布式探測方法，其特征在于：
執(zhí)行步驟S1時，半球型探測弧面板的數(shù)量至少為3個。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探測弧面板逐層分布式探測方法，其特征在于：
執(zhí)行步驟S1時，所有半球型探測弧面板的展開角度相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探測弧面板逐層分布式探測方法，其特征在于：
執(zhí)行步驟S2時，探測單元表面與半球型探測弧面板的內(nèi)側(cè)面平行設(shè)置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探測弧面板逐層分布式探測方法，其特征在于：
執(zhí)行步驟S3時，按照半徑從小至大對半球型探測弧面板依次進行編號。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探測弧面板逐層分布式探測方法，其特征在于：
執(zhí)行步驟S4時，將所有半球型探測弧面板的底端中心點重疊放置至轉(zhuǎn)向板上之后，所有半球型探測弧面板的球心設(shè)置于同一直線上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探測弧面板逐層分布式探測方法，其特征在于：
執(zhí)行步驟S5時，轉(zhuǎn)向板后端設(shè)置有萬向軸。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探測弧面板逐層分布式探測方法，其特征在于：
執(zhí)行步驟S6包括：
S61：獲取所有半球型探測弧面板的探測單元探測數(shù)據(jù)繪制的波形圖，提取頻率和波幅；
S62：判斷所有半球型探測弧面板的探測數(shù)據(jù)頻率是否一致，若一致則繼續(xù)執(zhí)行步驟S63；反之則重復(fù)執(zhí)行步驟S61；
S63：判斷所有半球型探測弧面板的探測數(shù)據(jù)波幅是否呈等差數(shù)列排列，若是，則已經(jīng)對準目標物，并執(zhí)行步驟S64；反之則重復(fù)執(zhí)行步驟S5；
S64：取出除最小半徑的半球型探測弧面板和最大半徑的半球型探測弧面板以外的其他半球型探測弧面板，進行探測數(shù)據(jù)測量。
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